本发明专利技术公开了一种芯片自动测试机，包括：测试机台，所述测试机台上阵列设置有若干测试机构，所述测试机构包括测试工装、测试加热组件、测试移动组件；上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置测试芯片的料盘；扫码旋转机构，所述扫码旋转机构包括扫码组件、旋转组件；芯片移载机构，所述芯片移载机构设置于各个机构上方位置，用于在各个机构间取放测试芯片。本发明专利技术提高了整体稳定性，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点。下料、测试的优点。下料、测试的优点。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片自动测试机
[0001]本专利技术涉及测试设备
，尤其涉及了一种芯片自动测试机。
技术介绍
[0002]功能测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生性能的情况进行相应条件加强实验的过程。
[0003]一般来说，电子器件，无论是原件、部件、零件、整机等都需要进行测试。测试由生产厂家或一流的电子电器检测技术公司来完成，其通过测试发现产品存在的问题并且及时修改，让到达消费者手中产品的问题尽量少或提高产品可靠性。
[0004]传统的芯片测试主要由人工将单一芯片放到测试设备进行测试，并由人眼观察测试芯片并对应记录测试结果，测试完成后再人工将测试芯片分类、摆盘等，生产效率低下，无法满足大规模高效生产的需求。
[0005]现有技术中的测试设备存在如下缺陷：(1)机械手上的吸嘴通过机械手上的吸嘴气缸控制吸嘴做升降运动，吸附稳定性差；(2)需要人工进行逐个对料盘内的芯片进行扫码，并将读取到的信息作为分料的依据，过程消耗时间，降低测试效率，现有将芯片转移至扫码工位处，不同规格的芯片具有不同大小以及位置的二维码或条形码，而且料盘上芯片的方向也可能与测试方向、扫码方向不同，扫码工位上的扫码机容易造成读取失效；(3)机械手的移动模组采用丝杠、同步带和齿轮齿条驱动，结构复杂，定位精度低；(4)测试模组在对芯片进行下压测试时，左右两边的升降气缸的同步性差，测试时下压头与芯片硬性触碰，容易造成芯片移位或者损坏。
技术实现思路
[0006]针对现有技术存在的不足，本专利技术的目的就在于提供了一种芯片自动测试机，提高了整体稳定性，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是这样的：一种芯片自动测试机，包括：
[0008]测试机台，所述测试机台上阵列设置有若干测试机构，所述测试机构包括测试工装、测试加热组件、测试移动组件，所述测试工装用于装载测试芯片，所述测试加热组件设置于测试工装的上方位置，所述测试移动组件驱动测试加热组件下压加热测试工装上的测试芯片；
[0009]上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置测试芯片的料盘；
[0010]扫码旋转机构，所述扫码旋转机构包括扫码组件、旋转组件，所述扫码组件用于对测试芯片扫码，所述旋转组件用于调整测试芯片的方向；
[0011]芯片移载机构，所述芯片移载机构设置于各个机构上方位置，用于在各个机构间取放测试芯片；
[0012]所述芯片移载机构从上下料机构处取料放入至旋转组件内，所述扫码组件对测试芯片扫码，扫码结束所述芯片移载机构从旋转组件内取出测试芯片放入至测试机构内进行测试，测试结束所述芯片移载机构从测试工装内取出测试芯片放入至上下料机构处进行下料分料。
[0013]作为一种优选方案，所述测试工装包括测试底板、测试板，所述测试板设置于测试底板上，所述测试板上开设有若干个放置测试芯片的测试槽，所述测试槽的底部内设置有测试探针。
[0014]作为一种优选方案，所述测试加热组件包括由上至下依次设置的加热安装板、隔热板、加热板体，加热板体内设置有加热棒，所述加热板体的底部通过浮动弹簧连接有浮动压块，所述浮动压块位于测试槽的上方位置。
[0015]作为一种优选方案，所述测试移动组件包括测试安装架、测试升降气缸、测试水平气缸，所述测试水平气缸设置于测试安装架上，所述测试水平气缸的推杆连接有水平移动板，所述测试安装架上设置有测试水平滑轨，所述水平移动板通过测试水平滑块设置于测试水平滑轨上，所述测试升降气缸设置于水平移动板上，所述测试升降气缸的推杆连接有升降传动臂，所述升降传动臂上开设有升降轨迹孔，所述升降传动臂连接有升降移动板，所述升降移动板上设置有升降导位柱，所述升降导位柱设置于升降轨迹孔内，所述水平移动板上设置有测试升降滑轨，所述升降移动板通过测试升降滑块设置于测试升降滑轨上，所述加热安装板设置于升降移动板上。
[0016]作为一种优选方案，所述上下料机构包括至少一个上下料组件，所述上下料组件包括上下料料框、上下料丝杆、上下料螺母、上下料电机，所述上下料电机设置于上下料料框的下方位置，所述上下料电机通过上下料皮带与上下料螺母传动连接，所述上下料丝杆套设于上下料螺母内，且上下料丝杆的上部从上下料料框的底部贯穿设置于上下料料框内。
[0017]作为一种优选方案，所述上下料组件处设置有移料盘组件，所述移料盘组件包括同步带直线模组、移料升降气缸、移料夹爪，所述同步带直线模组驱动移料夹爪在至少两个上下料组件间运动，所述移料升降气缸驱动移料夹爪在上下料组件上做升降运动，所述移料夹爪用于上下料组件处夹取料盘。
[0018]作为一种优选方案，所述扫码组件包括扫码水平滑台、扫码安装座、扫码器，所述扫码安装座设置于扫码水平滑台上，所述扫码器通过扫码调节轴设置于扫码安装座上。
[0019]作为一种优选方案，所述旋转组件包括旋转驱动组件、旋转夹爪，所述旋转驱动组件驱动旋转夹爪做旋转运动，所述旋转夹爪处设置有旋转传感器，所述扫码器对旋转夹爪上的测试芯片进行扫码。
[0020]作为一种优选方案，所述芯片移载机构包括至少两组上下料吸嘴组件、吸嘴间距调节组件、上下料运动组件，上下料吸嘴组件设置于吸嘴间距调节组件上，吸嘴间距调节组件设置于上下料运动组件上，所述上下料运动组件在X向、Y向、Z向上驱动上下料吸嘴组件运动；所述上下料吸嘴组件包括吸嘴安装件、吸嘴升降滑台、吸嘴，所述吸嘴安装件设置于吸嘴间距调节组件上，所述吸嘴升降滑台设置于吸嘴安装件上，所述吸嘴升降滑台上设置有吸嘴套筒，所述吸嘴套筒内通过限位轴设置有吸嘴套杆，所述吸嘴套杆外套设有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧位于吸嘴套杆与吸嘴套筒之间，所述吸嘴套杆沿吸嘴套筒外延伸与吸嘴
相连接。
[0021]作为一种优选方案，所述上下料运动组件包括X向直线电机模组、第一Y向直线电机模组、第二Y向直线电机模组、Z向直线电机模组，所述X向直线电机模组的一端设置于第一Y向直线电机模组上，所述X向直线电机模组的另一端设置于第二Y向直线电机模组上，所述Z向直线电机模组设置于X向直线电机模组上，所述吸嘴间距调节组件设置于Z向直线电机模组上。
[0022]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：
[0023](1)通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点；
[0024](2)上下料吸嘴组件在水平方向实现间距的增大或缩小调整，适应性强，实现若干芯片的同时上料或下料，极大提升上下料效率，上下料吸嘴组件又设置单独的吸嘴升降滑台，可以单独对测试芯片进行上料或下料，吸附稳定性好，并设置有缓冲弹簧，减轻对测试芯片的损坏；
[0025](3)通过扫码组件对若干测试芯片进行同时扫码，通过旋转模组调整测试芯片的测试方向、扫码方向，耗时短，效率高；
[0026](4)芯片移载机构在X向、Y向本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片自动测试机，其特征在于，包括：测试机台，所述测试机台上阵列设置有若干测试机构，所述测试机构包括测试工装、测试加热组件、测试移动组件，所述测试工装用于装载测试芯片，所述测试加热组件设置于测试工装的上方位置，所述测试移动组件驱动测试加热组件下压加热测试工装上的测试芯片；上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置测试芯片的料盘；扫码旋转机构，所述扫码旋转机构包括扫码组件、旋转组件，所述扫码组件用于对测试芯片扫码，所述旋转组件用于调整测试芯片的方向；芯片移载机构，所述芯片移载机构设置于各个机构上方位置，用于在各个机构间取放测试芯片；所述芯片移载机构从上下料机构处取料放入至旋转组件内，所述扫码组件对测试芯片扫码，扫码结束所述芯片移载机构从旋转组件内取出测试芯片放入至测试机构内进行测试，测试结束所述芯片移载机构从测试工装内取出测试芯片放入至上下料机构处进行下料分料。2.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试机，其特征在于：所述测试工装包括测试底板、测试板，所述测试板设置于测试底板上，所述测试板上开设有若干个放置测试芯片的测试槽，所述测试槽的底部内设置有测试探针。3.根据权利要求2所述的一种芯片自动测试机，其特征在于：所述测试加热组件包括由上至下依次设置的加热安装板、隔热板、加热板体，加热板体内设置有加热棒，所述加热板体的底部通过浮动弹簧连接有浮动压块，所述浮动压块位于测试槽的上方位置。4.根据权利要求3所述的一种芯片自动测试机，其特征在于：所述测试移动组件包括测试安装架、测试升降气缸、测试水平气缸，所述测试水平气缸设置于测试安装架上，所述测试水平气缸的推杆连接有水平移动板，所述测试安装架上设置有测试水平滑轨，所述水平移动板通过测试水平滑块设置于测试水平滑轨上，所述测试升降气缸设置于水平移动板上，所述测试升降气缸的推杆连接有升降传动臂，所述升降传动臂上开设有升降轨迹孔，所述升降传动臂连接有升降移动板，所述升降移动板上设置有升降导位柱，所述升降导位柱设置于升降轨迹孔内，所述水平移动板上设置有测试升降滑轨，所述升降移动板通过测试升降滑块设置于测试升降滑轨上，所述加热安装板设置于升降移动板上。5.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试机，其特征在于：所述上下料机构包括至少一个上下料组件，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：何润，吴森锋，刘威，何志伟，
申请(专利权)人：苏州乾鸣半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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