【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试装置的，尤其是涉及一种测试机。
技术介绍
1、ic芯片(integrated circuit chip)是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片。因为对于ic芯片的使用要求较高，所以在芯片出厂前需要对芯片进行老化测试，确保芯片不仅可以在正常条件下使用，也可以在环境恶劣的时候使用(如高温情况)，在芯片使用一段时间后，需要进行相应的老化测试，以确保芯片的正常使用。
2、对于老化测试用设备而言，经常需要对设备的测试单元进行检修和清洁，以保证测试结果的稳定性。而ic测试中的核心测试单元往往尺寸较小，这就导致测试单元的设备空间整体较小，不方便操作人员进行检修测试，大大增加了测试时间，影响生产效率。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本技术的目的是提供一种测试机，其具有便于检修的优点。
2、本技术的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：
3、一种测试机，包括内部中空的机架，所述机架内滑动设置有...
【技术保护点】
1.一种测试机，包括内部中空的机架(1)，其特征在于：所述机架(1)内滑动设置有测试单元(2)，所述机架(1)内设置有用于定位测试单元(2)的定位组件(3)。
2.根据权利要求1所述的一种测试机，其特征在于：所述测试单元(2)包括基板(21)、设置在基板(21)上的用于放置芯片的放置台(22)、用于测试芯片的测试座(23)，所述基板(21)上设置有用于带动放置台(22)朝向测试座(23)移动的升降气缸(24)；
3.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述机架(1)上设置有多个限位立柱(52)，所述限位立柱(52)分布在滑动轨(41)两...
【技术特征摘要】
1.一种测试机，包括内部中空的机架(1)，其特征在于：所述机架(1)内滑动设置有测试单元(2)，所述机架(1)内设置有用于定位测试单元(2)的定位组件(3)。
2.根据权利要求1所述的一种测试机，其特征在于：所述测试单元(2)包括基板(21)、设置在基板(21)上的用于放置芯片的放置台(22)、用于测试芯片的测试座(23)，所述基板(21)上设置有用于带动放置台(22)朝向测试座(23)移动的升降气缸(24)；
3.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述机架(1)上设置有多个限位立柱(52)，所述限位立柱(52)分布在滑动轨(41)两侧且邻靠定滑块(51)设置，所述滑动轨(41)两端均设置有限位挡板(412)。
4.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述基板(21)一端连接有拉把(6)，所述拉把(6)沿滑动轨(41)长度方向延伸。
5.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述升降气缸(24)设置在基板(21)背离放置台(22)的一侧面上，所述升降气缸(24)的伸缩杆沿竖直方向设置，所述升降气缸(24)的伸缩杆上连接有升降板(25)，所述升降板(25)平行于放置台(22)，所述升降板(25)与放置台(22)之间连接有多根连接杆(...
【专利技术属性】
技术研发人员：何润，侯德胜，
申请(专利权)人：苏州乾鸣半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。