【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试的领域，尤其是涉及一种三温测试分选设备。
技术介绍
1、为了提高芯片出厂质量，在芯片加工完成后，需要对芯片的性能进行测试，测试完好的芯片再进行包装出厂，测试有问题的进行统一回收处理。
2、现有芯片在出厂前会使用高低温测试设备进行三温测试，三温包括高温、常温和低温，三温测试就是检测芯片在三种状态下是否正常运作。现有测试设备在使用过程中，需要工作人员将料盘内的芯片依次放置到测试单元进行检测，检测完成后，工作人员再将检测好的芯片取出并根据检测结果对芯片进行分类、摆盘。
3、但是现有测试设备在使用过程中存在，人工分拣芯片效率较低，无法满足大规模高效生产的需求。
技术实现思路
1、为了提高芯片三温测试的测试效率，提高芯片的传送效率，本申请提供一种三温测试分选设备。
2、本申请提供的一种三温测试分选设备，采用如下的技术方案：
3、一种三温测试分选设备，包括机体、设置在机体一端的上料装置、下料装置、用于将芯片传送到测试单元的传送装置和设置在上料装置与测试单元之间的中转装置，所述传送装置包括用于传送上料装置上芯片的抓取组件一和用于抓取中转装置上芯片的抓取组件二，所述抓取组件一将上料装置上的芯片抓取到中转装置，所中转装置用于将芯片传送到测试单元范围内，所述抓取组件二用于将中转装置上的芯片抓取到测试单元内。
4、通过采用上述技术方案，上料装置用于放置未进行测试的芯片，下料装置用于放置测试好的芯片，传送装置对芯片进行位置调整，
5、优选的，所述抓取组件一包括沿机体宽度方向进行设置的直线电机一、设置在直线电机一上且沿机体长度方向进行设置的直线电机二和设置在直线电机二上的取料件一，所述机体上设有用于支撑直线电机一的支撑架一；所述机体上还设有用于搬运上料装置与下料装置上料盘的搬运装置，所述搬运装置包括设置在机体上的固定架、设置在固定架上的移动组件和设置在移动组件上的夹盘组件，所述移动组件带动夹盘组件移动，所述夹盘组件用于搬运上料装置或者下料装置上的料盘。
6、通过采用上述技术方案，直线电机一带动直线电机二沿机体宽度方向进行移动，取料件一随着直线电机二进行同步移动，直线电机二带动取料件一沿机体长度方向进行移动，方便取料件一进行取料，支撑架一用于安装直线电机一；搬运装置搬运料盘，固定架用于安装移动组件，移动组件带动夹盘组件移动到料盘上方，夹盘组件夹取料盘，夹取好后，移动组件带动料盘进行位置调整。
7、优选的，所述抓取组件二包括沿机体长度方向两侧进行设置的直线电机三、设置在两组直线电机三之间的直线电机四和设置在直线电机四上的取料件二，所述机体上设有用于支撑直线电机三的支撑架二，所述取料件二用于将中转装置上的芯片抓取到测试单元内。
8、通过采用上述技术方案，直线电机三带动直线电机四沿机体长度方向进行移动，直线电机四带动取料件二沿机体宽度方向进行移动，取料件二抓取中转装置上的芯片，支撑架二用于安装直线电机三。
9、优选的，所述取料件二包括设置在直线电机四上的安装座、设置在安装座上的推动气缸、设置在推动气缸活塞端的控制板和设置在安装座上的若干取料吸嘴，所述安装座沿水平方向设有移动滑轨，所述取料吸嘴上设有位于移动滑轨上的移动块，所述控制板沿竖直方向倾斜设有若干导向槽，所述移动块上设有位于导向槽内的导向块。
10、通过采用上述技术方案，直线电机四带动安装座进行同步移动，推动气缸带动控制板进行上下移动，控制板上下移动时会带动导向槽内的导向块沿导向槽长度方向进行移动，导向块移动时，带动移动块沿移动滑轨长度方向进行移动，方便控制若干取料吸嘴之间的间距，便于根据芯片摆放间距抓取芯片。
11、优选的，所述控制板上开设有位于导向槽两端的定位槽，相邻所述定位槽之间的间距一致。
12、通过采用上述技术方案，相邻导向槽端部的间距一致，便于统一控制取料吸嘴之间的间距，定位槽提高取料吸嘴在导向槽端部节点的稳定性。
13、优选的，所述中转装置包括沿芯片传送路径进行设置的安装架、设置在安装架上的引导组件、设置在安装架进料端的中转盘一、设置在安装架出料端的中转盘二和设置在安装架上的驱动组件，所述中转盘一和中转盘二的顶面均开设有若干用于装载芯片的凹槽，所述驱动组件用于带动中转盘一和中转盘二移动。
14、通过采用上述技术方案，安装架安装引导组件，中转盘一和中转盘二用于装载芯片，驱动组件用于带动中转盘一和中转盘二进行移动，引导组件用于引导中转盘一和中转盘二进行错位移动，提高中转装置的传送效率，凹槽用于装载芯片。
15、优选的，所述引导组件包括设置在安装架长度方向一侧的导向板一和设置在安装架长度方向另一侧的导向板二，所述导向板一沿长度方向开设有条形槽，所述导向板二沿长度方向开设有引导槽，所述驱动组件上设有用于定位中转盘一的定位座一和用于定位中转盘二的定位座二，所述定位座一沿高度方向开设有控制滑轨，所述中转盘一的底面设有位于控制滑轨上的定位滑块，所述定位滑块上设有位于引导槽内的引导块，所述定位座二上设有位于条形槽内的条形块。
16、通过采用上述技术方案，导向板一和导向板二确定中转盘一和中转盘二的移动范围，条形槽和条形块用于提高中转盘二的移动稳定性，确定中转盘二的移动路径，引导块和引导槽用于引导中转盘一进行移动；定位座一用于驱动组件控制中转盘一进行移动，定位座二用于驱动组件控制中转盘二进行移动，定位滑块和控制滑轨便于中转盘一进行上下移动。
17、优选的，所述引导槽包括沿长度方向依次设置的抬升部一、下降部和抬升部二，所述抬升部一与抬升部二的水平高度一致，所述下降部的水平高度比抬升部一的水平高度低，所述下降部的端部向上逐渐延伸至抬升部一或者抬升部二。
18、通过采用上述技术方案，引导槽引导中转盘一进行移动，当中转盘一从抬升部一移动到下降部时，中转盘一顶面的水平高度比中转盘二的底面低，方便中转盘一和中转盘二进行错位传送，提高中转装置的中转量和中转效率。
19、优选的，所述导向板一和导向板二的进料端均设有若干检测传感器。
20、通过采用上述技术方案，检测传感器用于检测中转盘一和中转盘二上的芯片是否摆放好。
21、优选的，所述驱动组件包括设置在安装架进料端的驱动电机、设置在驱动电机输出端的传动轮一、设置在安装架另一端的传动轮二和传动带，所述传动带连接传动轮一和传动轮二，所述传动带包括连接部一和连接部二，所述定位座一位于连接部一靠近传动轮一的一端，所述定位座二位于连接部二靠近传动轮二的一端。
22、通过采用上述技术方案，驱动电机驱动本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种三温测试分选设备，其特征在于：包括机体(1)、设置在机体(1)一端的上料装置(2)、下料装置(3)、用于将芯片传送到测试单元的传送装置(4)和设置在上料装置(2)与测试单元之间的中转装置(5)，所述传送装置(4)包括用于传送上料装置(2)上芯片的抓取组件一(41)和用于抓取中转装置(5)上芯片的抓取组件二(42)，所述抓取组件一(41)将上料装置(2)上的芯片抓取到中转装置(5)，所中转装置(5)用于将芯片传送到测试单元范围内，所述抓取组件二(42)用于将中转装置(5)上的芯片抓取到测试单元内。
2.根据权利要求1所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述抓取组件一(41)包括沿机体(1)宽度方向进行设置的直线电机一(411)、设置在直线电机一(411)上且沿机体(1)长度方向进行设置的直线电机二(412)和设置在直线电机二(412)上的取料件一(413)，所述机体(1)上设有用于支撑直线电机一(411)的支撑架一(6)；所述机体(1)上还设有用于搬运上料装置(2)与下料装置(3)上料盘的搬运装置(7)，所述搬运装置(7)包括设置在机体(1)上的固定架(71
3.根据权利要求1所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述抓取组件二(42)包括沿机体(1)长度方向两侧进行设置的直线电机三(421)、设置在两组直线电机三(421)之间的直线电机四(422)和设置在直线电机四(422)上的取料件二(423)，所述机体(1)上设有用于支撑直线电机三(421)的支撑架二(8)，所述取料件二(423)用于将中转装置(5)上的芯片抓取到测试单元内。
4.根据权利要求3所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述取料件二(423)包括设置在直线电机四(422)上的安装座(4231)、设置在安装座(4231)上的推动气缸(4232)、设置在推动气缸(4232)活塞端的控制板(4233)和设置在安装座(4231)上的若干取料吸嘴(4234)，所述安装座(4231)沿水平方向设有移动滑轨(9)，所述取料吸嘴(4234)上设有位于移动滑轨(9)上的移动块(10)，所述控制板(4233)沿竖直方向倾斜设有若干导向槽(11)，所述移动块(10)上设有位于导向槽(11)内的导向块(12)。
5.根据权利要求4所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述控制板(4233)上开设有位于导向槽(11)两端的定位槽(13)，相邻所述定位槽(13)之间的间距一致。
6.根据权利要求1所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述中转装置(5)包括沿芯片传送路径进行设置的安装架(51)、设置在安装架(51)上的引导组件(52)、设置在安装架(51)进料端的中转盘一(53)、设置在安装架(51)出料端的中转盘二(54)和设置在安装架(51)上的驱动组件(55)，所述中转盘一(53)和中转盘二(54)的顶面均开设有若干用于装载芯片的凹槽(14)，所述驱动组件(55)用于带动中转盘一(53)和中转盘二(54)移动。
7.根据权利要求6所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述引导组件(52)包括设置在安装架(51)长度方向一侧的导向板一(521)和设置在安装架(51)长度方向另一侧的导向板二(522)，所述导向板一(521)沿长度方向开设有条形槽(5211)，所述导向板二(522)沿长度方向开设有引导槽(15)，所述驱动组件(55)上设有用于定位中转盘一(53)的定位座一(16)和用于定位中转盘二(54)的定位座二(17)，所述定位座一(16)沿高度方向开设有控制滑轨(161)，所述中转盘一(53)的底面设有位于控制滑轨(161)内的定位滑块(531)，所述定位滑块(531)上设有位于引导槽(15)内的引导块(5311)，所述定位座二(17)上设有位于条形槽(5211)内的条形块(171)。
8.根据权利要求7所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述引导槽(15)包括沿长度方向依次设置的抬升部一(151)、下降部(152)和抬升部二(153)，所述抬升部一(151)与抬升部二(153)的水平高度一致，所述下降部(152)的水平高度比抬升部一(151)的水平高度低，所述下降部(152)的端部向上逐渐延伸至抬升部一(151)或者抬升部二(153)。
9.根据权利要求7所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述导向板一(521)和导向板二(522)的进料端均设有...
【技术特征摘要】
1.一种三温测试分选设备，其特征在于：包括机体(1)、设置在机体(1)一端的上料装置(2)、下料装置(3)、用于将芯片传送到测试单元的传送装置(4)和设置在上料装置(2)与测试单元之间的中转装置(5)，所述传送装置(4)包括用于传送上料装置(2)上芯片的抓取组件一(41)和用于抓取中转装置(5)上芯片的抓取组件二(42)，所述抓取组件一(41)将上料装置(2)上的芯片抓取到中转装置(5)，所中转装置(5)用于将芯片传送到测试单元范围内，所述抓取组件二(42)用于将中转装置(5)上的芯片抓取到测试单元内。
2.根据权利要求1所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述抓取组件一(41)包括沿机体(1)宽度方向进行设置的直线电机一(411)、设置在直线电机一(411)上且沿机体(1)长度方向进行设置的直线电机二(412)和设置在直线电机二(412)上的取料件一(413)，所述机体(1)上设有用于支撑直线电机一(411)的支撑架一(6)；所述机体(1)上还设有用于搬运上料装置(2)与下料装置(3)上料盘的搬运装置(7)，所述搬运装置(7)包括设置在机体(1)上的固定架(71)、设置在固定架(71)上的移动组件(72)和设置在移动组件(72)上的夹盘组件(73)，所述移动组件(72)带动夹盘组件(73)移动，所述夹盘组件(73)用于搬运上料装置(2)或者下料装置(3)上的料盘。
3.根据权利要求1所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述抓取组件二(42)包括沿机体(1)长度方向两侧进行设置的直线电机三(421)、设置在两组直线电机三(421)之间的直线电机四(422)和设置在直线电机四(422)上的取料件二(423)，所述机体(1)上设有用于支撑直线电机三(421)的支撑架二(8)，所述取料件二(423)用于将中转装置(5)上的芯片抓取到测试单元内。
4.根据权利要求3所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述取料件二(423)包括设置在直线电机四(422)上的安装座(4231)、设置在安装座(4231)上的推动气缸(4232)、设置在推动气缸(4232)活塞端的控制板(4233)和设置在安装座(4231)上的若干取料吸嘴(4234)，所述安装座(4231)沿水平方向设有移动滑轨(9)，所述取料吸嘴(4234)上设有位于移动滑轨(9)上的移动块(10)，所述控制板(4233)沿竖直方向倾斜设有若干导向槽(11)，所述移动块(10)上设有位于导向槽(11)内的导向块(12)。
5.根据权利要求4所述的一种三温测试分选设备，其特征在于：所述控制板(4233)上开设有位于导向槽(11)两端的定位槽(13...
【专利技术属性】
技术研发人员：何润，何志伟，
申请(专利权)人：苏州乾鸣半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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