一种接触式芯片检测设备制造技术

本实用新型专利技术涉及电气设备领域，且公开了新型一种接触式芯片检测设备，包括包括测试仪本体，测试仪本体正面一侧的HDIM接口处固定设有接线固定机构，测试仪本体正面一侧的底部开设有两个USB插槽，测试仪本体的外壁两侧均固定连接有两个连接板，置于测试仪本体外壁两侧的两个连接板之间设有支撑机构，本实用新型专利技术通过在HDMI接口处设置有接线固定机构，其中的弹簧、滑动柱、限位柱使得测试仪本体接口处连接更加稳定，通过将滑动柱向上抬动，从而使得两个滑动柱的一侧分别在容纳槽的内壁滑动，同时对两个弹簧进行拉伸，当使用者将连接线完全插入进接口处时，通过松开滑动柱，从而使得固定柱与限位柱将连接线进行固定，提高连接的稳定性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种接触式芯片检测设备


[0001]本技术涉及电气设备领域，具体为一种接触式芯片检测设备。

技术介绍

[0002]芯片是一种半导体元件集成电路，它也可以称为微电路或者微芯片，通常集成电路封装技术主要分为陶瓷扁平装、双列直插平装、平面网格阵列封装等，其中由于陶瓷扁平装由于其稳定性和尺寸小，在军用中受到较多的使用。
[0003]而现有芯片在使用过程中为了确保芯片正常工作，往往通过芯片测试仪进行检测芯片是否可以工作，但是由于芯片测试仪在军用中往往容易受到周围环境振动影响，从而使得接口处的连接线容易发生松动，从而影响到测试仪的稳定性。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种接触式芯片检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种接触式芯片检测设备，包括测试仪本体，所述测试仪本体正面一侧的HDIM接口处固定设有接线固定机构，所述测试仪本体正面一侧的底部开设有两个USB插槽，所述测试仪本体的外壁两侧均固定连接有两个连接板，置于测试仪本体外壁两侧的两个所述连接板之间设有支撑机构，位于测试仪本体外壁同一侧的每两个所述连接板之间固定设有提拉机构。
[0006]优选的，所述接线固定结构包括两个开设于测试仪本体正面的两个容纳槽，两个所述容纳槽的内壁底端均固定连接有连接杆，两个所述连接杆的一侧固定连接有限位柱，两个所述容纳槽的内壁一侧滑动连接有滑动柱，两个所述滑动柱的一侧固定连接有固定柱。
[0007]优选的，每个所述滑动柱的两侧均固定连接有连接柱，每个所述连接柱的外壁两侧均固定连接有滑块，每两个所述滑块的位置相对应，两个所述滑动柱的底端均固定连接有弹簧，两个所述弹簧底端分别和两个连接杆的顶端固定连接。
[0008]优选的，所述支撑机构包括两个分别与两个连接板转动连接的第一连接轴，两个所述第一连接轴的外壁均铰接设有第一连接杆，两个所述第一连接杆的一侧均穿插连接有第二连接轴，两个所述第二连接轴的外壁均铰接有第二连接杆，两个所述第二连接杆的底端均穿插连接有第三连接轴，两个所述第三连接轴的一端均固定连接有支撑板。
[0009]优选的，所述提拉机构包括四个分别与每个连接板固定连接的第四连接轴，每两个所述第四连接轴的外壁均套设有连接套，每两个所述连接套的底端均连接有把手杆。
[0010]本专利技术的技术效果和优点：
[0011]1、该一种接触式芯片检测设备，通过在HDMI接口处设置有接线固定机构，其中的弹簧、滑动柱、限位柱使得测试仪本体接口处连接更加稳定，通过将滑动柱向上抬动，从而使得两个滑动柱的一侧分别在容纳槽的内壁滑动，同时对两个弹簧进行拉伸，当使用者将
连接线完全插入进接口处时，通过松开滑动柱，从而使得固定柱与限位柱将连接线进行固定，提高连接的稳定性。
[0012]2、该一种接触式芯片检测设备，通过接线固定机构设置的两个滑块与连接柱，使得工作人员在拉动滑动柱时，可以通过滑块在第二滑槽的内壁滑动以及连接柱在第一滑槽内壁的滑动，将滑动柱滑动的轨迹进行限位。
附图说明
[0013]图1为本技术结构示意图；
[0014]图2为本技术滑动柱结构示意图；
[0015]图3为本技术位于图1中A处放大结构示意图。
[0016]图中：1、测试仪本体；2、接线固定机构；3、容纳槽；4、滑动柱；5、连接柱；6、限位柱；7、连接板；8、第一连接轴；9、第一连接杆；10、第二连接杆；11、USB插槽；12、支撑板；13、滑块；14、连接套；15、提拉机构；16、弹簧；17、支撑机构。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0018]请参阅图1
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3，本技术提供了一种接触式芯片检测设备的技术方案：
[0019]根据图1
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2所示，一种接触式芯片检测设备，包括测试仪本体1，测试仪本体1正面一侧的HDIM接口处固定设有接线固定机构2，测试仪本体1正面一侧的底部开设有两个USB插槽11，测试仪本体1的外壁两侧均固定连接有两个连接板7，置于测试仪本体1外壁两侧的两个连接板7之间设有支撑机构17，位于测试仪本体1外壁同一侧的每两个连接板7之间固定设有提拉机构15。
[0020]根据图1
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3所示，接线固定结构2包括两个开设于测试仪本体1正面的两个容纳槽3，两个容纳槽3的内壁底端均固定连接有连接杆，两个连接杆的一侧固定连接有限位柱6，两个容纳槽3的内壁一侧滑动连接有滑动柱4，每两个滑动柱4的一侧固定连接有固定柱，每个滑动柱4的两侧均固定连接有连接柱5，通过安装在接线固定结构2上的滑动柱4，使得工作人员便于在将固定柱进行上下拨动的同时进行垂直运动，每个连接柱5的外壁两侧均固定连接有滑块13，每两个滑块13的位置相对应，两个滑动柱4的底端均固定连接有弹簧16，两个弹簧16底端分别和两个连接杆的顶端固定连接，通过安装在接线固定结构2上的弹簧16，使得使用人员在通过固定柱向上拉动的时，同时对弹簧16进行拉伸，并借助弹簧16的回弹从而使得HDMI接口处的连接线进行固定，支撑机构17包括两个分别与两个连接板7转动连接的第一连接轴8，两个第一连接轴8的外壁均铰接设有第一连接杆9，两个第一连接杆9的一侧均穿插连接有第二连接轴，两个第二连接轴的外壁均铰接有第二连接杆10，两个第二连接杆10的底端均穿插连接有第三连接轴，两个第三连接轴的一端均固定连接有支撑板12，通过支撑机构17上的支撑板12，使得工作人员可将鼠标或者将键盘通过USB插槽11插入后，放置在支撑板12的顶端，方便工作人员进行操作,提拉机构15包括四个分别与每个连接
板7固定连接的第四连接轴，每两个第四连接轴的外壁均套设有连接套14，每两个连接套14的底端均连接有把手杆，通过提拉机构15，使得工作人员便于通过两个把手杆，将测试仪本体1方便进行携带使用。
[0021]在使用时，本技术一种接触式芯片检测设备，使用时，工作人员在使用HDMI接口之前，通过将接线固定机构2中对的固定柱向上拉动，从而使得固定柱带动两个滑动柱4分别在两个容纳槽3中进行滑行，两个滑动柱4滑行的过程中带动两个连接柱5分别在第一滑槽的内壁进行滑动，同时两个滑动柱4向上滑动的同时带动两个弹簧16进行拉伸，则工作人员可进行使用HDMI接口，当工作过人员使用的连接线插入HDMI接口后通过松开固定柱，则两个滑动柱4因受到两个弹簧16的回弹影响，从而使得固定柱与限位柱6对连接线进行固定，从而避免了在野外使用容易受到周围的震动从而造成连接线松动影响测试仪本体1的使用稳定性，通过支撑机构17同时工作人员可将鼠标或者将本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种接触式芯片检测设备，包括测试仪本体(1)，其特征在于，所述测试仪本体(1)正面一侧的HDIM接口处固定设有接线固定机构(2)，所述测试仪本体(1)正面一侧的底部开设有两个USB插槽(11)，所述测试仪本体(1)的外壁两侧均固定连接有两个连接板(7)，置于测试仪本体(1)外壁两侧的两个所述连接板(7)之间设有支撑机构(17)，位于测试仪本体(1)外壁同一侧的每两个所述连接板(7)之间固定设有提拉机构(15)。2.根据权利要求1所述的一种接触式芯片检测设备，其特征在于：所述接线固定机构(2)包括两个开设于测试仪本体(1)正面的两个容纳槽(3)，两个所述容纳槽(3)的内壁底端均固定连接有连接杆，两个所述连接杆的一侧固定连接有限位柱(6)，两个所述容纳槽(3)的内壁一侧滑动连接有滑动柱(4)，每两个所述滑动柱(4)的一侧固定连接有固定柱。3.根据权利要求2所述的一种接触式芯片检测设备，其特征在于：每个所述滑动柱(4)的两侧均固定连接有连接柱(5)...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆青，
申请(专利权)人：深圳市芯都半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：