一种芯片测试用样品盒制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试用样品盒，包括盒体，盒体的顶部通过转轴安装有密封盖方便转动盖住，密封盖的顶部设置有把手方便携带转运，密封盖与盒体之间设置有卡扣装置方便扣住不会脱落，分隔板可以方便将芯片安装是否测试进行分类放置，废品盒用于放置已测试的废弃芯片待集中处理，弹性棉在已测试箱和待测试箱内壁的底部以及设置专有的芯片槽可以防止芯片晃动碰撞造成损伤，已测试箱中设置的多个标签盒可以方便标记不同芯片测试的状态不会混乱，需要将密封盖打开时按压橡胶块使夹板上的卡台从卡槽中离开，相反的需要盖住时卡装到卡槽中即可，从而可以方便将密封盖打开或者扣住。住。住。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试用样品盒


[0001]本技术涉及样品盒
，具体为一种芯片测试用样品盒。

技术介绍

[0002]芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，芯片在测试时，需要使用治具进行辅助测试。在需要将芯片转运到特殊部门测试时需要要到样品盒。
[0003]传统的样品盒只具有摆放放置功能，转运时容易掉落或者碰撞造成芯片受损，需要对芯片样品盒进行封装保护才能使芯片样品完好的转运到试验部门进行测试，而且设置的摆放区域较小没有分类不利于区分。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种芯片测试用样品盒，以解决转运不便区分以及容易造成芯片受损的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试用样品盒，包括：盒体，所述盒体的顶部通过转轴安装有密封盖方便转动盖住，所述密封盖的顶部设置有把手方便携带转运，所述密封盖与盒体之间设置有卡扣装置方便扣住不会脱落。
[0006]优选的，所述盒体中设置有分隔板，所述分隔板的两侧分别设置有已测试箱和待测试箱，分隔板直接设置到密封盖的底部完全分隔，然后通过分开设置的已测试箱和待测试箱，可以方便将芯片安装是否测试进行分类放置，防止芯片较多防止混乱。
[0007]优选的，所述已测试箱和待测试箱的顶部分别安装有废品盒和工具盒，所述废品盒和工具盒的底部均受到档板支撑，档板设置在盒体内壁和分隔板上，可以使废品盒和工具盒被密封盖压紧放置不会晃动，废品盒用于放置已测试且使废弃芯片待集中处理，工具盒用于放置所需要携带的工具。
[0008]优选的，所述已测试箱和待测试箱内壁的底部均设置有弹性棉，所述弹性棉中设置有芯片槽，通过设置弹性棉在已测试箱和待测试箱内壁的底部可以使放置的芯片在盒体受到震动或者碰撞后不会损伤，而且在弹性棉中设置专有的芯片槽可以防止芯片晃动碰撞。
[0009]优选的，所述待测试箱中设置有弹性卡块卡紧，所述已测试箱中设置有多个标签盒，弹性卡块可以卡紧在待测试箱中卡板上的同时弹性压在芯片的顶部防止芯片在盒体中晃动碰撞，而且设置有多层弹性卡块卡可以提供更多的芯片槽放置芯片，已测试箱中设置的多个标签盒可以方便标记不同芯片测试的状态等相关数据方便后分析不会混乱。
[0010]优选的，所述卡扣装置上设置有卡盖固定在密封盖的底部，所述卡盖中设置有通孔，所述通孔中安装有夹板，所述夹板的端部通过弹性头连接，所述夹板上安装有橡胶块，所述夹板之间安装有弹簧，弹性头可以使两个夹板弹性连接，然后通过设置的橡胶块可以
方便按压两个夹板放置到通孔中，同时设置的弹簧可以将夹板弹性的撑到通孔上防止脱落。
[0011]优选的，所述卡扣装置上设置有卡槽在盒体上，所述卡槽中安装有弹性伸缩杆，所述夹板上设置有卡台卡装在卡槽中，夹板端部设置的卡台可以卡装到卡槽中被可以被弹性伸缩杆顶紧防止晃动，需要将密封盖打开时按压橡胶块使夹板上的卡台从卡槽中离开，相反的需要盖住时卡装到卡槽中即可。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]1.本技术分隔板直接设置到密封盖的底部完全分隔，可以方便将芯片安装是否测试进行分类放置，防止芯片较多防止混乱，废品盒用于放置已测试且使废弃芯片待集中处理，工具盒用于放置所需要携带的工具。
[0014]2.本技术通过设置弹性棉在已测试箱和待测试箱内壁的底部以及设置专有的芯片槽可以防止芯片晃动碰撞造成损伤，设置有多层弹性卡块卡可以提供更多的芯片槽放置芯片，已测试箱中设置的多个标签盒可以方便标记不同芯片测试的状态等相关数据方便后分析不会混乱。
[0015]3.本技术需要将密封盖打开时按压橡胶块使夹板上的卡台从卡槽中离开，相反的需要盖住时卡装到卡槽中即可，从而可以方便将密封盖打开或者扣住。
附图说明
[0016]图1为本技术整体结构示意图；
[0017]图2为本技术a处放大图；
[0018]图中：1、盒体；2、转轴；3、密封盖；4、把手；5、卡扣装置；6、卡盖；7、卡槽；8、通孔；9、夹板；10、弹性头；11、橡胶块；12、弹簧；13、卡台；14、弹性伸缩杆；15、档板；16、工具盒；17、待测试箱；18、弹性棉；19、芯片槽；20、弹性卡块；21、分隔板；22、已测试箱；23、废品盒； 24、标签盒。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]实施例1
[0021]请参阅图1，图示中的一种芯片测试用样品盒，包括：盒体1，盒体1的顶部通过转轴2安装有密封盖3方便转动盖住，密封盖3的顶部设置有把手4 方便携带转运，密封盖3与盒体1之间设置有卡扣装置5方便扣住不会脱落。
[0022]为了方便将芯片是否测试区分，盒体1中设置有分隔板21，分隔板21的两侧分别设置有已测试箱22和待测试箱17，分隔板21直接设置到密封盖3 的底部完全分隔，然后通过分开设置的已测试箱22和待测试箱17，可以方便将芯片安装是否测试进行分类放置，防止芯片较多防止混乱。
[0023]同时为了方便携带工具以及存放废弃芯片，已测试箱22和待测试箱17 的顶部分
别安装有废品盒23和工具盒16，废品盒23和工具盒16的底部均受到档板15支撑，档板15设置在盒体1内壁和分隔板21上，可以使废品盒23 和工具盒16被密封盖3压紧放置不会晃动，废品盒23用于放置已测试且使废弃芯片待集中处理，工具盒16用于放置所需要携带的工具。
[0024]本实施方案中，分隔板21直接设置到密封盖3的底部完全分隔，可以方便将芯片安装是否测试进行分类放置，防止芯片较多防止混乱，废品盒23用于放置已测试且使废弃芯片待集中处理，工具盒16用于放置所需要携带的工具。
[0025]实施例2
[0026]请参阅图1，本实施方式对于实施例1进一步说明，图示中一种芯片测试用样品盒，包括：盒体1，盒体1的顶部通过转轴2安装有密封盖3方便转动盖住，密封盖3的顶部设置有把手4方便携带转运，密封盖3与盒体1之间设置有卡扣装置5方便扣住不会脱落。
[0027]为了方便放置芯片，已测试箱22和待测试箱17内壁的底部均设置有弹性棉18，弹性棉18中设置有芯片槽19，通过设置弹性棉18在已测试箱22 和待测试箱17内壁的底部可以使放置的芯片在盒体1受到震动或者碰撞后不会损伤，而且在弹性棉18中设置专有的芯片槽19可以防止芯片晃动碰撞。
[0028]同时为了方便携带更多的芯片，待测试箱17中设置有弹性卡块20卡紧，已测试箱22中设置有多个标签盒本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用样品盒，其特征在于，包括：盒体(1)，所述盒体(1)的顶部通过转轴(2)安装有密封盖(3)方便转动盖住，所述密封盖(3)的顶部设置有把手(4)方便携带转运，所述密封盖(3)与盒体(1)之间设置有卡扣装置(5)方便扣住不会脱落，所述盒体(1)中设置有分隔板(21)，所述分隔板(21)的两侧分别设置有已测试箱(22)和待测试箱(17)，所述卡扣装置(5)上设置有卡盖(6)固定在密封盖(3)的底部，所述卡盖(6)中设置有通孔(8)，所述通孔(8)中安装有夹板(9)，所述夹板(9)的端部通过弹性头(10)连接，所述夹板(9)上安装有橡胶块(11)，所述夹板(9)之间安装有弹簧(12)。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用样品盒，其特征在于：所述已测试箱(22...

【专利技术属性】
技术研发人员：乐斌庆，林高云，
申请(专利权)人：深圳市芯都半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：