一种移动式芯片测试平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种移动式芯片测试平台，包括：平台本体、测试面板及支撑架，所述平台本体上设置有保护槽，所述保护槽内侧滑动连接有测试面板，所述平台本体上对称设置有缓冲槽，所述缓冲槽内侧滑动设置有支撑架。本实用新型专利技术测试面板升降式安装在保护槽内侧，并通过防尘保护板能够对保护槽进行遮盖，在使用过后方便对测试平台进行防尘保护；通过万向轮的设置方便测试平台移动，利用缓冲垫及第一弹簧能够在移动颠簸时给以缓冲，同时定位销插入缓冲槽内侧对支撑架定位能够防止测试平台使用时上下晃动。上下晃动。上下晃动。

【技术实现步骤摘要】
一种移动式芯片测试平台


[0001]本技术涉及芯片测试台
，具体为一种移动式芯片测试平台。

技术介绍

[0002]LED芯片是一种固态的半导体器件，LED的心脏是一个半导体的晶片，晶片的一端附在一个支架上，一端是负极，另一端连接电源的正极，使整个晶片被环氧树脂封装起来，也称为led发光芯片，是led灯的核心组件，在LED芯片出厂前需要在测试台上进行检测。
[0003]芯片测试台的种类有许多，一些芯片测试台可能会闲置一段时间不用，灰尘落到测试台表面仪器上，可能导致其灵敏度受损，导致芯片在测试的时候出现误差；且测试台结构较大不方便移动。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种移动式芯片测试平台，以解决测试台使用后缺乏防尘保护的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种移动式芯片测试平台，包括：平台本体、测试面板及支撑架，所述平台本体上设置有保护槽，所述保护槽内侧滑动连接有测试面板，所述平台本体上对称设置有缓冲槽，所述缓冲槽内侧滑动设置有支撑架。
[0006]优选的，所述平台本体上对称设置有连接块，连接块两端对称转轴连接有防尘保护板，防尘保护板向两侧转动能够增加测试平台的使用面积，防尘保护板向内转动合实，能够对保护槽内测试面板进行防尘保护。
[0007]优选的，所述测试面板上对称设置有顶杆，顶杆的设置在测试面板向上时将防尘保护板顶起。
[0008]优选的，所述平台本体上安装有电动缸，电动缸的伸缩端连接有测试面板，电动缸推动测试面板向上移动，将测试面板上端面抬升至与连接块平齐，然后即可进行测试使用。
[0009]优选的，所述缓冲槽与支撑架之间分别设置有第一弹簧及缓冲垫，装置在移动时通过第一弹簧及缓冲垫的设置能够给以缓冲。
[0010]优选的，所述保护槽内壁对称设置有安装槽，安装槽内侧滑动设置有定位销，定位销与安装槽之间连接有第二弹簧，测试平台使用时，电动缸推动测试面板向上移动，抵接定位销使定位销插入缓冲槽内侧向下抵接支撑架使支撑架紧贴缓冲垫，能够对支撑架定位防止测试平台使用时上下晃动。
[0011]优选的，所述支撑架的下端设置有万向轮，万向轮的设置方便测试平台的移动。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]1.本技术测试面板升降式安装在保护槽内侧，并通过防尘保护板能够对保护槽进行遮盖，在使用过后方便对测试平台进行防尘保护。
[0014]2.本技术测试平台使用时通过防尘保护板搭接平台本体能够增加测试平台使用面积。
[0015]3.本技术通过万向轮的设置方便测试平台移动，利用缓冲垫及第一弹簧能够在移动颠簸时给以缓冲，同时定位销插入缓冲槽内侧对支撑架定位能够防止测试平台使用时上下晃动。
附图说明
[0016]图1为本技术整体结构剖面图；
[0017]图2为本技术整体结构正视图；
[0018]图中：1平台本体、11缓冲槽、12缓冲垫、13第一弹簧、14安装槽、15定位销、16第二弹簧、17保护槽、18连接块、19防尘保护板、2测试面板、21顶杆、3电动缸、4支撑架、41万向轮。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]实施例1
[0021]请参阅图1和图2，图示中的一种移动式芯片测试平台，包括：平台本体1、测试面板2及支撑架3，平台本体1上设置有保护槽17，保护槽17内侧滑动连接有测试面板2，平台本体1上对称设置有缓冲槽11，缓冲槽11内侧滑动设置有支撑架4。
[0022]平台本体1上对称设置有连接块18，连接块18两端对称转轴连接有防尘保护板19，防尘保护板19向两侧转动能够增加测试平台的使用面积，防尘保护板19向内转动合实，能够对保护槽17内测试面板2进行防尘保护。
[0023]测试面板2上对称设置有顶杆21，顶杆21的设置在测试面板2向上时将防尘保护板19顶起。
[0024]平台本体1上安装有电动缸3，电动缸3的伸缩端连接有测试面板2，电动缸3推动测试面板2向上移动，将测试面板2上端面抬升至与连接块18平齐，然后即可进行测试使用。
[0025]本装置使用过后时：电动缸3收缩带动测试面板2沿保护槽17向内移动，将测试面板2收入保护槽17内侧然后，然后将防尘保护板19向内转动合实，能够对保护槽17内测试面板2进行防尘保护。
[0026]实施例2
[0027]请参阅图1，本实施方式对于实施例1进一步说明，图示中一种移动式芯片测试平台，包括：平台本体1、测试面板2及支撑架4，平台本体1上设置有保护槽17，保护槽17内侧滑动连接有测试面板2，平台本体1上对称设置有缓冲槽11，缓冲槽11内侧滑动设置有支撑架4。
[0028]平台本体1上对称设置有连接块18，连接块18两端对称转轴连接有防尘保护板19，防尘保护板19向两侧转动能够增加测试平台的使用面积。
[0029]本实施方案中，在测试平台使用时，电动缸3推动测试面板2向上移动通过顶杆21将防尘保护板19顶起，然后将防尘保护板19向两侧转动并搭接在平台本体1上，通过防尘保
护板19能够增加测试平台的使用面积。
[0030]实施例3
[0031]请参阅图1，本实施方式对于其它实施例进一步说明，图示中一种移动式芯片测试平台，包括：平台本体1、测试面板2及支撑架4，平台本体1上设置有保护槽17，保护槽17内侧滑动连接有测试面板2，平台本体1上对称设置有缓冲槽11，缓冲槽11内侧滑动设置有支撑架4。
[0032]平台本体1上安装有电动缸3，电动缸3的伸缩端连接有测试面板2，电动缸3推动测试面板2向上移动，将测试面板2上端面抬升至与连接块18平齐，然后即可进行测试使用。
[0033]缓冲槽11与支撑架4之间分别设置有第一弹簧13及缓冲垫12，装置在移动时通过第一弹簧13及缓冲垫12的设置能够给以缓冲。
[0034]保护槽17内壁对称设置有安装槽14，安装槽14内侧滑动设置有定位销15，定位销15与安装槽14之间连接有第二弹簧16，测试平台使用时，电动缸3推动测试面板2向上移动，抵接定位销15使定位销15插入缓冲槽11内侧向下抵接支撑架4使支撑架4紧贴缓冲垫12，能够对支撑架4定位防止测试平台使用时上下晃动。
[0035]支撑架4的下端设置有万向轮41，万向轮41的设置方便测试平台的移动。
[0036]本实施方案中，在测试平台移动时，通过万向轮41的设置方便测试平台的移动，且在移动过程中，支撑架4沿缓冲槽11移动通过第一弹簧13及缓冲垫12的设置能够给以缓冲本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种移动式芯片测试平台，其特征在于，包括：平台本体(1)、测试面板(2)及支撑架(4)，所述平台本体(1)上设置有保护槽(17)，所述保护槽(17)内侧滑动连接有测试面板(2)，所述平台本体(1)上对称设置有缓冲槽(11)，所述缓冲槽(11)内侧滑动设置有支撑架(4)。2.根据权利要求1所述的一种移动式芯片测试平台，其特征在于：所述平台本体(1)上对称设置有连接块(18)，连接块(18)两端对称转轴连接有防尘保护板(19)。3.根据权利要求1所述的一种移动式芯片测试平台，其特征在于：所述测试面板(2)上对称设置有顶杆(21)。4.根据权利要求1所述的一种移动式芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒙桂军，
申请(专利权)人：深圳市芯都半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：