一种自动插拔设备制造技术

本申请涉及一种自动插拔设备，其包括自动插拔装置，自动插拔装置包括两个固定部、两个移动机构、两个第三移动部、第一驱动机构和第二驱动机构，两个固定部用于间隔地布置于小背板的两侧，小背板用于与水平布置的老化测试板对接；两个移动机构分别可移动地组设于两个固定部上，两个第三移动部分别可移动地组设于两个移动机构上，第一驱动机构与两个第三移动部相连，并用于驱动第三移动部竖直运动，以与老化测试板连接或分离，第二驱动机构与两个移动机构相连，并用于驱动移动机构运动，以使第三移动部与第一驱动机构在水平方向上发生相对运动，并插拔老化测试板。本申请能够解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。低的问题。低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种自动插拔设备


[0001]本申请涉及半导体集成电路高低温老化测试
，特别涉及一种自动插拔设备。

技术介绍

[0002]半导体存储器有一定的失效概率，其失效概率与使用次数之间的关系符合浴缸曲线的特性，开始使用时存储器的失效概率高，当经过一定使用次数后失效概率大幅降低，直到接近或达到其使用寿命后，存储器的失效概率又会升高。至今无任何存储器制造商敢忽略半导体存储器的失效问题，一般通过老化测试(TestDuringburn
‑
in，TDBI) 来加速存储器失效概率的出现，直接让其进入产品稳定期来解决该问题。
[0003]芯片半导体老化测试的总体方案是向被测芯片半导体供给电源信号和测试信号，在高低温或常温下让被测芯片半导体连续不间断地工作设定的时间，此过程称为老化(burn
‑
in)，由此来加速半导体存储器的失效，筛选出良品。由于芯片半导体的种类很多，应用广泛，量大、性能较高且工作温度范围广，因此需要有一套容量灵活、可扩展性好、宽温度范围、功能丰富、架构可靠性和性价比均高的老化测试系统才能满足实际应用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动插拔设备，其特征在于，其包括自动插拔装置(5)，所述自动插拔装置(5)包括：两个固定部(50)，其用于间隔地布置于小背板(31)的两侧，所述小背板(31)用于与水平布置的老化测试板(3)对接；两个移动机构，其分别可移动地组设于两个所述固定部(50)上；两个第三移动部(53)，其分别可移动地组设于两个所述移动机构上；第一驱动机构(54)，其与两个所述第三移动部(53)相连，并用于驱动所述第三移动部(53)竖直运动，以与老化测试板(3)连接或分离；第二驱动机构(55)，其与两个所述移动机构相连，并用于驱动所述移动机构运动，以使所述第三移动部(53)与第一驱动机构(54)在水平方向上发生相对运动，并插拔老化测试板(3)。2.如权利要求1所述的自动插拔设备，其特征在于，所述移动机构包括：两个第一移动部(51)，其分别可移动地组设于两所述固定部(50)上，所述第一移动部(51)的侧壁上开设有倾斜布置的第一条形孔(510)；两个第二移动部(52)，其分别可移动地组设于两所述固定部(50)上，且所述第二移动部(52)上设有销体，所述销体穿设于其所在侧的第一移动部(51)上的第一条形孔(510)；以及，两个第三移动部(53)分别可移动地组设于两所述第二移动部(52)上，所述第二驱动机构(55)与两所述第一移动部(51)相连，并用于驱动所述第一移动部(51)竖直运动，并在第一条形孔(510)和销体配合下，驱使第二移动部(52)水平运动。3.如权利要求2所述的自动插拔设备，其特征在于：所述销体采用凸轮随动器(520)，或者所述销体上还设有滚轮。4.如权利要求2所述的自动插拔设备，其特征在于：两个第一移动部(51)的顶端均连接在第二连接件(511)上；第二驱动机构(55)设有两个，两个所述第二驱动机构(55)安装在第三连接件(512)上，且所述第二驱动机构(55)的第二伸缩驱动轴(550)竖直向下穿过第三连接件(512)后连接在第二连接件(511)上；在所述第三连接件(512)和第二连接件(511)中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹锐，丁浩，裴敬，邓标华，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：