【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及自动光学检测(AOI)系统，具体地说涉及一种防止过度检测的系统和方法，在检测印制电路板的外部图案时该过度检测使优质产品变成有缺陷的产品。印制电路板(PCB)，其作为制造例如LCD驱动IC和存储器等各种半导体集成电路芯片器件时的重要基底，通常是被制成膜或带的形式。这种膜式或带式PCB包括那些形成得具有卷带自动结合(TAB，tape automatic bonding)薄片和芯片覆膜(chip-on-film，COF)基片的PCB。在PCB上，经由例如曝光、显影等制造工艺从带或基片形成精细图案。因此，确定所印制的图案是正常的还是有缺陷的，对于管理PCB的生产率十分重要。而且，在从光学角度自动检测具有带或膜的PCB的外观时，过度检测认为PCB由于具有杂质或颗粒而因此是有缺陷的，但是按规定来讲这是正常的，所以，在控制自动光学检测系统的可靠性和PCB产品时，过度检测是颇有影响的。
技术介绍
实际上，大多数生产用于半导体集成电路的膜式或带式PCB的制造商，经常遇到各种缺陷带来的麻烦，例如存在于精细图案中的短路、突起和凹陷。因此，在总结产品质量和生产率时，对缺...
【技术保护点】
一种自动光学检测系统，其用于在各具有电路图案和间隔的多个印制电路板上查找电路图案的缺陷，该系统包括：自动光学检测器，其通过光源获得对应于各个印制电路板的图像数据；以及控制器，其从自动光学检测器接收图像数据并参照第一亮度级别从 图像数据确定印制电路板上电路图案的好坏，该第一亮度级别通过以像素为单位的照明系统区分电路图案和间隔，其中，如果印制电路板的电路图案先前已经被第一亮度级别视为具有缺陷，控制器参照对应于真正缺陷的预定图案的第二亮度级别，二次确定该电路图 案具有真正缺陷。
【技术特征摘要】
KR 2004-3-29 2004-21229;KR 2005-3-7 2005-187091.一种自动光学检测系统，其用于在各具有电路图案和间隔的多个印制电路板上查找电路图案的缺陷，该系统包括自动光学检测器，其通过光源获得对应于各个印制电路板的图像数据；以及控制器，其从自动光学检测器接收图像数据并参照第一亮度级别从图像数据确定印制电路板上电路图案的好坏，该第一亮度级别通过以像素为单位的照明系统区分电路图案和间隔，其中，如果印制电路板的电路图案先前已经被第一亮度级别视为具有缺陷，控制器参照对应于真正缺陷的预定图案的第二亮度级别，二次确定该电路图案具有真正缺陷。2.如权利要求1所述的自动光学检测系统，其中，当光源发射透射光时，第二亮度级别低于第一亮度级别，而且，当印制电路板上电路图案的亮度级别介于第一与第二亮度级别之间时，控制器将先前被视为具有缺陷的印制电路板确定为优质产品，该优质产品具有可定为优质产品的杂质。3.如权利要求2所述的自动光学检测系统，其中，如果已被视为具有缺陷的电路图案的亮度级别低于第二亮度级别，则控制器确定该电路图案具有真正缺陷并判定该具有缺陷电路图案的印制电路板为劣质产品。4.如权利要求1所述的自动光学检测系统，其中，当光源发射反射光时，第二亮度级别高于第一亮度级别，而且，当印制电路板上电路图案的亮度级别介于第一与第二亮度级别之间时，控制器将先前被视为具有缺陷的印制电路板确定为优质产品，该优质产品具有可定为优质产品的杂质。5.如权利要求4所述的自动光学检测系统，其中，如果已被视为具有缺陷的电路图案的亮度级别高于第二亮度级别，则控制器确定该电路图案具有真正缺陷并判定该具有缺陷电路图案的印制电路板为劣质产品。6.如权利要求1所述的自动光学检测系统，其中，控制器包括计算机系统以通过计算机网络与自动光学检测器进行图像数据和二次确定信息的通信。7.如权利要求1和6中任一项所述的自动光学检测系统，其中，计算机系统包含直方图分析程序，其从以像素为单位的图像数据提取出亮度级别。8.一种用于在多个印制电路板上查找电路图案缺陷的自动光学检测系统，包括自动光学检测器，其通过光源所产生的透射光获得对应于各个印制电路板的图像数据；以及控制器，其从自动光学检测器接收图像数据，并根据以像素为单位的照明系统、基于第一参考值从图像数据确定印制电路板上电路图案的好坏，其中，对于先前已经被第一参考值视为具有缺陷的印制电路板，控制器根据照明系统上低于第一参考值的第二参考值，二次确定该印制电路板具有真正缺陷。9.如权利要求8所述的自动光学检测系统，其中，如果已被视为具有缺陷的印制电路板上电路图案的亮度级别介于第一与第二参考值之间，控制器确定该有缺陷的电路图案具有可定为优质产品的...
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