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本发明公开一种用于被制成膜式或带式的印制电路板的自动光学检测系统以及方法，该系统及方法能防止检测过程中的过度检测。该自动光学检测系统通过比较图像数据与照明系统的第一参考值来确定电路图案是否有缺陷，该图像数据是从用于印制电路板的透射／反射光获...
该专利属于AJU高技术公司所有，仅供学习研究参考，未经过AJU高技术公司授权不得商用。

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