光学检测系统技术方案

本发明专利技术涉及利用光学方式对检测对象物（印制电路板）的外观进行检测的检测系统。本发明专利技术的光学检测系统，包括：摄像机，对检测对象物的表面进行摄像；至少两个照明，向要由摄像机拍摄的检测对像物的摄像区域照射光；及遮断部件，遮断非垂直光，使得由摄像区域反射而垂直入射到摄像机的垂直光不与从至少两个照明照射的非垂直光冲突。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学检测系统，更具体地说涉及利用光学方式对检测对象物(印制电路板)的外观进行检测的检测系统。
技术介绍
近年来，液晶显示装置的驱动集成电路(LCD Driver IC)、存储器、及LSI等各种半导体集成电路、以及超小型产品等中使用的一种主要材料——印制电路板制造成薄膜、带子等形态。在这种印制电路板中多使用统称为TAB(Tape Automatic Bonding)或COF(Chip On Film)板的电路。薄膜、带子形态的印制电路板通过曝光、显影等制造工序形成图案，但是，这种图案随着半导体器件逐渐超小型化而极微细化，实际上很难通过目视检测图案的缺陷。随之，为了对形成图案的原材即印制电路板及形成在印制电路板上的图案的缺陷等进行准确且迅速的检测，需要引入光学检测系统。一般，光学检测系统利用摄像机、图像传感器等进行光学检测，这时，光学自动检测系统利用各种照明装置，使印制电路板的外观的不合格突出，实施准确的检测，为了准确检测不合格，从多种照明装置中选择某一个照明装置是必须的。但是，使用同轴下射照明的光学检测系统1具有如下的问题。如图1所示，同轴下射照明2具有使从侧面射入的光向检测对象物10侧折射的反射镜3，但是，该反射镜3在使照明2的光向检测对象物10侧折射的过程中产生光的光量损失。并且，摄像装置8(采用透镜的行CCD传感器(LINECCD SENSOR))通过同轴下射照明的反射镜3看到影像，所以由反射镜3产生折射现像而产生焦点偏移的现像。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光学检测系统，从多角度入射的光的成分中，仅将可以通过检测对象物的表面上的特征来较好地突出不合格形状的光的成分由摄像装置接收，检测希望的不合格来提高检测的可靠性。本专利技术的另一目的是提供一种具有能够得到清晰的影像的照明装置的光学检测系统。本专利技术的再一目的是提供一种通过突出检测对象物表面上的不合格形状来提高检测的可靠性的光学检测系统。根据为了实现上述目的的本专利技术的一个特征，对检测对象物的表面进行光学检测的光学检测系统包括摄像机，对检测对象物的表面进行摄像；至少两个照明，向要由上述摄像机拍摄的上述检测对像物的摄像区域照射光；及遮断部件，遮断非垂直光，使得由上述摄像区域反射而垂直入射到上述摄像机的垂直光不与从上述至少两个照明照射的上述非垂直光冲突，并反射一部分非垂直光而转换为垂直成分。在该特征的优选的实施例中，上述至少两个照明包括主照明，被设置成以第一角度向上述检测对象物的摄像区域表面照射光；及辅助照明，被设置成以比上述主照明的第一角度小的倾斜角度照射光。在该特征的优选的实施例中，上述主照明位于比上述辅助照明更靠近上述摄像区域；随着远离上述摄像区域，上述主照明和上述辅助照明的高度依次降低。在该特征的优选的实施例中，上述遮断部件包括设置在上述垂直光通过的路径和上述至少两个照明之间的遮断板；遮断板包括外侧面，该外侧面引导从上述至少两个照明照射的光，以使其照射到上述摄像区域。在该特征的优选的实施例中，上述遮断板包括外侧面，该外侧面引导从上述多个辅助照明照射的光，以使其照射到上述摄像区域；上述遮断板的外侧面由反射面构成。在该特征的优选的实施例中，上述遮断板的外侧面可以倾斜成朝向上述摄像区域。在该特征的优选的实施例中，上述遮断部件还包括铰接部，该铰接部设置在上述遮断板上，以便能够对沿着上述遮断板的外侧面向上述摄像区域引导的光的角度进行调节。在该特征的优选的实施例中，上述遮断部件还包括支承板，该支承板设置在上述遮断板上，并在底面设有上述主照明和上述辅助照明。在该特征的优选的实施例中，上述支承板设置成可旋转，以便能够调节上述主照明和上述辅助照明的照射角度。在该特征的优选的实施例中，上述主照明和多个辅助照明可旋转地设置在上述支承板的底面(可调节照射角度)。在该特征的优选的实施例中，上述主照明的第一角度和上述遮断板的外侧面的倾斜角度优选与上述摄像区域的表面所成的角度为75°至90°。根据用于实现上述目的的本专利技术的另一个特征，对检测对象物的表面进行光学检测的光学检测系统包括摄像机，对检测对象物的表面进行摄像；多个照明，向要由上述摄像机拍摄的上述检测对像物的摄像区域照射光；及遮断部件，提供垂直区域，使得照射到上述检测对象物的摄像区域并反射的光中、仅垂直光入射到上述摄像机。在该特征的优选的实施例中，上述遮断部件包括外廓区域，设有上述多个照明，使上述多个照明的光向上述检测对象物的摄像区域提供；及遮断板，用于分隔上述垂直区域。在该特征的优选的实施例中，上述遮断板包括由反射面构成的外侧面；上述遮断板的外侧面倾斜地形成，以使得从上述多个照明照射的光中的向上述遮断板的外侧面照射的光被引导至上述摄像区域。在该特征的优选的实施例中，上述多个照明包括主照明，位于最靠近上述检测对象物的摄像区域，以第一角度向上述摄像区域照射光；及多个辅助照明，以比上述主照明的第一角度小的倾斜角度向上述摄像区域照射光。附图说明图1是现有的使用同轴下射照明的光学检测系统的概略构成图。图2是本专利技术的光学检测系统的构成图。图3是用于概略地说明本专利技术的光学检测系统中的光路的图。图4是用于说明本专利技术的光学检测系统中的可旋转的遮断板的图。图5是表示本专利技术的光学检测系统具有可旋转的遮断部件的例子的图。图6是表示本专利技术的光学检测系统具有垂直的内侧面的遮断板的例子的图。具体实施例方式下面，根据附图对本专利技术的优选实施例进行详细说明。但是，本专利技术不限于在此说明的实施例，可以具体化为其它方式。在此介绍的实施例仅是为了公开的内容彻底且完整、且向本领域技术人员充分传达本专利技术的思想而提供的。因此，图中的各要件的形状等是为了强调明确的说明而夸张的。根据附图2至图6来详细说明本专利技术的实施例。并且，对于上述图中具有相同的功能的构件标注相同的标记。本专利技术的基本意图在于提供一种光学检测系统，对表面像镜子一样闪亮的检测对象物(统称为COF基板的印制电路基板)的表面上照射均匀的光，可以进行准确且鲜明的摄像。为此，本专利技术的特征在于，具备遮断部件，该遮断部件使向检测对象物的摄像区域照射而被反射的光中的、供给摄像机的垂直光不与其它光冲突。图2是本专利技术的光学检测系统的结构图，图3是用于概略地说明本专利技术的光学检测系统中的光的路径的图。若参照图2及图3，光学检测系统100包括用于对检测对象物10的表面进行摄像的摄像机110及多个照明120及遮断部件130。遮断部件130和多个照明120可以用一个模块来形成。摄像机110配置成从检测对象物10的摄像区域10a上部隔开间隔。在摄像机110的下面一侧配置遮断部件130和多个照明120。在此，摄像机110用于拍摄检测对象物的摄像区域10a的影像，一般可以使用摄像元件(CCD或CMOS)和光学系统(透镜)等，从摄像机110输出的影像信号提供给影像处理装置180。影像处理装置180设置成典型的计算机系统，对通过自动光学检测的各种工作进行控制处理。影像处理装置180利用从摄像机110提供的影像信号判断检测对象物表面有无不合格。遮断部件130用于保护垂直光L1，以便从摄像区域10a反射而垂直入射到摄像机110的垂直光L1不与从多个照明120照射的非垂直光冲突。遮断部件130包括在底面设置多个照明120本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学检测系统，对检测对象物的表面进行光学检测，其特征在于，包括：　　　　摄像机，对检测对象物的表面进行摄像；　　　　至少两个照明，向要由上述摄像机拍摄的上述检测对像物的摄像区域照射光；及　　　　遮断部件，遮断非垂直光，使得由上述摄像区域反射而垂直入射到上述摄像机的垂直光不与从上述至少两个照明照射的上述非垂直光冲突。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：崔铉镐，
申请(专利权)人：AJU高技术公司，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]