具整合体质测试与功能测试的芯片测试装置制造方法及图纸

一种具整合体质测试与功能测试的芯片测试装置，设置有功能与体质测试平台，该功能测试平台设置有可收容芯片模块的复数插槽，并设有测试程序以对芯片模块进行功能测试；而体质测试平台透过复数测试点与功能测试平台的芯片模块呈电性连接，且体质测试平台设有变压装置与电流量测装置，使用时，先利用变压装置接收外部电源并转换为工作电压，再透过电流量测装置对芯片模块或芯片进行电流量测，使用者透过显示装置观察量测装置的电流变化，以判断芯片或芯片模块是否为良品，待判断为良品后可执行功能测试平台的测试程序，以判断待测物的功能正常与否，可让操作过程达到更为方便、快速的目的，并可有效降低测试器具的成本。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种具整合体质测试与功能测试的芯片测试装置，设置有功能测试平台与体质测试平台；其特征是，该功能测试平台设置有可收容芯片模块的复数插槽，且芯片模块设置有复数测试点，并设有可收容预设芯片的复数容置座体，而功能测试平台具有可对芯片模块进行功能测试的测试程序；该体质测试平台设置有可与芯片模块的复数测试点呈电性连接的复数测试点，且体质测试平台设置有可接收预设的外部电源的变压装置，并设有可对芯片模块的电流进行测量的电流量测装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵茂雄，
申请(专利权)人：宏连国际科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]