【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及针对输出多段阶电压的被测试对象，例如液晶驱动装置，进行测试的集成电路测试装置；且还涉及可以缩短测试时间的集成电路测试装置。
技术介绍
集成电路测试装置，是利用将显示数据输出至液晶驱动装置的、且由液晶驱动装置所输出的多段阶电压，进行液晶驱动装置是否良好的判断。这样的装置例如记载于日本特许公开公报第2001-13218号、日本特许公开公报第2001-99899号。以下，利用图3来加以说明。于图3中，被测试对象(以下简称DUTDevice Under Test)1，用例如液晶驱动装置，来输入显示数据(图形数据)，输出梯级、输出引脚信息(output pin information)等的显示数据，并输出多梯级电压。比较器2、3会输入DUT1的输出，并分别对比较电压VH、VL进行比较。在此，比较电压VH为高电平；比较电压VL低电平。判定电路4输入比较器2、3的输出，并与期待值进行比较，而判断出合格、不合格。不合格存储器5则储存判定电路4的判定结果。以下说明前述装置的操作。DUT1从未图标的驱动装置输入图形数据，并将多梯级电压输出至比较器2、3。而且，比较器...
【技术保护点】
一种集成电路测试装置，其对输出多段阶电压的被测试对象进行测试，并包含：Ａ／Ｄ转换器，输入该被测试对象的输出；存储器，储存该Ａ／Ｄ转换器的输出；数字比较器，对该Ａ／Ｄ转换器的输出与比较电压数据进行比较。
【技术特征摘要】
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