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本发明的目的在于实现一种可以缩短测试时间的集成电路测试装置，且改进了对输出多梯级电压的被测试对象进行测试的集成电路测试装置。本装置包含：Ａ／Ｄ转换器（模拟／数字转换器），输入被测试对象的输出；存储器，储存该Ａ／Ｄ转换器。...
该专利属于横河电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过横河电机株式会社授权不得商用。

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