本实用新型专利技术公开了一种电晶体测试模组的压入装置，其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接，活动架一端的枢接部枢设于其它设备处，活动架另一端设有至少一驱动装置，本实用新型专利技术利用活动架的升降动作，以带动电晶体压框平衡升降，方便将数个电晶体一同置入及取出电晶体测试模组中进行测试工作，提高了测试速度，降低了质量管理成本，还可避免长时间作业所造成的手部红肿或伤害。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
电晶体测试模组的压入装置
本技术涉及一种电晶体测试模组的压入装置，特别涉及一种可将数个电晶体同时压入电晶体测试模组中，以进行该电晶体质量测试的压入装置。
技术介绍
请参阅图5所示，为一种习见的电晶体测试模组，其具有一电路板10，于电路板10板面设有数个晶体承座30，于一选定边设有数个讯号接点20即所说的金手指，该晶体承座30是可供电晶体50简易插拔的座体，于其内部并设有讯号接点40及扣持装置与其它构件；藉此，将该电路板10以其讯号接点20插接于一主机板等其它设备，即可于所述的数个晶体承座30中置入电晶体50，以进行该电晶体50的质量测试作业。但是，上述习知的电晶体测试模组，其测试作业必须以人工将电晶体50一一压入该晶体承座30中，因此，反复此种动作之后，往往会造成作业人员手指红肿及磨伤，成为一种职业伤害；不仅如此，其使用人工将电晶体50一一压入于晶体承座30的动作，势必造成每一测试动作前，均耗费相当的前置作业时间，难以提升测试作业的速度，无法有效的降低质量管理成本，诚非合理。
技术实现思路
本技术的目的是要解决习知电晶体测试模组存在的测试动作前，-->耗费相当的前置作业时间，难以提升测试作业速度以及造成作业人员手指红肿及磨伤的问题，而提供一种可克服上述缺点的电晶体测试模组的压入装置。本技术包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接，活动架一端的枢接部枢设于其它设备处，活动架另一端设有至少一驱动装置。所述的活动架可为大于电晶体压框的中空矩形架体，以供电晶体压框枢设于其中。所述的驱动装置可为手动装置或自动装置。本技术利用活动架的升降动作，以带动电晶体压框平衡升降，方便将数个电晶体一同置入及取出电晶体测试模组中进行测试工作，提高了测试速度，降低了质量管理成本。附图说明图1为本技术实施例的立体示意图。图2为本技术实施例的剖视示意图。图3为本技术实施例的局部立体示意图。图4为本技术另一实施例的剖视示意图。图5为习知电晶体测试模组的示意图。-->具体实施方式请参阅图1、图2所示，本技术是可将数个电晶体同时压入电晶体测试模组中，以供电晶体测试模组进行电晶体质量测试的压入装置，其包括有一电晶体压框1、活动架2、一驱动装置3，其中电晶体压框1为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁11，分别设有数个对应习知电晶体测试模组之晶体承座30的的突块12，并令两侧的复数突块12呈相对应状；活动架2为驱动电晶体压框1平衡下压的架体，其可为大于电晶体压框1的中空矩形架体或其它形状的结构，于一端设有一枢接部21；驱动装置3为一种可产生升降动作的装置，其可为手动装置，如图1、图2、图3所示的一种手持压动的四连杆机构组，或自动装置，如图4所示的一种气压缸或其它如油压缸、电磁阀等可产生升降动作的装置。藉此，如图1所示，电晶体压框1以其至少一侧的中间部13与活动架2枢接组装，活动架2一端的枢接部21枢设于一底座4或其它设备处，而活动架2另一端设有驱动装置3，藉此即组成本技术之电晶体测试模组的压入装置。当测试人员利用本技术进行电晶体测试前，操作驱动装置3扳动活动架2产生下降动作，并令电晶体压框1平衡下降，以其两内侧壁11各突块12分别抵压于晶体承座30两端上，如图3所示，并藉此同时下压数个晶体承座30，以可将电晶体50一一置放于习知的电晶体测试模组的晶体承座30中，即可透过电晶体测试模组连接于主机板等设备进行测试，测试完成后，放开活动架2，可使习知晶体承座30内部所设弹性装置释放各电晶体50，即可让作业人员取出各种质量的电晶体50，并准备进行下一次-->的测试作业。综上所述，本技术克服了习知的电晶体测试模组需人工将电晶体50一一压入晶体承座30中的缺点，可避免长时间作业所造成的手部红肿或伤害，且可加速测试程序的前置作业，故能提高测试速度，降低质量管理成本。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电晶体测试模组的压入装置，其特征在于：其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接，活动架一端的枢接部枢设于其它设备处，活动架另一端设有驱动装置。
【技术特征摘要】
1、一种电晶体测试模组的压入装置，其特征在于：其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的...
【专利技术属性】
技术研发人员：资重兴，
申请(专利权)人：资重兴，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]
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