基板检测的测试针体结构改良制造技术

技术编号:2646222 阅读:206 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术是一种基板检测的测试针体结构改良,属于电子类;其整体测试针体装置主要是由一探针座与一伸缩针座所组成,于伸缩针座与探针座的主体上相对应布设有伸缩针组与供放置探针的穿置孔,还包括一主板体,该主板体的上、下方分别套置有上、下盖板;一针体与探针相耦接所组成的伸缩针组;一讯号线,该讯号线直接焊固于弹簧的尾端,以及由讯号线与各伸缩针组相耦接以将讯号传递至测试主机;优点在于:结构简单,制造材料成本低,检测讯号传递准确,检测结果精度高。(*该技术在2014年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
基板检测的测试针体结构改良
本技术涉及电子类,特别涉及一种基板检测的测试针体结构改良。
技术介绍
众所周知,在现代科技迅速发展的前提下,针对电子基板进行检测而研发的基板检测装置,其中,整体检测装置主要是由一探针座以及一伸缩针座所组成,其在探针座与伸缩针座的主体上,相对应布设有若干穿置孔,并于伸缩针座的每一穿置孔中套设有伸缩针组,其伸缩针组的主体则是由一套管中套设一弹簧,再于弹簧的一端套设有一金属针体所构成,而其弹簧的另端则再套设一金属端套,整体伸缩针组即由金属针体与金属端套将弹簧定痊在套管中;另外,在各伸给针组的下端另套接有一讯号线分别接续至测试主机处;但是,以此成型的测试针体结构,其伸缩针组的伸缩作用,主要是形成一供探针上下作动的空间,以使各电子接点得以确实与其所对应的探针相接触而达到完全检测的效果,但由于其每一个伸缩针组需包括有套管、弹簧、金属针体、金属端套等元件,以及需另外由端子构成伸缩针组与讯号线间的耦接,如此不但使整体伸缩针座的材料、制造成本增加,相对的其各元件间所存在的过多的接合点,将造成讯号传递的误差,进而影响整体检测装置所测得的结果,需要加以改进。
技术实现思路
依据本技术的目的,针对目前常用的基板检测的测试针体存在的缺欠,提供一种基板检测的测试针体结构改良,利用伸缩针座的主板体上、下方分别套置有上、下盖板,并分别设有相对应的弹簧套孔、针体穿孔以及讯号线穿孔,利用针体穿孔与讯号线针穿孔的孔径略小于弹簧的旋径,以将弹簧定位于弹簧套孔中,而针体与讯号线则可直接套合及焊固于弹簧的头尾两端,且在弹簧确实套置于弹簧套孔中后,再分别将上、下盖板与主板体相结合,即可由上、下板的装配动作完成所有弹簧的定位,并使针体确实穿置于针体穿孔中,以及使讯号线由讯号线穿孔穿出而与测试主机-->相接续,以大幅简化整体伸缩针座的组成元件,进而降低整体伸缩针座的材料和制造成本;本技术的另一目的在于提供一种基板检测的测试针体结构改良,针体套置于弹簧下方的柱体凸设有一环体,搭配口径较环体为小的弹簧,当弹簧套入时,藉由下端倒梯形锥状壁面直径渐大的结构,先行顺推弹簧首端,再顺由柱体壁面上滑入环体,藉由环体口径较弹簧大,当弹簧由首端开始依序迫开再嵌入环体后,环体可因而增加针体与弹簧间的套接卡合功能;为达到上述目的,本技术至少包括:一伸缩针座与探针座相对应布设有伸缩针组与供放置探针的穿置孔;一对上、下盖板分别位于伸缩针座主板体上、下方,该上、下盖板上直接设有相对应的弹簧套孔、伸缩针体穿孔以及讯号线穿孔;一针体搭配一弹簧套置其上,而可安置于弹簧套孔中;一讯号线由讯号线穿孔穿出与测试主机相接;该针体穿孔与讯号线针穿孔的孔径略小于弹簧的旋径,藉由将弹簧定位于弹簧套孔中,该针体下方的柱体凸设有一环体,且该弹簧的弹簧口径经设计为略大于针体柱体的口径,而该弹簧的弹簧口径略小于针体凸设环体的口径,当弹簧套入时,藉由下端倒梯形锥状壁面直径渐大的结构,先行将弹簧由其首端顺推而上,顺由柱体壁面上滑入下凸设环体的下部,再顺缘迫开弹簧首端卡入凸设环体,以下的弹簧圈体依序迫开,再嵌入环体与针体柱体壁面之间,以增加针体与弹簧间的套接卡合功能。本技术的优点在于:结构简单,制造材料成本低,检测讯号传递准确,检测结果精度高。附图说明:图1为本技术基板检测结构的剖视示意图;图2为本技术的针体与弹簧及讯号线间的结构分解示意图;图3为本技术的针体与弹簧及讯号线间的结合示意图;图4为本技术针体下方的柱体与弹簧结合前的侧视示意图;图5为本技术针体下方的柱体与弹簧结合中的侧视示意图;图6为本技术针体下方的柱体与弹簧结合后的侧视示意图。具体实施方式:-->如附图1及附图2所示,本技术主要是由一探针座A1以及一伸缩针座1所组成,于伸缩针座1与探针座A1相对应布设有伸缩针组2、供放置探针A12的穿置孔A11,其中,伸缩针组2是由一针体21与探针A12相耦接,并由一弹簧22对针体21形成一伸缩回复的作用,以及由讯号线23与各伸缩针组2相耦接以将讯号传递至测试主机处;伸缩针座1的主板体11上、下方分别套置有上、下盖板12、13,并分别在伸缩针座1的主板体11与上、下盖板12、13上直接设有相对应的弹簧套孔111、针体穿孔121以及讯号线穿孔131,其针体穿孔121与讯号线穿孔131的孔径略小于弹簧22的旋径,而讯号线23则可直接焊固于弹簧22的尾端221而构成完整的伸缩针组2结构,并可配合完成焊接的伸缩针组2增加其导电效果;每一伸缩针组2可在弹簧22确实套置于弹簧套孔111中后,再分别将上、下盖板12、13与主板体11相结合,即可由上、下盖板12、13的简单装配动作,同时完成所有伸缩针组2的弹簧22定位,并使针体21确实穿置于上盖板12针体穿孔121中,以及使讯号线23由下盖板13的讯号线穿孔131穿出而与测主机相接续,藉以大幅简化整体伸缩针座的组成元件,进而降低整体伸缩针座的材料及制造成本。如附图3所示,伸缩针组2因为直接由弹簧尾端221与讯号线23相焊成型,故其间不具有会造成讯号损失的接点,而可使整体基板检测装置得以获得更为准确的检测结果。如附图4至附图6所示,针体21下方的柱体210凸设有一环体211,而针体柱体210下方呈一倒梯形锥状壁面212,且针体21下方的柱体210可被套合于弹簧22的内圈,而弹簧22口径经设计略大于伸缩针体柱体210的口径,略小于针体凸设环体211的口径,当弹簧22套入时,藉由下端倒梯形锥面状壁面212直径渐大的结构,先行将弹簧22由其首端221顺推而上,顺由柱体210壁面上滑入凸设环体211的下部,再顺缘迫开弹簧首端221卡入凸设环体211,以下的弹簧圈体220依序迫开再嵌入环体211与柱体210壁面之间,以增加针体21与弹簧22间的套接卡合功能。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基板检测的测试针体结构改良,其整体测试针体装置主要是由一探针座与一伸缩针座所组成,于伸缩针座与探针座的主体上相对应布设有伸缩针组与供放置探针的穿置孔,其特征在于:还包括:一主板体,该主板体的上、下方分别套置有上、下盖板,并分别在 伸缩针座的主板体与上、下盖板上设有相对应的弹簧套孔、针体穿孔以及讯号线穿孔,其针体穿孔与讯号线穿孔的孔径略小于弹簧的旋径,以将弹簧定位于弹簧套孔中;一针体与探针相耦接所组成的伸缩针组,该弹簧对伸缩体形成一伸缩回复作用;一讯号 线,该讯号线直接焊固于弹簧的尾端,以及由讯号线与各伸缩针组相耦接以将讯号传递至测试主机。

【技术特征摘要】
1、一种基板检测的测试针体结构改良,其整体测试针体装置主要是由一探针座与一伸缩针座所组成,于伸缩针座与探针座的主体上相对应布设有伸缩针组与供放置探针的穿置孔,其特征在于:还包括:一主板体,该主板体的上、下方分别套置有上、下盖板,并分别在伸缩针座的主板体与上、下盖板上设有相对应的弹簧套孔、针体穿孔以及讯号线穿孔,其针体穿孔与讯号线穿孔的孔径略小于弹簧的旋径,以将弹簧定位于弹簧套孔中;一针体与探针相耦接所组成的伸缩针组,...

【专利技术属性】
技术研发人员:林鸿霖
申请(专利权)人:昆翌电子深圳有限公司
类型:实用新型
国别省市:94[中国|深圳]

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