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本实用新型是一种基板检测的测试针体结构改良，属于电子类；其整体测试针体装置主要是由一探针座与一伸缩针座所组成，于伸缩针座与探针座的主体上相对应布设有伸缩针组与供放置探针的穿置孔，还包括一主板体，该主板体的上、下方分别套置有上、下盖板；一针体...
该专利属于昆翌电子（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆翌电子（深圳）有限公司授权不得商用。

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