简易电力晶体管测试仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种简易电力晶体管测试仪，属于测试仪器技术领域。该测试仪包括直流电源，主测试回路和用以产生脉宽调制信号的驱动芯片，主测试回路含有测试仪表，以及对应待测电力晶体管控制极、集电极、发射极的控制端、集电端、发射端，驱动芯片的脉宽调制信号输出端通过限流电阻接控制端，直流电源的正极通过测试仪表接所述集电端，直流电源的负极接所述发射端。测试时，将待测电力晶体管的控制极、集电极、发射极分别插接在控制端、集电端、发射端，通电后，借助驱动芯片触发待测电力晶体管的控制极，借助测试仪表上的读数变化，即可方便地判断出管子的好坏。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试仪，尤其是一种简易电力晶体管测试 仪，属于测试仪器
技术背景电力晶体管种类较多，例如MOSFET管、IGBT和IEBT模块等。随着 设备的更新换代，电气传动控制部分的主要执行元件逐渐由电力晶体 管取代晶闸管，因此电力晶体管越来越多地得到应用。许多场合，一 台控制设备中含有多个电力晶体管。在使用过程中，当电力晶体管老 化或出现故障时，通常无法用肉眼判断，特别是电力晶体管内部的品 质，往往难以单靠万用表测量出来。4企索发现，申请号为200410059229.9 、 200410061839.2、 200410044579, 8、 200420055815. 1以及200410061839. 2的中国专利 申请分别公开了 IGBT的制造工艺、利用IGBT作为调光源的元件、测 试基片上电路的控制方法、测量小功率品体管的仪器以及MOSFET装 置，但均未解决采用筒易测试仪实现新型电力晶体管的测试问题。
技术实现思路
本技术的目的在于针对上述使用需求，提出一种可以通过 测试，方便判断出被测电力晶体管好坏的简易电力晶体管测试仪。为了达到以上目的，本技术的简易电力晶体管测试仪包括直 流电源，还包括主测试回^4口用以产生脉宽调制信号的驱动芯片，所 述主测试回路含有测试仪表，以及对应待测电力晶体管控制极、集电 极、发射极的控制端、集电端、发射端，所述驱动芯片的脉宽调制信 号输出端通过限流电阻接所述控制端，所述直流电源的正极通过测试仪表接所述集电端，所述直流电源的负极接所述发射端。本技术进 一 步的完善是，所述直流电源的正极和负极之间接 有滤波回路。测试时，将待测电力晶体管的控制极、集电极、发射极分别与控 制端、集电端、发射端电连接。通电后，借助驱动芯片触发待测电力 晶体管的控制极，借助测试仪表上的读数变化，即可方便地判断出管 子的好坏。如果测试仪表采用示波器，即可方便地通过观察载波波形 变化，正确判断出管子品质的好坏。附图说明以下结合附图对本技术作进一步的说明。图1为本技术一个实施例的结构示意图。具体实施方式实施例一本实施例的简易电力晶体管测试仪如图1所示，其中各器件名称及对应的序号见下表<table>table see original document page 4</column></row><table>稳压电源提供LM3524驱动芯片JC所需的触发电压，该芯片在接通 电源后内部能直接.产生PWM控制信号，通过ll、 14脚通过限流电阻R4 输出到主测试回路中对应电力晶体管控制极的控制端G。该芯片的脉 宽调控端16脚经电位器RF的调节端接反馈脚9，构成脉宽调控回路， 经过电位器RF的调节，反馈到9脚进行补偿，实现对输出脉宽的调节。主测试回路以桥式整流电路DV作为直流电源，其正极通过串联的 电流表A和校灯LD接对应电力晶体管集电极的集电端，电流表A和校灯 LD旁并联电压表Vl,必要时还可以并联示波器。直流电源的负极接对 应电力晶体管发射极的发射端。直流电源的正极和负极之间接有电容 C 3和电阻R 3构成的滤波回i 各。测试时，将待测电力晶体管的控制极、集电极、发射极分别插接 在控制端、集电端、发射端上。接通电源后，LM3524芯片内部直接产 生P麵控制信号，通过ll、 14脚输出信号驱动电力晶体管的控制极， 其输出的脉宽可以经过电位器调节，再反馈到9脚进行补偿。交流220V 输入通过桥式整流为主测试回路提供直流220V电源，观察主测试回路 中电流表以及电压表的读数，即可判断出被测电力晶体管的好坏。调 节电位器可使校灯发出不同的光亮，同时示波器上将显示出加载在校灯上电压的波形，从而测出电力晶体管品质的好坏。实验证明，本实施例的电力晶体管测试仪结构筒单，成本经济，具有良好的测试性能。除上述实施例外，本技术还可以有其他实施方式。凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本技术要求的保护范围。权利要求1、一种简易电力晶体管测试仪，包括直流电源，其特征在于还包括主测试回路和用以产生脉宽调制信号的驱动芯片，所述主测试回路含有测试仪表，以及对应待测电力晶体管控制极、集电极、发射极的控制端、集电端、发射端，所述驱动芯片的脉宽调制信号输出端通过限流电阻接所述控制端，所述直流电源的正极通过测试仪表接所述集电端，所述直流电源的负极接所述发射端。2、 根据权利要求1所述简易电力晶体管测试仪，其特征在于 所述直流电源的正极和负极之间接有滤波回路。3、 根据权利要求2所述简易电力晶体管测试仪，其特征在于 所述驱动芯片的脉宽调控端经电位器的调节端接该驱动芯片的反馈 端，构成脉宽调控回^各。4、 根据权利要求3所述简易电力晶体管测试仪，其特征在于 所述直流电源的正极通过串联的电流表和校灯接对应电力晶体管集 电极的集电端，所述电流表和校灯旁并联电压表。5、 根据权利要求4所述简易电力晶体管测试仪，其特征在于 所述校灯旁并联示波器。专利摘要本技术涉及一种简易电力晶体管测试仪，属于测试仪器
该测试仪包括直流电源，主测试回路和用以产生脉宽调制信号的驱动芯片，主测试回路含有测试仪表，以及对应待测电力晶体管控制极、集电极、发射极的控制端、集电端、发射端，驱动芯片的脉宽调制信号输出端通过限流电阻接控制端，直流电源的正极通过测试仪表接所述集电端，直流电源的负极接所述发射端。测试时，将待测电力晶体管的控制极、集电极、发射极分别插接在控制端、集电端、发射端，通电后，借助驱动芯片触发待测电力晶体管的控制极，借助测试仪表上的读数变化，即可方便地判断出管子的好坏。文档编号G01R19/00GK201145726SQ20082003124公开日2008年11月5日 申请日期2008年1月18日 优先权日2008年1月18日专利技术者进 余, 明 李, 王阿杨 申请人:上海梅山钢铁股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种简易电力晶体管测试仪，包括直流电源，其特征在于：还包括主测试回路和用以产生脉宽调制信号的驱动芯片，所述主测试回路含有测试仪表，以及对应待测电力晶体管控制极、集电极、发射极的控制端、集电端、发射端，所述驱动芯片的脉宽调制信号输出端通过限流电阻接所述控制端，所述直流电源的正极通过测试仪表接所述集电端，所述直流电源的负极接所述发射端。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王阿杨，李明，余进，
申请(专利权)人：上海梅山钢铁股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：84[中国|南京]