测试装置、修正值管理方法及程式制造方法及图纸

技术编号:2633158 阅读:281 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种测试装置、修正值管理方法及程式。该测试装置包括测试模组、修正值资料库与控制装置。此测试模组具有用于对供给至DUT的测试信号的时序或对DUT的测试信号电压准位进行修正的修正部、保持利用修正部的修正中所使用的修正值的修正值保持部、及储存作为测试模组的识别资讯的一测试模组识别资讯的识别资讯储存部。修正值资料库是相对于测试模组识别资讯,将修正值保持部应保持的修正值进行储存;控制装置是相对于识别资讯储存部所储存的测试模组识别资讯,抽出修正值资料库储存的修正值,并在修正值保持部中进行保持。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术是有关于一种测试装置、修正值管理方法及程式,且特别是有关于一种藉由对供给至被测试元件的测试信号的时序或对被测试元件的测试信号的电压准位,在每测试模组进行修正,从而精度良好地对被测试元件进行测试的测试装置。
技术介绍
在习知的测试装置中,在被测试元件的测试之前,对产生用于供给至被测试元件的测试信号的时序的时序产生部、被测试元件,进行用于进行测试信号的交换的驱动器和比较器等的校准,谋求在被测试元件的测试中的测定精度的提高。由于目前未发现先行技术文献的存在,所以省略关于先行技术文献的记述。在习知的测试装置中,测试模组将时序产生部、驱动器、比较器等的校准资料保持在挥发性记忆体中并进行测试。所以,当测试装置的电源被切断时,校准资料从测试模组丢失。因此,测试装置的用户在再次进行测试时要人为地选择性抽出适当的校准资料,并供给测试模组进行保存。如采用这种方法,在校准资料的选择中可能产生人为的差错,有时无法精度良好地进行被测试元件的测试。
技术实现思路
因此,本专利技术的目的是提供一种能够解决上述课题的测试装置、修正值管理方法及程式。该目的利用请求范围中的独立项所记述的特征的组合而达成。而且本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置,适用于对一被测试元件进行测试,该测试装置包括:一测试模组,具有:一修正部,用于修正供给至该被测试元件的一测试信号的特性或对从该被测试元件所输出的输出信号进行测定的测定部的特性;一修正值保持部,用以保持该 修正部的修正中所使用的一修正值;以及一识别资讯储存部,用以储存作为该测试模组的识别资讯的一测试模组识别资讯;一修正值资料库,是相对于该测试模组识别资讯,而将该测试模组识别资讯所识别的该测试模组的该修正值保持部应保持的该修正值 进行储存;以及一控制装置,是相对于该识别资讯储存部储存的该测试模组识别资讯,而抽...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:滝沢茂树
申请(专利权)人:爱德万测试株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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