【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种试验装置，且特别涉及一种对电子元件进行试验的试验装置。对认可参照文献的指定国，可将下述申请中所记述的内容利用参照加入本申请中，作为本申请记述的一部分。日本专利的特愿2003-311746，申请日平成15年9月3日。
技术介绍
在公知技术中，对半导体电路等电子元件进行试验的试验装置，通过在电子元件上施加一定的图案而进行试验。试验装置包括向电子元件施加预先所确定的图案和试验速率等的测试模块，以及用于控制测试模块向电子元件施加图案等的时序的时序控制模块。测试模块会依据应试验的电子元件的焊接脚数而设置有多个测试模块，而且时序控制模块设置有多个用于产生试验开始时序的模块，以及用于产生图案施加时序的模块等这样的模块。在公知技术中，时序控制模块依据其机能而分别构成。与本专利技术相关的专利文献等，因为现在没有认识，所以省略其说明。如前所述，在公知技术中，因为是将时序控制模块依据其机能而构成，所以需要制造多个种类的时序控制模块，而导致制造成本的上升。而且，各个时序控制模块的通用性低，进而使电子元件的试验效率降低。为了解决这种问题，考虑在各个模块设置能够实现全部...
【技术保护点】
一种试验装置，用于试验电子元件，其特征是该试验装置包括：多个测试模块，进行与该电子元件的信号授受；多个返回电路，与上述这些测试模块对应设置，并接收用于表示在该电子元件输出的输出图案上产生故障的时序的多个故障时序信号； 多个汇总部，接收上述这些返回电路输出的上述这些故障时序信号，并计算上述这些故障时序信号中的一个以上的上述这些故障时序信号的逻辑和，且输出１位的信号；以及多个分配部，与上述这些汇总部对应设置，并将对应的上述这些汇总部的运算结果分配到上 述这些测试模块。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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