LSI的测试方法技术

本发明专利技术提供一种ＬＳＩ的测试方法，能够高精确度地检测出有延迟故障的不良ＬＳＩ。在步骤（Ｓ４、Ｓ４Ａ），生成分别用终点的ＦＦ取入信号变化后及变化前的信号时的第一及第二观测用测试模式。在步骤（Ｓ５、Ｓ５Ａ），分别基于第一及第二观测用测试模式生成第一及第二延迟故障测试模式。进而，在步骤（Ｓ６，Ｓ７）中使用第一延迟故障测试模式对ＬＳＩ进行测试，在步骤（Ｓ９，Ｓ１０）中使用第二延迟故障测试模式对同一ＬＳＩ进行测试。然后，如果两个测试的结果两方均正常则为合格。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于在具有扫描测试功能的LSI(Large ScaleIntegration大规模集成电路)中检测延迟故障的测试方法。
技术介绍
图2是具有扫描测试功能的LSI的概略构成图。该LSI具有测试对象的组合电路1B和其前级的组合电路1A，在这些组合电路1A、1B之间用扫描触发器(以下将触发器称之为“FF”，将扫描触发器称之为“S-FF”)2B1、2B2、…、2Bm进行连接，同时由这些S-FF2B1～2Bm构成了扫描链(scan chain)。S-FF用根据扫描许可信号SE来选择来自前级的组合电路的信号或扫描输入信号的选择器，和将由该选择器所选择的信号以时钟信号的定时进行保持并输出的FF构成。从组合电路1A并列地输出的信号被分别提供给S-FF2B1、2B2、…、2Bm的选择器的第1输入，从这些S-FF2B1～2Bm的各FF输出的信号被并列地提供给组合电路1B的输入侧。进而，S-FF2B1、2B2、…、2Bm-1的各FF输出侧被分别连接到S-FF2B2、2B3、…、2Bm的各选择器的第2输入。另外，S-FF2B1的选择器的第2输入被连接到扫描输入端子3B，S-FF2Bm的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＬＳＩ的测试方法，在具有组合电路和设置在其输入侧与输出侧的扫描触发器的ＬＳＩ中，对该组合电路的延迟进行测试，上述ＬＳＩ的测试方法的特征在于，进行以下处理：对上述组合电路的构成信息和成为测试对象的输入侧的起点的扫描触发器以及输出侧的终点的扫描触发器进行指定的指定处理；为使信号变化从上述指定处理中所指定的起点至终点进行传输，将该起点的扫描触发器的信号值，作为初始化测试模式进行生成的初始值生成处理；将用上述终点的扫描触发器取入了上述初始化测试模式的信号值变化后的值时的信号值，作为第一观测用测试模式进行生成的第一观测值生成处理；将用上述终点的扫描触发器取入了上述初始化测试模式的信号值变化前的值时的...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：牛久保政宪，
申请(专利权)人：冲电气工业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[]