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本发明提供一种ＬＳＩ的测试方法，能够高精确度地检测出有延迟故障的不良ＬＳＩ。在步骤（Ｓ４、Ｓ４Ａ），生成分别用终点的ＦＦ取入信号变化后及变化前的信号时的第一及第二观测用测试模式。在步骤（Ｓ５、Ｓ５Ａ），分别基于第一及第二观测用测试模式生成第...
该专利属于冲电气工业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过冲电气工业株式会社授权不得商用。

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