当前位置: 首页 > 专利查询>陈淑美专利>正文

电路板的测试治具制造技术

技术编号:2632292 阅读:164 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种电路板的测试治具,是于一测试座板内部设有多个对应于预设待测电路板上待测试点的测试孔,可供多个导线以一端导体外露的裸露段由下方贯通伸入,而各导线的另端则衔接于预设的测试插槽,而于该测试座板上方设有一夹持板,于该夹持板内部设有多个夹孔,且该夹孔是分别对应于测试座板的测试孔并呈一偏位,使该夹持板、测试座板相互结合定位后,可利用该相对偏位的夹孔夹持该伸入测试孔的裸露段,并使该裸露段顶端伸出于夹持板上方而形成测试接触点,以与待测电路板的待测试点接触。本发明专利技术的电路板的测试治具具有结构简易、成本低廉且可降低测试成本的功效。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种电路板的测试治具,特别是指一种结构简易、成本低廉、可有效降低测试成本的电路板的测试治具。
技术介绍
习见的电路板测试治具结构,主要是由一万用密度板及一针板所组成,于该万用密度板内设有多个贯通的导电组件,并使各导电组件经由导线连接至多个预设的测试插槽,利用该多个测试插槽可插接各测试仪器的插头,针板是依一预设待测电路板的电路上待测试点而设有多个贯通的探针;以该针板固定于万用密度板上的定位,可使探针与对应的导电组件形成一导通,而该待测电路板则可固定于针板上,利用各探针接触待测电路板上的待测试点,经由各导电组件至测试插槽输出至测试仪器而可形成一测试回路。然而,上述的电路板测试治具结构于应用上有下列缺失1.由于衔接测试插槽的导线是经由万用密度板的导电组件以及针板的探针而与待测电路板上的各待测试点连通,此种复杂的接触导通关系,使得待测试点接触不良的机会增加,严重影响测试质量。2.由于万用密度板及针板的使用,造成设备成本的增加,整体的测试成本难以降低,不符合经济效益。3.由于万用密度板上各导电组件密度设定是依针板的探针间距而定,而该针板的探针则随待测电路板不同而改变,因此,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板的测试治具,其特征在于:其至少包括:一测试座板,设有多个分别对应于预设待测电路板的待测试点的测试孔,该测试座板另设有多个定位孔;多条导线,导线的一端衔接于预设的测试插槽,该测试插槽插接各测试仪器的插头,而于各导线的 另端则设有一导体外露的裸露段,且使各裸露段贯通于该测试座板的测试孔;一夹持板,设有多个定位孔分别对应于该测试座板的定位孔,另设有多个夹孔,该夹孔是分别对应于测试座板的测试孔并呈一偏位,借助多个定位销分别插入测试座板及夹持板的定位孔, 使该相对偏位的夹孔夹持该伸入测试孔的裸露段,并使该裸露段顶端伸出于夹持板上方而形成测试接触点,以...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕坤茂
申请(专利权)人:陈淑美
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1