用于电子电路测试器的传送装置、系统和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种构造为与插入操纵器和测试头结合以帮助被测试器件（ＤＵＴ）的电气或电子测试的可旋转或可平移的传送台。传送台构造为在第一被测试器件（ＤＵＴ）装载到传送台第一测试位置的情况下在第一位置中放在测试器的测试头上。在第一位置处对第一ＤＵＴ进行第一测试，此后传送台前进到第二位置，且将第二ＤＵＴ装载到传送台的第二测试位置。当传送台定位于第二位置时，对第二ＤＵＴ进行第一测试，并对第一ＤＵＴ进行第二测试。重复测试ＤＵＴ、插入ＤＵＴ和相对于测试头旋转或平移传送台的处理直到传送台中的全部测试位置都被填充，且对第一ＤＵＴ执行了全部期望的测试。此时最好进行从传送台移除已完全测试过的ＤＵＴ的处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于通过施加和测量电信号来测试电子电路的装置、系统和方法，更具体而言，涉及用于测试片上系统(SOC)或其他集成电路的传送装置、系统和方法。
技术介绍
为确保正常的功能和可靠性，制造者通常在将SOC集成电路(IC)发送到客户之前对SOC IC进行测试。一种通常用于测试SOC IC的系统是支持并发测试的安捷伦93000SOC测试器。安捷伦93000SOC测试器的部件在授权给Hirschmann的题为“Measuring and/or calibrating a Test Head”的美国专利No.6,756,778、授权给Botka等人的题为“Blind Mate Connectorfor an Electronic Circuit Tester”的美国专利No.5,558,541和授权给Veteran等人的题为“Docking System for an Electronic Circuit Tester”的美国专利No.5,552,701中描述。如图1所示，安捷伦93000测试器包括具有DUT(被测试器件)接口120的测试头110、用于定位测试头110的操控器130本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可旋转或可平移的传送台，其被构造为与插入操纵器和测试头结合以帮助被测试器件的电气或电子测试，所述传送台包括：　　　　（ａ）上表面；　　　　（ｂ）下表面，其被构造用于在多个传送位置上可释放地附装到所述测试头；　　　　（ｃ）用于在布置于所述传送台的所述上表面中的各个测试台中分别接收并夹持多个被测试器件的装置，所述传送台对每个被测试器件都包括一个测试台，所述每个被测试器件将在所述一个测试台中被接收、夹持并测试；和　　　　（ｄ）用于将接收并夹持在所述传送台中的各个被测试器件电连接到所述测试头中的对应电触头的装置；　　　　其中所述传送台适于相对于所述测试头旋转或平移，使得每个测试台可以相对于所述测试...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：罗伯特S阔拉曼，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]