本发明专利技术公开一种ＰＣＢ测试中实现四八密度共用的连线方法，用于连接八密度网格和四密度测试通道组，将八密度网格均分为第一区域、第二区域、第三区域及第四区域，第一区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与第四区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点一一对应连接，相连接的两个测试点连接于所述四密度测试通道组中的一个测试通道。本发明专利技术用于连接八密度设置的网格与四密度设置的测试通道组，而实现测试通道组以四密度设置的测试机可以进行四密度测试和八密度测试两种测试，从而降低ＰＣＢ测试的成本。
【技术实现步骤摘要】
PCB测试中实现四八密度共用的连线方法
本专利技术属于印刷电路板(Printed Circuit Board; PCB )测试领域，尤其是指 一种网才各与测-〖式通道組的连线方法。
技术介绍
随着PCB高密度化的发展,要求使用更高密度的测试机来对PCB进行测试， 例如四密度测试机、八密度测试机等，其中，四密度测试机所使用的四密度网 格每平方英寸有400个测试点，两个测试点的间距为50mil;八密度测试机所使 用的八密度网格每平方英寸有800个测试点，两个测试点的间距为30mil。常见 的四密度测试机是配置四密度网格和与之配合的四密度测试通道组的，网格上 的测试点与测试通道组中的测试通道——对应连4秦， 一个测试点连接一个测"R 通道，而在现有测试中，撒针的最大斜率可^f故到400mil，则能测的PCB的最大 密度为808点/平方英寸，超过此密度的PCB则不能在四密度测试机上进行测试， 而必须另外购置密度更高的测试机(例如八密度测试机)才能进行有效测试， 这就导致了 PCB测试成本的升高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，用 于连接八密度设置的网格与四密度设置的测试通道组，以实现测试通道组以四 密度设置的测试机可以进行四密度测试和八密度测试两种测试。本专利技术的目的是这样实现的 一种PCB测试中实现四八密度共用的连线方 法，用于连接八密度网格和四密度测试通道组，将所述八密度网格均分为第一 区域、第二区域、第三区域及第四区域，所述第一区域上的奇数测试点列、偶 数测试点列分别与所述第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应， 所述第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所迷第四区域上的偶数 测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点——对应连接， 相连接的两个测试点连接于所述四密度测试通道组中的一个测试通道。上述PCB测试中实现四八密度共用的连线方法中，所述第一区域、第二区 域、第三区域及第四区域上相对应的两个测试点列，前一列的测试点与后一列 的测试点按照测试点的列顺序依次--连接。上速PCB测试申卖现四入密度其用的連线古法中，所迷第一区城、第二区 域、第三区域及第四区域上相对应的两个测试点列，前一列的奇数测试点与后 一列的偶数测试点顺次——连接，前一列的偶数测试点与后一列的奇数测试点 顺次--连接。本专利技术的有益效果在于本专利技术所公开的PCB测试中实现四八密度共用的 连线方法基于现有的四密度测试机而对其进行改造，将其四密度网格更换成八 密度网格，并按照本专利技术所述将八密度网格与四密度测试机的四密度测试通道 组连接，进行PCB四密度测试时，选用八密度网格上的奇数测试点列，而偶数 测试点列悬空，所有的奇数测试点列构成了四密度网格，且使每个测试通道对 应检测一个测试点，故可进行四密度测试，进行PCB八密度测试时，选用八密 度网格上的第二区域和第三区域，而第一区域和第四区域悬空，第二区域和第 三区域上的测试点构成了八密度网格，且使每个测试通道对应检测一个测试点， 故可进行八密度测试，从而实现测试通道组以四密度设置的测试机可以进行四 密度测试和八密度测试两种测试，降低了 PCB测试的成本。附图说明下面结合附图及实施例对本专利技术做进一步说明。图1是本专利技术的网格与测试通道组的连线示意图。图2是本专利技术的网格与测试通道组的部分连线示意图。图3是本专利技术的另 一 实施例的网格与测试通道组的连线示意图。图4是本专利技术的与图3同一实施例的网格与测试通道组的部分连线示意图。具体实施方式本专利技术所公开的PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，其用于连接八 密度网格和四密度测试通道组，可对现有的四密度测试机进行改进，将其四密 度网格替换设置为八密度网格，使经过改进后的'四密度测试机既可执行四密度 测试，也可执行八密度测试。参考图1和图2所示，本专利技术提供有一八密度网格IO及一四密度测试通道 组20，将八密度网格10均分为第一区域12、第二区域14、第三区域16及第四 区域18等四个区域，每个区域上所设置的测试点IOO的数目相同。第一区域12 上的奇数测试点列乌第二区城14上的偶救测试点列顺次对应，即第一区域12 上的第1测试点列121、第3测试点列123、第5测试点列125、……分别对应 于第二区域14上的第2测试点列142、第4测试点列144、第6测试点列146……， 相对应的两列上的测试点按照测试点的列顺序依次连接，即第一区域12的第1 测试点列121上的第一个测试点与第二区域14的第2测试点列142上的第一个 测试点连接，第1测试点列121上的第二个测试点与第2测试点列142上的第二个测试点连接，……，依此类推，而实现所对应的两列上的测试点的--~对应连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组20中的一个测试通道 200;第一区域12上的偶数测试点列与第二区域14上的奇数测试点列顺次对应， 即第一区域12上的第2测试点列122、第4测试点列124、第6测试点列126、......分别对应于第二区域14上的第1测试点列141、第3测试点列143、第5测试点列145.......,相对应的两列上的测试点按照测试点的列顺序依次连接，即第一区域12的第2测试点列122上的第一个测试点与第二区域14的第1测试点 列141上的第一个测试点连接，第2测试点列122上的第二个测试点与第1测 试点列141上的第二个测试点连接，......，依此类推，而实现所对应的两列上的测试点的一>""对应连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组20中 的一个测试通道200。按照第一区域12与第二区域14的连线方法，以实现第三区域16与第四区 域18的连接，第三区域16上的奇数测试点列与第四区域18上的偶数测试点列 顺次对应，相对应的两列上的测试点按照测试点的列顺序依次连接，相连接的 两个测试点连接于四密度测试通道组20中的一个测试通道200;第三区域16上 的偶数测试点列与第四区域18上的奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的 测试点按照测试点的列顺序依次连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试 通道组20中的一个测试通道200。基于现有的四密度测试机，将其四密度网格更换成八密度网格，使用本发 明所阐述的连线方法将八密度网络连接于四密度测试机上的四密度测试通道 組，进行PCB四密度测试时，逸用八密度网格上的奇数测试点列，而偶数测试 点列悬空，所有的奇数测试点列构成了四密度网格，且使每个测试通道对应检 测一个测试点，故可进行四密度测试，进行PCB八密度测试时，选用八密度网格上的第二区域和第三区域，而第一区域和第四区域悬空，第二区域和第三区 域上的测试点构成了八密度网格，且使每个测试通道对应检测一个测试点，故 可进行八密度测试，从而实现测试通道组以四密度设置的测试机可以进行四密度测试和八密度测试两种测试，降低了 PCB测试的成本。结合图3和图4，以说明本专利技术的另一实施例，提供有一八密度网格30及 —四密度测试通道组40,将八密度网格30均分为第一区域32、第二区域34、 第三区域36及第四区域38等四个区域。第一区域32上的奇数测试点列与第二 区域34上的偶数测试点列顺次对应，相对应的两列上，前一本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种ＰＣＢ测试中实现四八密度共用的连线方法，用于连接八密度网格和四密度测试通道组，其特征在于：将所述八密度网格均分为第一区域、第二区域、第三区域及第四区域，所述第一区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，所述第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第四区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点一一对应连接，相连接的两个测试点连接于所述四密度测试通道组中的一个测试通道。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张亚民，
申请(专利权)人：深圳麦逊电子有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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