【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种接触型单面探针装置，以及使用该装置测试导线的开路 或短路的设备和方法，更特别的是涉及一种接触型单面探针装置，所述装置 将探针引入以与多条导线中的每一条导线的一端相接触，其中所述导线包括PCB导电线图、数据传输线和电缆，所述装置还向所述导线施加交流(AC) 电源，并且使用由所述探针测量的电子变化值测试导线的开路和短路，还特 别涉及一种非接触型单面探测装置及使用该装置测试模式电极的开路和短 路的设备和方法。
技术介绍
通常，为了测试多线电缆如数据传输线路的开路或短路，将该电缆与其 他电路隔离，并测量在该电缆两端之间的阻抗。此时，至少两个操作员是必 需的。如果电缆线的数目很大，该线的号码可能会被忘记。据此，由于需要 重复检测，可靠性降低并且操作时间增加。为了检测如液晶显示器(LCD)或等离子显示面板(PDP)等的平板显 示装置的透明电极的开路和短路，如图1所示，电流被施加到导线10中的 每一导线的一端，并且在导线10中的每一导线的另一端测量电压，这样来 测试导线IO的开路和短路。为了测试导线开路和短路，至少需要两个探针。也就是说，由于需要很 大数目的...
【技术保护点】
一种接触型单面探针装置，包括：探针，该探针被引入以与待测导线相接触；电源馈送部件，该部件向所述探针施加交流电源；以及传感器，该传感器测量所述探针的电子变化值。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：殷琸，金圣振，崔熙德，李东俊，宋大雄，
申请(专利权)人：微探测株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。