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公开了一种用于测试导线开路和短路的设备和方法。探针被引入以与每一导线的一端相接触，施加ＡＣ电源，并且使用在所述探针中测量的电子变化来测试所述导线。当测试ＰＣＢ导电线图、数据传输线或电缆时，通过使用单面探针装置可以显著地减少探针的数目，并且可...
该专利属于微探测株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过微探测株式会社授权不得商用。

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