【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及超小型发光二极管的点亮测试装置，更具体地，涉及一种超小型发光二极管的点亮测试装置，通过面接触探针与由多个超小型发光二极管按照正方形排列而成的组件的前面接触之后，在两侧施加用于点亮的电源，统一测试超小型发光二极管的点亮状态。
技术介绍
1、通常，发光二极管(light emitting diode，led)是利用化合物半导体材料将电流转换为光的半导体发光元件。发光二极管基于化合物半导体材料的种类可实现从紫外线至红外线的各种波段的光源，相较于现有的光源，具有反应速度快、结构超级小及寿命长等特性，因此可在照明、电子显示屏、tv、手机及汽车等各种领域得到应用。
2、相关产业领域为了确保更大的市场竞争力，除了显示器以外，与通信、医疗、生化或者纤维领域能够融合整合的应用产品的多样性有关的研究正活跃地开展。
3、为此，需要提高发光二极管的柔软(flexible)特性及尺寸控制有关的技术，最近，可实现柔软性提高和尺寸可控制的超小型发光二极管作为下一代显示器正受到瞩目。
4、超小型发光二极管(micro light emitting diode)作为由多个以约5μm至100μm水准制造的发光结构体布置而成的发光元件，可将发光结构体本身作为像素使用，容易实现弯曲，从而能够克服现有的发光二极管因外部冲击频繁发生破损的破裂问题。
5、这种超小型发光二极管可在包括柔性显示器在内的人体植入型医疗设备，或者结合有发光二极管的智能(smart)纤维开发等需要低功耗、小型化及轻量化的光应用领域中广泛使
6、本专利技术的
技术介绍
在韩国专利公开号第10-2019-0106655号(2019年09月18日公开的led测试装置及移送装置)中已公开。
技术实现思路
1、技术问题
2、如上所述，为了在显示器中使用超小型发光二极管，在将完成的超小型发光二极管从晶片移送至目标基板之前，必须要经过识别和测试是否为电学上的良品的过程，然而由于超小型发光二极管的尺寸十分小，因此无适当的移送和测试方法，而利用现有的方法会产生破裂或者破损的问题或者采用手工作业时会导致成本上升的问题发生。
3、此外，如果不在晶片中直接测试多个超小型发光二极管的电学上的良品状态而移送至目标基板，则在目标基板上事后发生超小型发光二极管的不良时，存在导致目标基板自身成为不良的问题。
4、本专利技术是为了改善如上所述的问题而提出的，根据一方面，本专利技术的目的在于，提供一种超小型发光二极管的点亮测试装置，通过面接触探针与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的组件的前面接触之后，在两侧施加用于点亮的电源，从而统一测试超小型发光二极管的点亮状态。
5、技术方案
6、根据本专利技术的一方面的超小型发光二极管的点亮测试装置，包括：面接触探针，其通过电阻率(resistivity)部件与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的发光二极管组件的前面面接触，从而使多个超小型发光二极管的两端电极互相接触；探针电极，其在所述面接触探针的一侧和另一侧进行线接触并提供电源；拍摄部，其在接触有所述面接触探针的相反面对所述发光二极管组件进行拍摄；以及控制部，其沿着所述多个超小型发光二极管的排列方向向所述探针电极提供正方向的电源，并基于所述拍摄部在提供电源前后拍摄的所述发光二极管组件的图像，测试所述多个超小型发光二极管的点亮状态。
7、本专利技术中，面接触探针为电阻率(resistivity)的薄膜、电阻率的pdms(polydimethylsiloxane)、电阻率的液体及电阻率的胶体(gel)中任意一种。
8、本专利技术中，当面接触探针为电阻率的薄膜时，进一步包括用于加压面接触探针的加压装置。
9、本专利技术中，加压装置为利用弹力对电阻率的薄膜进行加压的缓冲部件。
10、本专利技术中，加压装置由加压室构成，加压室为了在内部形成空闲空间并使电阻率的薄膜布置于空闲空间内，对探针电极进行加压，通过注入口向内部空闲空间注入加压流体并对电阻率的薄膜进行加压。
11、本专利技术中，加压流体包括不导电气体或者液体。
12、本专利技术中，当面接触探针为电阻率的液体或者电阻率的胶体时，进一步包括引导隔壁，其对应发光二极管组件限制电阻率的液体或者电阻率的胶体的区域。
13、本专利技术进一步包括用于固定发光二极管组件的透明基板。
14、本专利技术进一步包括用于输出超小型发光二极管的点亮状态的测试结果的输出部。
15、有益效果
16、根据本专利技术的一方面的超小型发光二极管的点亮测试装置，通过面接触探针与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的组件的前面接触之后，在两侧施加用于点亮的电源，从而能够统一测试超小型发光二极管的点亮状态，不仅能够缩减发光测试所需的时间及费用而且不直接向超小型发光二极管接触引脚，从而可减少测试过程中元件的物理损伤。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种超小型发光二极管的点亮测试装置，包括：
2.如权利要求1所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，所述面接触探针为电阻率(resistivity)的薄膜、电阻率的PDMS(Polydimethylsiloxane)、电阻率的液体及电阻率的胶体(gel)中任意一种。
3.如权利要求2所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，当所述面接触探针为所述电阻率的薄膜时，进一步包括用于加压所述面接触探针的加压装置。
4.如权利要求3所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，所述加压装置为利用弹力对所述电阻率的薄膜进行加压的缓冲部件。
5.如权利要求3所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，所述加压装置由加压室构成，所述加压室为了在内部形成空闲空间并使所述电阻率的薄膜布置于空闲空间内，对所述探针电极进行加压，通过注入口向所述内部空闲空间注入加压流体并对所述电阻率的薄膜进行加压。
6.如权利要求5所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，所述加压流体包括不导电的气体或者液体。
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