测试包含秘密信息的集成电路的方法技术

一种集成电路（１０），包括功能电路（１２ａ－ｃ），该功能电路包含必须保密防止未授权访问的信息。该集成电路包括耦合至功能电路（１２ａ－ｃ）的测试访问电路（１４，１６），和耦合至测试访问电路（１４，１６）的多个熔丝元件（１８）。熔丝元件（１８）按如下电路结构连接：该电路结构使得仅仅当所述多个熔丝元件中的第一熔丝元件（１８）处于熔断状态并且第二熔丝元件（１８）处于未熔断状态时，才使功能电路（１２ａ－ｃ）可经由测试访问电路（１４，１６）稳定访问。结果，在选择性地熔断所有第一熔丝元件（１８）之后，可以测试集成电路。在测试之后，至少一部分第二熔丝元件（１８）熔断。结果，对于不知道哪些熔丝元件是第一熔丝元件和哪些是第二熔丝元件的人，将集成电路恢复到其中可以进行对保密信息的访问的危险的测试访问的状态存在着困难。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及对集成电路，具体地对包含必须受到保护以防止未授权 访问的秘密信息的集成电路的测试。
技术介绍
可测试性和保密性对于集成电路强加了冲突的设计要求。可测试性要求每个电路元件应当被耦合至扫描链(scan chain),这样，电路元件 中预期的缺陷响应来自电路元件的信号而显现，这些电子元件响应来自 扫描链的测试激励信号被捕获至扫描链中。因此，通过采用扫描链施加 测试激励和移出测试响应，很容易测试集成电路。不幸的是，这也意味 着电路元件中由秘密信息影响的信号很容易地通过扫描链访问。在另一方面，采用其中带有秘密信息的电路不以任何方式影响扫描 链中的捕获响应的电路构造，可以实现保密性。这限制了测试这些电路 以观察在正常功能条件下整个电路的功能响应的可能。由此，不可能保 证电路将在所有的环境下正确工作，或者仅仅在长时间的并因此昂贵的 测试之后才行。美国专利6,754,606描述了带有测试链和熔丝的集成电路，用于防 止从扫描链中读也数据。该熔丝可以位于测试控制电路中，例如， 一旦 熔丝熔断，可防止切换至测试操作模式。该熔丝也可以位于扫描链的移 位路径(shift path)中的多个位置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试集成电路（１０）的方法，所述集成电路包括功能电路（１２ａ－ｃ），耦合至功能电路（１２ａ－ｃ）的测试访问电路（１４，１６），和耦合至测试访问电路（１４，１６）的多个熔丝元件（１８），所述熔丝元件（１８）按如下电路结构连接：该电路结构使得仅仅当所述多个熔丝元件中的第一熔丝元件（１８）处于熔断状态并且所述多个熔丝元件中的第二熔丝元件（１８）处于未熔断状态时，才可经由测试访问电路（１４，１６）稳定地访问功能电路（１２ａ－ｃ），该方法包括：获得所有第一和第二熔丝元件（１ ８）处于未熔断状态的集成电路（１０）；选择性地熔断所有第一熔丝元件（１８）并保留所有第二熔丝元件（１８）未熔断；...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：埃里克J马里尼森，桑迪普库马尔戈埃尔，安德烈K纽兰，休伯特斯GH韦尔默朗，亨得里克斯PE瓦兰肯，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]