可测试的集成电路及集成电路的测试方法技术

集成电路（２００）包括通过一个或更多个开关（１１５）导电地耦合到电源线（１１０）的功能块（１３０）。该ＩＣ进一步包括在ＩＣ的测试模式中响应于测试启用信号以激活一个或更多个开关（１１５）的选择装置（２２０），和诸如比较器（２３０）的评估装置，所述评估装置具有耦合到参考信号源（２１５）的第一输入和耦合到一个或更多开关（１１５）和功能块（１３０）之间的节点（２２５）的第二输入，用于基于参考信号和来自节点（２２５）的信号来评估一个或更多个开关（１１５）的行为。因此，本发明专利技术提供了一种用于测试功率开关的可测性设计解决方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种集成电路(IC)，该集成电路包括通过开关装置导电地耦合到电源线的功能块，并涉及一种测试该集成电路的方法。
技术介绍
如今，典型地集成电路能够执行多种功能。分离的功能块中可包含分离的功能，例如，芯片上系统(SoC)就是此种情况。典型地， 集成电路复杂度的日益增长与IC的功率消耗增加相关联。上电但未激 活的功能块可造成部分这种功率消耗。这对于用来为IC供电的电池的 寿命是有害的。该问题的一种解决方法是在功能块及其电源线之间布置开关，例 如，功率晶体管。当需要功能块的功能时，控制器激活开关。如此，使非激活功能块保持在断电的状态下，因此，减小ic的功率消耗。在IC的制造阶段需要测试这种幵关以确保其正确运行。PCT专 利申请WO01/181937中公开了一种用于测试开关的方法。在IC的两 个外部端子中并联(inparallel)布置处于测试控制器控制下的两个开 关晶体管。在测试过程中，进行三个测量，其中一个测量是两个晶体 管都导通，两个测量是晶体管之一导通，并且从测量中提取出开关晶 体管的电阻。该电阻提供了晶体管是否根据规范工作的指示。然而，该专利技术的一个缺点是，至少在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路（２００，３００，４００，５００，６００），包括：　功能块（１３０），通过开关装置（１１５，１２５）导电地耦合到电源线（１１０，１２０）；　选择装置（１４０，２２０，４２０），响应于测试启用信号以激活开关装置（１１５，１２５）；和　评估装置（２３０），具有耦合到参考信号源（２１５）的第一输入，并具有耦合到开关装置（１１５，１２５）和功能块（１３０）之间的节点（２２５）的第二输入，用于基于参考信号和来自所述节点（２２５）的信号来评估开关装置（１１５，１２５）的行为。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：桑迪普库马尔戈埃尔，何塞德耶稣皮内达德干维兹，伦泽IMP迈耶，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]