一种对ＦＰＧＡ器件进行测试的方法技术

本发明专利技术公开了一种对ＦＰＧＡ器件进行测试的方法，包括如下的步骤：（１）生成为ＦＰＧＡ器件配置预定功能的配置文件；（２）使ＦＰＧＡ器件进入配置阶段；（３）从配置文件中提取配置信息并进行数据转换，得到预定管脚的配置数据信号；（４）设置ＦＰＧＡ器件各控制管脚的逻辑状态，并设置各管脚的时序信息，得到配置过程的测试向量；（５）根据各个管脚的时序信息设置各个管脚信号变化的时间，得出测试图形；（６）执行测试图形，完成测试工作。利用本发明专利技术，可以使用现有的集成电路测试机完成对ＦＰＧＡ器件的测试，不仅减少了操作环节，而且提高ＦＰＧＡ器件的测试效率，便于实现ＦＰＧＡ器件的产业化测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及 一 种利用集成电路测试机对FPGA器件(Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)器件进行配置，从而实施 产业化测试的方法，属于集成电路测试

技术介绍
FPGA器件是八十年代中期出现的新型可编程逻辑器件，它是作为专 用集成电路(ASIC)领域中的一种半定制电路而出现的，既解决了定制 电路的不足，又克服了原有可编程器件门电路数有限的缺点，可以广泛 应用在航天、通信、计算机硬件系统、程序控制、数字系统的测试诊断 等领域。FPGA器件采用了逻辑单元阵列LCA (Logic Cell Array)的新概 念，内部包括可配置逻辑模块CLB (Configurable Logic Block)、输出输 入模块IOB (Input Output Block)和内部连线(Interconnect)三个部分。 该器件可以通过编程把一个通用集成电路快速配置成用户需要的专用数 字电路，因而大大加快电子产品的研发周期，降低研发成本，縮短产品 上市时间。为了能够适应当前电子产品设计的需要，FPGA器件的结构已经变得 越来越庞大、复杂。最新的FP本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对ＦＰＧＡ器件进行测试的方法，基于集成电路测试机实现，其特征在于包括如下的步骤：　（１）使用ＦＰＧＡ器件设计工具生成为ＦＰＧＡ器件配置预定功能的配置文件；　（２）所述集成电路测试机使所述ＦＰＧＡ器件进入配置阶段；　（３）从所述配置文件中提取配置信息并进行数据转换，得到预定管脚的配置数据信号；　（４）设置所述ＦＰＧＡ器件各控制管脚的逻辑状态，并设置各管脚的时序信息，得到配置过程的测试向量；　（５）根据各个管脚的时序信息设置各个管脚信号变化的时间，得出测试图形；　（６）所述集成电路测试机执行所述测试图形，完成对所述ＦＰＧＡ器件是否实现预定功能的测试工作。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吉国凡，张琳，刘炜，赵智昊，王慧，石志刚，孙博，金兰，李尔，孙杨，陈希，
申请(专利权)人：北京确安科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]