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集成电路（２００）包括通过一个或更多个开关（１１５）导电地耦合到电源线（１１０）的功能块（１３０）。该ＩＣ进一步包括在ＩＣ的测试模式中响应于测试启用信号以激活一个或更多个开关（１１５）的选择装置（２２０），和诸如比较器（２３０）的评估装置，...
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