一种扫描链故障诊断系统、方法及诊断向量生成装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种扫描链故障诊断系统、方法及诊断向量生成装置。该扫描链故障诊断方法包括：确定待测芯片的扫描链的时序故障类型；根据待测扫描链的时序故障类型，建立诊断向量生成装置；对所述诊断向量生成装置求解，获取可同时区分多个故障对的时序故障诊断向量，并将该时序故障诊断向量存储于诊断向量集合；将所述诊断向量集合中的时序故障诊断向量逐一加载至待测芯片得到故障响应，并依据故障响应，对待检测芯片进行扫描链故障诊断。其能够在没有任何面积和布线开销的情况下对发生时序故障的扫描链进行诊断，且不改变传统的扫描链诊断流程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路领域，属于一种逻辑集成电路的时序故障定位方法， 特别是涉及一种扫描链故障诊断系统、方法及诊断向量生成装置。
技术介绍
近年来集成电路的设计广泛采用深亚微米和超深亚微米工艺以提升性能。 同时，随着工艺尺度的縮小，芯片的缺陷密度逐渐增加，每代工艺中的量产学 习过程也变得更加复杂。因此，在电路设计过程中广泛采用扫描设计技术以提升电路的可测性(Design-For-Testability, DFT)和可诊断性，从而提升芯片 质量以及芯片生产的优良率。扫描设计技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计(DFT)技术。该技 术中基于扫描的逻辑诊断已经成为量产加速阶段(yield ramp-up)不可缺少 的手段，通过逻辑诊断可以帮助失效分析设备快速寻找到引起失效的缺陷位 置，从而加速失效分析过程。通过扫描设计技术，在电路中插入一种称为扫描链的移位寄存器结构，通 过扫描链可以非常方便地实现测试数据的有效传递以及内部状态的有效导出。在电路中实现的扫描又分为"全扫描"和"部分扫描"两种。全扫描是将 电路中所有的时序单元都置换为扫描单元，并且接入一个或者多个扫描链中， 这样可以非常容本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种扫描链故障诊断系统，其特征在于，包括：诊断向量生成装置，诊断向量获取模块和故障诊断模块，其中：所述诊断向量生成装置，通过模拟发生时序故障时待测芯片的电路的逻辑状态，被用来生成时序故障诊断向量；所述故障诊断模块，通过分析从测试设备上得到 的响应结果，进行故障定位；所述诊断向量获取模块，利用所述诊断向量生成装置获取所述时序故障诊断向量并存储该时序故障诊断向量，并将该时序故障诊断向量传给所述故障诊断模块进行扫描链故障诊断。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王飞，胡瑜，李晓维，
申请(专利权)人：中国科学院计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]