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本发明公开了一种扫描链故障诊断系统、方法及诊断向量生成装置。该扫描链故障诊断方法包括：确定待测芯片的扫描链的时序故障类型；根据待测扫描链的时序故障类型，建立诊断向量生成装置；对所述诊断向量生成装置求解，获取可同时区分多个故障对的时序故障诊断...
该专利属于中国科学院计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院计算技术研究所授权不得商用。

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