集成电路元件测试插座、插座基板、测试机台及其制造方法技术

一种集成电路元件测试插座（Ｓｏｃｋｅｔ）、插座基板、测试机台及其制造方法，其中的测试插座包含插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部，并在凹陷部的底部四边、底部两对边或底部两邻边设有多个弹性接触端子。这些多个弹性接触端子以阵列方式均匀排列于凹陷部的底部。更进一步地，这些多个弹性接触端子的特征是在于其部分或全部的弹性接触端子是以紧密且成对的方式排列。另外，有定位导持承座，容设于插座本体凹陷部，且此定位导持承座具有中央开口，在此中央开口的底部形成有多个容许弹性接触端子穿出的端子孔。此外，另有锁合组件和弹性保持组件，可以将定位导持承座限制于凹陷部活动。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种集成电路元件测试装置及其制造方法，特别涉及其中 的集成电路元件测试插座者。
技术介绍
一般集成电路元件在进行终端测试(Final Test)时，集成电路元件的电 性接点或接脚需要与测试插座(Socket)中的探针(Pogo Pin)做压合的动作。 从而，测试信号可通过探针(Pogo Pin)传至测试台(Tester)而判读集成电路 元件的好坏。公知所使用的测试插座(Socket),其探针是嵌在插座基底而 呈悬臂状，测试时，极易因集成电路元件置入测试插座时的方位不正而刮 除集成电路元件脚位或焊点上的焊锡而导致使用寿命(Life Time)与良率 (Yield)下降以及探针损伤，同时，因探针积蓄过多刮落的焊锡也造成集成 电路元件卡料现象。为了解决此问题，先前技术第TW447178号中国台湾 专利披露了一种非悬臂式的弹簧探针结构，第TW539128号中国台湾专利 中披露一种以弹簧探针为基础的测试插座，第TW485243号中国台湾专利 披露一种以弹簧探针为基础的插座基板。前述的先前技术虽然改善了悬臂 式探针的不利，然而却仍未解决当集成电路元件放入测试插座时若方位偏 差而造本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路元件测试插座，至少包含：　插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部；　多个弹性接触端子，设于该凹陷部；　定位导持承座，容设于该凹陷部，该定位导持承座具有中央开口可容置待测集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许上述弹性接触端子穿出的端子孔；以及　至少一个锁合组件与至少一个弹性保持组件，将该定位导持承座限制于该凹陷部内活动；　其特征在于，　上述弹性接触端子的部分或全部是以紧密且成对的方式排列，使得该每对弹性接触端子可接触该待测集成电路元件的每一接脚。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邹俊杰，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]