玻璃检测方法及其设备技术

本发明专利技术一种玻璃检测方法，首先放置一玻璃基板，使玻璃基板边缘对准一取像器，然后将一第一光源自玻璃基板的上方朝玻璃基板发出光线，以及一第二光源自玻璃基板的下方朝玻璃基板发出光线，接着移动玻璃基板或取像器，使取像器撷取玻璃基板的边缘影像，最后判断取像器所取得的影像。而玻璃检测设备包含有设于基座的取像器，一承载台可移动地设于取像器的下方，第一光源设于取像器与承载台之间，用以朝承载台发出光线，第二光源设于承载台的下方，用以朝承载台发出光线。通过此，应用本发明专利技术所提供的检测方法与设备，即可达成同时检测上、下玻璃基板的边缘，提高检测速度与质量等目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测玻璃基板，特别是指一种可同时检测上、下玻璃基板的方法与设备。
技术介绍
液晶面板主要是由二片导电玻璃之间设有液晶材料所组成，在导电玻璃的制造过程中，通常是先制造出一片面积较大的玻璃基板，然后再将大面积的玻璃基板切割成数片小面积玻璃基板，使切割后的各玻璃基板可对应于液晶面板的尺寸，以便于使用在后续的液晶面板制程。但是，在上述小面积玻璃基板切割完成之后，必须以检查人员目视观察基板的边缘是否具有缺角或是其它瑕疵，而检査人员在检视的过程中，也必须先针对玻璃的一侧表面进行观察后，再将玻璃翻至另一面，才能继续进行检视，使得检视玻璃基板的过程较长，检测程序也较为复杂与麻烦。另外，若是玻璃基板具有细微的结构瑕疵时，以人工目视的方式也不易发现，影响整体检测质量。
技术实现思路
因此，本专利技术的主要目的是提供一种玻璃检测方法，其可同时检测上、下玻璃的边缘，提高检测速度与质量。本专利技术的另一 目的则在于提供一种玻璃检测设备，其可同时进行上、下玻璃的检测工作。为达成前揭目的，本专利技术所提供的玻璃检测方法，包含有一、 先放置一玻璃基板，使该玻璃基板的边缘对准一取像器；二、 使一第一光源自该玻璃基板的上方朝该玻璃基板发出光线，并使一第二光源自该玻璃基板的下方朝该玻璃基板发出光线；三、 移动该玻璃基板或该取像器，使该取像器撷取该玻璃基板的边缘影像；以及四、 判断该取像器所取得的影像。而应用该玻璃检测方法的设备则包含有 一基座； 一设于该基座的取像器； 一承载台可移动地设于该取像器的下方； 一第一光源设于该取像器与该承载台之间，用以朝该承载台发出光线；以及一第二光源设于该承载台的下方，用以朝该承载台发出光线。通过此，应用本专利技术所提供的检测方法与设备，即可达成同时检测上、下玻璃基板的边缘，提高检测速度与质量等目的。附图说明图1是本专利技术一较佳实施例的示意图，主要显示检测设备的状态；图2是本专利技术一较佳实施例的示意图，主要显示检测一平整玻璃基板的状态；图3是本专利技术一较佳实施例的示意图，主要显示检测玻璃基板的上表面具有缺角的状态；图4是本专利技术一较佳实施例的示意图，主要显示检测玻璃基板的下表 面具有缺角的状态；图5是本专利技术一较佳实施例的检测演算流程图。主要组件符号说明IO玻璃检测设备20基座 30取像器32镜头 40承载台 60第一光源 62光线70第二光源 72光线80玻璃基板 82缺角84缺角具体实施例方式以下，兹配合图式列举一较佳实施例，用以说明本专利技术的详细结构与 功效。请参阅图1所示，为本专利技术一较佳实施例所提供的玻璃检测设备10， 其包含一基座20、 一取像器30、 一承载台40、 一第一光源60，以及一第 二光源70。取像器30为线扫描式感光耦合组件Charge Coupled Device, CCD, 取像器30设于基座20的顶侧。承载台40可移动地设于取像器30下方。 第一光源60设于基座20，且位于取像器30的I镜头32与承载台40之间， 第一光源60为同轴光源，亦即第一光源60为中空环状灯管，第一光源60 可自承载台40上方朝承载台40方向发出光线。第二光源70设于基座20，且位于承载台40下方。第二光源70为穿透光，第二光源70可自承载台 40下方朝承载台40方向发出光线。当欲应用本专利技术所提供的玻璃检测设备10检测一玻璃基板80，主要 是依照下列方法进行检测1. 将玻璃基板80放置于承载台40，使玻璃基板80边缘对准取像器 30的镜头32下方。2. 使第一光源60与第二光源70产生出光线，第一光源60向下朝玻 璃基板80发出光线，第二光源70则向上朝玻璃基板80发出光线。第一 光源60所投射出的光线在接触到玻璃基板80后随即反射，进而再穿过第 一光源60中央成像于取像器30，第二光源70所投射出的光线则会穿过玻 璃基板80与第一光源60中央而也成像于取像器30。3. 通过由承载台40移动玻璃基板80，取像器30即可撷取到第一光源 60与第二光源70投射于基板80边缘的光线，亦即使取像器30取得玻璃 基板80边缘的影像。4. 当取像器30取得玻璃基板80的数字影像之后，利用一数据处理装 置以如图5所示的演算流程分析取像器30取得的影像数据，用以判断出 玻璃基板80边缘的结构特性。通过由玻璃检测设备10与上述检测方法检测玻璃基板80时，如图2 所示意的状态，第一光源60发出的光线62是直接朝玻璃基板80投射， 光线62接触到基板80的上表面之后会反射而穿经第一光源60中央，然 后再进入取像器30的镜头32内。第二光源70所发出的光线72则可穿过 基板80与第一光源60中央，也进入取像器30的镜头32内。若是基板80 的上、下表面都呈平整状，由于经过玻璃基板80反射的第一光源60的光线62与穿透过基板80的第二光源70的光线72皆完整地成像于取像器30， 使取像器30撷取到的影像数据为基板80的上下表面皆呈平整状的成像资 料。如图3所示，若是基板80的上表面边缘具有一缺角82，第一光源60 朝玻璃基板80射出的部分光线在接触到缺角82表面之后会反射而呈散射 光，第二光源70朝玻璃基板80射出的部分光线穿经基板80的缺角82后 亦呈散射光。由于第一光源60与第二光源70投射于缺角82位置的光线 都成为散射光，进而无法成像于取像器30，取像器30在取得影像数据之 后，通过由如图5所示的影像数据演算流程，先将瑕疵影像抽出之后，再 分析瑕疵影像的特征值，然后将瑕疵影像进行分类，数据处理装置即可辨 别第一光源60的部分成像资料与第二光源70的部份成像资料，进而判断 出玻璃基板80于上表面具有缺角82。再如图4所示，若是基板80的下表面边缘具有缺角84时，第一光源 60投射于基板80的光线可不受影响地反射进入取像器30，但第二光源70 投射于基板80的部分光线，则会在接触到缺角84表面之后呈散射光而无 法成像于取像器30，使得取像器30撷取到的影像数据只有第一光源60 的完整成像影像与部份第二光源70的成像数据，进而即可辨别出缺角84 出现于基板80的下表面。经由本专利技术所提供的检测方法与设备，当基板80的缺角84的存在位 置不同时，第一光源60与第二光源70成像于取像器30的影像数据即会 随的改变，再搭配影像数据的处理与判断，即可同时检测基板80的上表 面或是下表面。另外，利用不同成像状态产生不同的影像数据，可以进而 辨别出基板80具有缺角、裂痕、或者是破损等问题，即便裂痕或是缺角8非常细微也能检查出来。而应用本专利技术的方法与设备，可以在短时间内检测不同尺寸的LCD或是玻璃基板，而且应用简单的检测程序与时间就可完成检测。通过此，本专利技术即达成同时检测上、下玻璃的边缘，提高检测速度与 质量等目的。权利要求1. 一种玻璃检测方法，其特征在于包含有a. 放置一玻璃基板，使该玻璃基板的边缘对准一取像器；b. 使一第一光源自该玻璃基板的上方朝该玻璃基板发出光线，并使一第二光源自该玻璃基板的下方朝该玻璃基板发出光线；c. 移动该玻璃基板或该取像器，使该取像器撷取该玻璃基板的边缘影像；以及d. 判断该取像器所取得的影像。2. 依据权利要求1所述的玻璃检测方法，其特征在于，该步骤d是先 将瑕疵影像抽出之后，再分析该瑕疵影像的特征值，然后将该瑕本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃检测方法，其特征在于包含有：　ａ．放置一玻璃基板，使该玻璃基板的边缘对准一取像器；　ｂ．使一第一光源自该玻璃基板的上方朝该玻璃基板发出光线，并使一第二光源自该玻璃基板的下方朝该玻璃基板发出光线；　ｃ．移动该玻璃基板或该取像器，使该取像器撷取该玻璃基板的边缘影像；以及　ｄ．判断该取像器所取得的影像。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张勋章，王正宇，
申请(专利权)人：东捷科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]