【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及一种检测装置，特别是一种针对小型光学组件的检测装置。现有光学零组件的检测仪器主要为光波量测系统，藉由扫描波长测试系统的分析，将光学零件做等级分类，并将不良品筛检出来，传统此一量测分检动作，是采用人工作业，利用人力将待测零件夹持到测式系统的载台，加以定位后并开启激光光源，再由人力读取分析结果后参考资料库数据将产品分类的。此种办法除了因人为因素夹持细小工作上件产生定位的误差外，读取资料及比对资料库也可能产生错误，而长时间的量测及分类动作更造成人力的疲乏及浪费。本技术是这样实现的，一种检测装置，其特征在于包括一置料机构，一搬送机构及一量测机构；置料机构设于机架平台上，于两侧设有供承载工件的载板；搬送机构横跨于置料机构上方，其上设有固定座，该搬送机构带动固定座平移运动，以带动固定座上的取料头取放载板的工件；量测机构设于置料机构两侧载板间，具有复数组的检测平台，检测平台的一侧设有可平移的固定座，该固定座装设有适当数量的检测头，检测头移动至相关检测平台位置。以下结合附图以具体实施例对本技术进行详细说明。此等实例仅供举例说明之用而非限制本技术。待测上件是置放于载板11的载盘上，工件经由相应载板11位置区的搬送机构20的取料头22取放至检测平台31，定位杆32将工件推移定位后，检测头34经由固定座33的带动位移至相应检测平台31，再进行对待测上件的检测，检测数据经软体解读后与资料库内容进行比对，可得出该待测工件的等级并释出讯号给搬送机构20，藉搬送机构20的另侧取料头22将已测工件取放至相应载板12的分类载盘上，上述动作的连动及相关对应位置的决定则经由可程...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：余惠民，陈杲卿，王连能，
申请(专利权)人：技创科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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