元件分检装置制造方法及图纸

一种元件分检装置，主要包括一载料机构、一搬移机构、一微调定位机构及一量测机构，其特征在于： 该载料机构平设于机构平台上，设有标准料盘及成品料盘； 该搬移机构跨设于载料机构及微调定位机构上方，设有通过搬移机构带动进行两轴平移动作的取料头； 该微调定位机构设于载料机构的相对一方，设有复数组载台，每一载台设有可对载台上方的工件进行定位动作的一相应推杆； 该量测机构横设于微调定位机构上方，设有可平移至载台上方适当位置处的量测头。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及一种元件分检装置，特别是一种小型光学元件的分检装置。由于光学组件的量化是近几年才开始受到重视，一则是技术趋向成熟，一则是下游应用逐渐普及，但因光学组件的检测牵涉复杂的光学特性判读，包括波长、透光率、折射率等数据的分析归类，并需架构其线性度以为标准比对值，现在量测系统的间发生已逐步成熟，但传统光学元件的检测工作仍以人力为之，包括工件的取料、定位、数据判读、分类到放料皆然，仅量测由系统取代，此一模式在光学组件产量趋大成本趋低及品质要求越来越高的同时，已无法满足，如何开发一自动平台以有效取代上述人为动作并克服各动作的失误，是本技术的动机。本技术的上述目的是这样实现的，一种元件分检装置，主要包括一载料机构、一搬移机构、一微调定位机构及一量测机构，其中该载料机构平设于机构平台上，设有标准料盘及成品料盘；该搬移机构跨设于载料机构及微调定位机构上方，设有通过搬移机构带动进行两轴平移动作的取料头；该微调定位机构设于载料机构的相对一方，设有复数组载台，每一载台设有可对载台上方的工件进行定位动作的一相应推杆；该量测机构横设于微调定位机构上方，设有可平移至载台上方适当位置处的量测头。其中，上述各机构间的配合动作藉由可程序控制，对于元件的量测与分类可以使用更有效率的机械动作取代传统的人力，并使量测结果因载台水平角度调整及自动化定位控制而更为精确，大幅提升量测品质。以下结合附图以较佳实施例对关本技术进行详细说明。此等实例仅供举例说明之用，而非限制本技术。图2本技术的前视示意图。图3本技术的侧视示意图。附图标号说明10载料机构；11标准料盘；12成品料盘；20搬移机构；21取料头；30微调定位机构；31载台；32推杆；40量测机构；41量测头。本实施例的搬移机构20的取料头21经控制器的控制可移动至料盘11，12及载台31上方适当位置处，标准料盘11的待测上件经取料头21以吸附或夹持等方式移至载台31上，推杆32同步地对工件进行定位动作，量测头41平移至载台31上方，量测头41与外接的量测系统连接，在量测头41发射激光光源后，载台31并可因发射光源回馈量的分析自动调整水平角度，在载台31定位后，待测工件的光学量测动作并同步完成，并将量测结果输入量测系统，待系统将结果分析完成及分级判断后，取料头21经由控制器的讯号控制，再将已测工件取放至适当的成品料盘12上；以上各机构间的配合动作藉由服务器带动及可程控装置控制，对于组件的量测与分类可以使用更有效率的机械动作取代传统人力的浪费及时间的花费，使产量得以大幅增加，并使量测结果因载台31水平角度调整及自动化定位控制而更为精确，大幅提升量测品质。本技术实施例仅显示一种态样，但以上所述仅为本技术的较佳实施例，不能来限定本技术的范围，凡依本技术所述的内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本技术涵盖的范围。权利要求1.一种元件分检装置，主要包括一载料机构、一搬移机构、一微调定位机构及一量测机构，其特征在于该载料机构平设于机构平台上，设有标准料盘及成品料盘；该搬移机构跨设于载料机构及微调定位机构上方，设有通过搬移机构带动进行两轴平移动作的取料头；该微调定位机构设于载料机构的相对一方，设有复数组载台，每一载台设有可对载台上方的工件进行定位动作的一相应推杆；该量测机构横设于微调定位机构上方，设有可平移至载台上方适当位置处的量测头。2.如权利要求1所述的元件分检装置，其特征在于搬移机构的取料头以吸放或夹持方式进行工件的取放动作。3.如权利要求1所述的元件分检装置，其特征在于微调定位机构的载台可作水平角度自动调整。4.如权利要求1所述的元件分检装置，其特征在于微调定位机构的推杆以伸缩推移方式对载台上工件进行定位。专利摘要本技术是一种元件分检装置，包括有一载料机构、一搬移机构、一微调定位机构及一量测机构；载料机构可供盛放料盘，搬移机构跨设于载料机构及微调定位机构上，可进行两轴平移动作，将料盘组件取放于微调定位机构上，藉由微调定位机构对组件进行角度调整及位置定位动作，该量测机构可作平移动作对置放于微调定位机构上的组件进行检测；其中各机构间的配合动作藉由可程控装置控制，对于组件的量测与分类可以使用更有效率的机械动作取代传统的人力，并使量测结果因自动化定位控制而更为精确，提升产品品质。文档编号G01N21/93GK2544278SQ0223934公开日2003年4月9日 申请日期2002年6月21日 优先权日2002年6月21日专利技术者陈杲卿, 王连能 申请人:技创科技股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈杲卿，王连能，
申请(专利权)人：技创科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：