用于检验电子元件的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于检验电子元件的装置，该装置具有至少一个用于接触电子元件（17）的检验管座（13）并具有一个电耦合于检验管座（13）上的测试头。根据本发明专利技术，为了在检验管座（13）和检测头之间传输信号，设置一个转接板（1），该转接板在其面对检验管座（13）的那一侧上具有适配于检验管座（13）的触点位置的接触面（2），并且其背离检验管座（13）的那一侧设置有适配于中间板（6）的或测试头的触针（10）位置的接触套筒（4），其中所述接触面（2）与各个相应的接触套筒（4）导电地连接。

【技术实现步骤摘要】
用于检验电子元件的装置
本专利技术涉及用于检验电子元件的装置。
技术介绍
电子元件通常经受某些测试，以检查其电学功能或者也检查其传感（sonsorischen）功能。为此，已知多种选择。例如，将电子元件在其在基底上分切之前进行检验。在其分切和整理之后，可以要么将电子元件单独检验，要么提供一个载体，在该载体上固定多个电子元件。载体、基底或者单独的电子元件然后被移交给所谓的处理器。处理器具有一个通常固定的测试头，一个同样固定的检验管座与该测试头连接。载体、基底或者单独的元件相对于该检验管座移动并精确地定位。可以使用同时接触和检验多个电子元件的检验管座，或者单独检验每个元件。如果不是同时检验载体或基底的全部电子元件，则必须将载体或基底在每个检验步骤后重新定位。如果将电子元件单独移交于处理器上并且在那里还分离地再次加工，则将单独的元件插入所谓的引脚支座（Leadbacker）中并在其中相对于检验管座定位。引脚支座适配于待检验的电子元件的形式，并在压紧于检验管座上的情况下支撑该电子元件以及元件的任选地存在的接触脚，以使得电子元件不被作用的力损害。在负责电子元件的直接接触的测试头和检验管座之间，必须传递测试头的激励信号以及电子元件的应答信号。为此目的，检验管座在其背离电子元件的那一侧上具有接触面。该接触面的布置与电子元件的触点位置和其它条件（例如触点之间的所需距离、空间比例等）存在紧密联系。在这种情况下，通常不能够或者仅仅能够轻微地接受测试头的触点的固定布置。因此，通常使用一个或多个硬件接口，该硬件接口将检验管座的与电子元件背离的触点与测试头的触点连接。这样的硬件接口是已知的，它们在一侧包含适配于检验管座的接触面并在相对的那一侧上包含适配于测试头的触针。为了将这些触针稳定化，必须将它们浇铸在硬件接口中。因为触针必须很精确地定位，因此触针的浇铸是比较高成本且昂贵的。尽管如此，这些触针在改装于其它电子元件上的情况下或者在其安置过程中受损的风险是很大的。如果仅仅一个单独的触针被损坏或折断，整个硬件接口将变得不可用并且必须更换，因为在浇铸的触针的情况下不可能将其单独替换。
技术实现思路
本专利技术基于如下任务：设计一种用于检验电子元件的装置，以使得信号可以在检验管座和测试头之间以高的传递可靠性进行交换，并且将所使用的硬件接口结构简单地、廉价地并且稳固地实现。根据本专利技术，该任务通过用于检验电子元件的装置得以解决。根据本专利技术，为了在检验管座和检测头之间传输信号，设置一个转接板，该转接板在其面对检验管座的那一侧上具有适配于检验管座的触点位置的接触面，并且其背离检验管座的那一侧设置有适配于中间板的或测试头的触针位置的接触套筒，并且其中所述接触面与各个相应的接触套筒导电地连接。通过使用接触套筒而不是触针，可以显著降低运行成本。因为接触套筒至少不显著突出于转接板的表面，因此该接触套筒受损的风险明显比触针的情况下小。本专利技术的其它细节和优点呈现如下。有利地，在转接板一侧上的接触面的位置独立于在转接板相对侧上的相应的接触套筒的位置进行布置。这在方面，“独立地”意味着相应的接触面和接触套筒的位置可以直接重叠地或者彼此错位地布置。由此，接触面的位置可以以简单的方式对齐检验管座的触点位置并且接触套筒的位置可以对齐中间板的或检测头的触针位置。如上所述，接触面的位置独立于接触套筒的位置进行布置，以使得接触面或者接触套筒可以适配于检验管座或者测试头或者中间板。转接板因此有利地构造为印制电路板（Platine）。接触面和接触套筒之间的导电连接因此通过一种已长时间测试和证明的技术实现。通过将转接板构造为印制电路板，成本非常有利的生产也成为可能。尤其有利的是将接触套筒插入转接板的盲孔中。由此避免了贯通接触，并且用于检验管座的触针的接触面只存在于转接板的面对检验管座的那一侧上。转接板可以构造为可以很简单地适配所有条件的双层印制电路板。接触套筒可以与转接板通过导电粘合剂（所谓的ECA粘合剂（ElectricallyConductiveAdhesive））连接。但是，为了将转接板形成为可简单地修理，将接触套筒有利地与转接板焊接。接触套筒通常设计为具有开放的横截面，因此不形成封闭的环。由此，与待接触的触针表面的良好适配成为可能，因此触针和接触套筒之间的具有低接触电阻的良好电接触成为可能。接触套筒因此具有环状的法兰，其中仅仅该法兰与转接板的表面焊接。为了赋予接触套筒所需的稳定性，将该法兰形成为封闭的环，其中将内径的尺寸定为略大于触针的外径。如果为测试头设置套筒，为了形成所需的与检验管座的导电连接，根据本专利技术，在转接板和测试头之间设置具有可替换的触针的连接板作为中间板，该触针既从面对转接板的那一侧也从面对测试头的那一侧从表面突出。一侧上的触针的位置不必区别于另一侧上的触针的位置，因为该位置对检验管座或测试头的适配已经在转接板的造型过程中得到考虑。因此可以使用贯通的触针，该触针可很稳定地锚定在连接板中。通过触针的可替换性，连接板可以在一个或多个触针损坏的情况下被修理，并且不必用新的连接板替换。由此，将在检验管座和测试头之间的转移链中所需的、但是非常易受损的触针转移到独立的板中，在该板中可以将它们容易地替换。为了能够将在两侧上突出于表面的触针以简单的方式替换，连接板具有两个彼此连接的部分，所述部分为了触针的替换可彼此分离并再次连接。受损的触针的更换由此非常简单地成为可能。为此，只需将两部分之间的连接（有利地为螺钉连接）拆卸，以使得可以将两部分彼此分离。然后将松散地插入两部分之一中的受损的触针更换并将两部分再次彼此连接。电子元件经常必须在很低的温度下检验，而具有检验用电子设备的测试头暴露于常温的环境空气。因此，可以发生在电子元件和测试头之间的转移链的一点上来自环境空气的水份发生冷凝的情况。该水份可以在间距很窄的单个触点之间形成导电连接，并因此导致错误测量，甚至导致对测试头的检验用电子设备的损害。为了避免水份的冷凝，因此将冷区域与常温区域严格分离。为此，连接板具有一个温度隔离层。然而，连接板的冷侧和热侧之间的热传递可以通过贯通的、在两侧上突出于表面的触针进行。由此可以在接纳边（Aufnahmebord）的热侧上在冷的触针上形成露水。为了避免该露水的形成，连接板在其面对测试头的那一侧上可用空气吹扫。本专利技术的其它细节和优点由实施例的说明呈现出来，所述实施例参照附图进行详细解释。附图说明图1以透视图示出一种根据本专利技术的转接板，图2示出通过图1的转接板的截面，图3以透视图示出形成为连接板的中间板，图4示出通过图3的连接板的截面，图5示出通过具有转接板和连接板的接触单元支架的截面，图6示出图5的组件的立体截面图。附图标记示意如下：1：转接板2：接触面3：盲孔4：接触套筒5：环形接合法兰6：连接板7：下部8：上部9：连接螺钉10：触针11：触针上部12：触针下部13：检验管座14：检验簧15：簧末端16：检验尖17：电子元件18：引脚支座19：终端板20：通风空间21：锁紧栓22：定心板23：检验管座支架（接触单元支架）具体实施方式根据本专利技术的在图1中示出的转接板1是为了大致方形的电子元件的检验而设计，该转接板在所有四个侧面上具有触点。相应地构造了一个用于检验元件的检验管座。因此，转接本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于检验电子元件的装置，该装置具有至少一个用于接触电子元件（17）的检验管座（13）并具有一个电耦合于检验管座（13）上的测试头，其特征在于，为了在检验管座（13）和检测头之间传输信号，设置一个转接板（1），该转接板在其面对检验管座（13）的那一侧上具有适配于检验管座（13）的触点位置的接触面（2），并且其背离检验管座（13）的那一侧设置有适配于中间板（6）的或测试头的触针（10）位置的接触套筒（4），其中所述接触面（2）与各个相应的接触套筒（4）导电地连接。

【技术特征摘要】
2013.03.01 DE 102013203536.51.用于检验电子元件的装置，该装置具有至少一个用于接触电子元件(17)的检验管座(13)并具有一个电耦合于检验管座(13)上的测试头，其特征在于，为了在检验管座(13)和测试头之间传输信号，设置一个转接板(1)，该转接板在其面对检验管座(13)的那一侧上具有适配于检验管座(13)的触点位置的接触面(2)，并且其背离检验管座(13)的那一侧设置有适配于连接板(6)的或测试头的触针(10)位置的接触套筒(4)，其中所述接触面(2)与各个相应的接触套筒(4)导电地连接。2.根据权利要求1的用于检验电子元件的装置，其特征在于，转接板(1)一侧上的接触面(2)的位置独立于在转接板(1)相对侧上的相应的接触套筒(4)的位置进行布置。3.根据权利要求1的用于检验电子元件的装置，其特征在于，转接板(1)构造为印制电路板。4.根据权利要求1的用于检验电...

【专利技术属性】
技术研发人员：G·斯坦尼斯泽维斯基，M·彼得曼，G·吉克文德伯格，
申请(专利权)人：马提特斯电子系统有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE