本实用新型专利技术公开了一种检测装置。其包括：激光发生器，用于发射激光输入到待测激光探测器；固定装置，用于固定和夹持所述激光发生器和所述激光探测器，调节和控制所述激光发生器和所述激光探测器在三维方向上的相对位置；电流测试器，用于测试所述激光探测器监控管脚上的监控电流。本实用新型专利技术提供的检测装置可以在所述激光探测器封装过程中，不用切开所述激光探测器，就可以简单、准确地检测出其内部的监控模式是输出拉电流模式还是灌入电流模式。
【技术实现步骤摘要】
检测装置
本技术涉及光通信检测领域，特别涉及适用于激光器探测器的检测装置。
技术介绍
在光纤通信系统中，2.5Gbps及以下速率的TO封装激光探测器(PIN-TIA)由于体积小，成本低连接方便，被广泛应用。 图1为现有技术中激光探测器(PIN-TIA)的电路原理图。如图1所示，激光探测器(PIN-TIA)工作模式:由于该激光探测器(PIN-TIA)应用于光通讯系统设备里的智能部分，所以在设备使用过程中，会自动显示输入的激光功率，同时对激光功率进行监控。 其中:管脚2IMONT为监控脚，对输入激光的光功率进行监控，监控脚输出激光光功率的监控信号。输出监控信号有两种工作模式，当线I部分(图1)连接，为输出拉电流(Isource)模式；当线I部分断开，为输出灌入电流(Isink)模式。Isource模式为:当激光输入的时候，监控脚会主动输出电流，根据电流的大小，可以监控激光的功率。Isink模式为:当激光输入的时候，监控脚没有电流输出，当对该脚加电压的时候，会有漏电流(注入电流)产生，根据激光功率的不同，该处漏电流的大小也不同，对该处漏电流进行监控也可以监控激光的功率。 从激光探测器(PIN-TIA)到设备的主要生产过程为激光探测器(PIN-TIA)封装、模块的组装以及设备组装和安装。在生产和供应过程容易出现以下问题:激光探测器(PIN-TIA)封装的过程中，会出现内部电路少焊接一根线1，导致激光探测器(PIN-TIA)的监控模式由Isource模式转为Isink模式。 激光探测器(PIN-TIA)在制作工艺中，会在模块组装的软件校验过程中或者设备的组装和安装过程，发现问题，产生不良现象，通讯设备的监控软件上不能显示由激光探测器(PIN-TIA)输出的激光功率监控值。该时通讯设备或者模块产品已经完成，等待包装入库，返工将会造成很大的损失。
技术实现思路
有鉴于此，本技术针对现有技术中存在的上述或其他缺陷，本技术提出一种检测装置，本技术可不用切开激光探测器，就可以检测出内部的监控模式是Isource模式还是Isink模式，即检测内部电路控制逻辑电路(CONTROL LOGIC)是否接地(GND) ο 为了解决上述技术问题，本技术提供了一种检测装置，包括:激光发生器，用于发射激光输入到待测激光探测器；固定装置，用于固定和夹持所述激光探测器和所述激光发生器；调节和控制所述激光发生器和所述激光探测器在三维方向上的相对位置；电流测试器，用于测试所述激光探测器监控管脚上的监控电流。 进一步地，所述激光发射器包括陶瓷插针光纤、可调式光衰减器。 进一步地，所述激光探测器(PIN-TIA)包括透镜、管帽、管座、光电转换芯片，所述光电转换芯片贴在所述管座上，所述芯片的引脚通过金丝焊接到所述管座上表面的管脚上，管脚通过管座，在管座的下表面引出管脚，所述芯片通过管帽填充氮气密封，所述透镜通过胶体粘结在所述管帽上，用于接收输入激光。 进一步地，所述固定装置包括控制平台，控制所述激光发射器沿Z轴方向运动，控制所述管座在水平面X轴、Y轴方向运动。 进一步地，所述控制平台包括有一 L型基座、一 X轴滑移单元、一 Y轴滑移单元、一Z轴滑移单元，所述Z轴滑移单元包括可沿所述基座向Z轴运动的第一平板，所述Y轴滑移单元包括可沿基座向Y轴运动的第二平板，所述X轴滑移单元包括可沿第二平板向X轴运动的第三平板，其中，所述第二平板设置在所述基座的水平平面上，所述第三平板设置在所述第二平板上，所述第一平板设置在所述基座的垂直平面上。 进一步地，还包括光纤夹持固定器，所述光纤夹持固定器一端设置在所述第一平板上，另一端用于固定和夹持所述激光发生器，并且可以沿Z轴方向运动，且可调节所述激光发射器相对于激光探测器沿Z轴方向的距离。 进一步地，所述第三平台上设置基台，所述基台上设置固定架，所述固定架用于放置和夹持所述管座，并且可沿X轴、Y轴方向运动，用于调节所述激光发射器相对于激光探测器沿Χ/γ轴方向的距离。 进一步地，所述监控电流为0.20?0.30mA是输出拉电流模式；所述监控电流为40?60uA是灌入电流模式。 进一步地，所述电流测试器为皮安表。 本技术与现有技术相比，其优点主要在于: 该装置从激光探测器到设备的生产工序初期，就能够发现和预防激光探测器内部的不良现象。避免在从激光探测器到设备的生产工序后期发现不良现象，节约大量的返工和返修原材料和人工的损失。 【附图说明】 为了使本技术的内容更容易被清楚的理解，下面根据的具体实施例子并结合附图，对本技术作进一步详细的说明，其中: 图1为现有技术中激光探测器(PIN-TIA)的电路原理图； 图2为本技术测试装置结构平面示意图； 图3为本技术图2中激光探测器(PIN-TIA)的结构示意图； 图4为本技术图2中固定装置的结构示意图； 图5为本技术检测装置的原理示意图。 【具体实施方式】 结合附图对本技术作进一步的描述如下: 图2为本技术测试装置结构平面示意图。如图2所示，本技术提供了一种检测装置，包括:激光发生器21，用于发射激光输入到待测激光探测器(PIN-TIA) 25 ;固定装置24，用于固定所述激光探测器(PIN-TIA) 25和所述激光发生器21，调节和控制所述激光发生器21和所述激光探测器(PIN-TIA) 25在三维方向上的相对位置；电流测试器(图未示)，用于测试所述激光探测器(PIN-TIA) 25监控管脚上的监控电流。其中，所述激光发射器可选择地包括陶瓷插针光纤、可调式光衰减器。 其中，激光发生器包括光纤，优选为陶瓷插针光纤，该光纤为一直径2.5mm的陶瓷圆柱，正中心有直径9 μ m的光纤玻璃，是激光22的通路。其从激光发生器21接入激光22，发射到透镜上。其中，光纤夹持固定器23为一锁定和夹持机构，起到固定光纤的作用。 其中，激光探测器(PIN-TIA)的固定装置24有两个作用:一个为固定作用，可以对激光探测器(PIN-TIA)的管座部分和激光发生器的光纤部分进行固定和夹持；另一个作用为在固定住的同时，可以通过三个调节螺栓将整个固定机构，在X/Y/Z三个方向，即水平面的X/Y轴方向和垂直水平面的Z轴方向进行移动。作用为:移动整个固定机构，其实是在调节所述激光发生器21和所述激光探测器(PIN-TIA) 25在三维方向上的相对位置，使用通过透镜来的激光，在透镜的汇聚的作用下，激光的焦点完全落到光电转换电路的光敏面，接收激光的表面上，使得整个光电转换电路具有最强的光电转换功能。管脚26和外部的电路相连接，为激光探测器(PIN-TIA) 25供电和输出信号。 图3为本技术图2中激光探测器(PIN-TIA)的结构示意图。如图3所示，所述激光探测器(PIN-TIA)包括透镜31、管帽33、管座36、金丝35、光电转换芯片34，所述光电转换芯片34贴在所述管座36上，所述芯片34的引脚通过金丝35焊接到所述管座36上表面的管脚37上，管脚37通过管座36，在管座36的下表面引出管脚37，所述芯片34通过管帽33填充氮气并且密封，所述透镜31通过胶本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测装置，包括：激光发生器，用于发射激光输入到待测激光探测器；固定装置，用于固定和夹持所述激光探测器和所述激光发生器；调节和控制所述激光发生器和所述激光探测器在三维方向上的相对位置；电流测试器，用于测试所述激光探测器监控管脚上的监控电流。
【技术特征摘要】
1.一种检测装置，包括: 激光发生器，用于发射激光输入到待测激光探测器； 固定装置，用于固定和夹持所述激光探测器和所述激光发生器；调节和控制所述激光发生器和所述激光探测器在三维方向上的相对位置； 电流测试器，用于测试所述激光探测器监控管脚上的监控电流。2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于:所述激光发射器包括陶瓷插针光纤、可调式光衰减器。3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于:所述激光探测器包括透镜、管帽、管座、光电转换芯片等，所述光电转换芯片贴在所述管座上，所述芯片的引脚通过金丝焊接到所述管座上表面的管脚上，管脚通过管座，在管座的下表面引出管脚，所述芯片通过管帽填充氮气密封，所述透镜通过胶体粘结在所述管帽上，用于接收输入激光。4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于:所述固定装置包括控制平台，控制所述激光发射器沿Z轴方向运动，控制所述管座在水平面X轴、Y轴方向运动。5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于:所述控制平台包括有一L型基座、一 X轴滑移单元、一 Y轴滑移单元、一 Z轴滑移单元，所述Z轴...
【专利技术属性】
技术研发人员：王大海，朱小先，朱利琼，冷蓉蓉，
申请(专利权)人：江苏奥雷光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。