【技术实现步骤摘要】
一种诊断装置、方法和芯片
本专利技术涉及芯片测试
,具体而言,涉及一种诊断装置、方法和芯片。
技术介绍
目前芯片的调试手段要么因获取的调试信息的局限性,使得定位问题的效率和准确性有限;或者因在芯片设计阶段对如何输出调试信息,将相关的硬件进行固定设置,使得芯片的调试不具有灵活性。
技术实现思路
本专利技术的目的包括,例如,提供了一种诊断装置、方法和芯片,其能够灵活、高效、准确的定位问题。本专利技术的实施例可以这样实现:第一方面,本专利技术实施例提供一种诊断装置,应用于芯片,所述诊断装置包括可编程诊断器单元,所述芯片包括待测模块,所述待测模块与所述可编程诊断器单元电连接;所述可编程诊断器单元用于根据预设规则对所述待测模块输出的测试信号进行问题诊断,得到输出结果;其中,所述预设规则依据所述芯片的问题设计得到,且所述芯片的问题不同设计得到的所述预设规则不一致。第二方面,本专利技术实施例提供一种诊断方法,应用于诊断装置,所述诊断装置应用于芯片,所述芯片包括待测模块,所述诊断装置 ...
【技术保护点】
1.一种诊断装置,其特征在于,应用于芯片,所述诊断装置包括可编程诊断器单元,所述芯片包括待测模块,所述待测模块与所述可编程诊断器单元电连接;/n所述可编程诊断器单元用于根据预设规则对所述待测模块输出的测试信号进行问题诊断,得到输出结果;其中,所述预设规则依据所述芯片的问题设计得到,且所述芯片的问题不同设计得到的所述预设规则不一致。/n
【技术特征摘要】
1.一种诊断装置,其特征在于,应用于芯片,所述诊断装置包括可编程诊断器单元,所述芯片包括待测模块,所述待测模块与所述可编程诊断器单元电连接;
所述可编程诊断器单元用于根据预设规则对所述待测模块输出的测试信号进行问题诊断,得到输出结果;其中,所述预设规则依据所述芯片的问题设计得到,且所述芯片的问题不同设计得到的所述预设规则不一致。
2.根据权利要求1所述的诊断装置,其特征在于,所述诊断装置还包括打包单元,所述待测模块通过所述打包单元与所述可编程诊断器单元电连接;
所述打包单元用于对所述测试信号进行压缩处理。
3.根据权利要求2所述的诊断装置,其特征在于,所述诊断装置还包括多路选择单元,所述打包单元通过所述多路选择单元与所述可编程诊断器单元电连接;
所述多路选择单元用于在所述待测模块为多个时,对所述打包单元进行压缩处理后的多个所述待测模块的测试信号进行选择,并将选择后的测试信号发送至所述可编程诊断器单元。
4.根据权利要求1所述的诊断装置,其特征在于,所述诊断装置还包括预设的逻辑接口,所述芯片还包括输出接收模块,所述可编程诊断器单元通过所述逻辑接口与所述输出接收模块电连接;
所述逻辑接口用于将所述输出结果传输至所述输出接收模块。
5.根据权利要求1所述的诊断装置,其特征在于,所述可编程诊断器单元由例化的嵌入式基于现场可编程门阵列单元组成。
6.一种诊断方法,其特征在于,应用于诊断装置,所述诊断装置应用于芯片,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘洋,
申请(专利权)人:江苏芯盛智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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