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本发明的实施例提供了一种诊断装置、方法和芯片，涉及芯片测试技术领域。该诊断装置应用于芯片，该诊断装置包括可编程诊断器单元，芯片包括待测模块，待测模块与可编程诊断器单元电连接；可编程诊断器单元用于根据预设规则对待测模块输出的测试信号进行问题诊...
该专利属于江苏芯盛智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏芯盛智能科技有限公司授权不得商用。

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