一种探针结构制造技术

本实用新型专利技术提供一种探针结构，其减小探针对电路板的测量面积，且减少测量中心位的偏离，其包括探针体，其特征在于：所述探针体一端为锥形针尖状，所述探针体另一端设置有两根竖杆。

【技术实现步骤摘要】
一种探针结构
本技术涉及电路测试工具的
，尤其指一种探针结构。
技术介绍
见图1，四线测量法是在被测的PCB线路设定四测试点，比通常的测量法多了两根馈线，断开电压测量端与恒流源两端连线。其中一回路作为电源供给，另一回路作为高阻抗测量，恒流源与被测电阻Rx、馈线RL1、RL2构成一回路。送至电压测量端的电压只有Rx两端的电压，馈线RL1、RL2电压没有送至电压测量端。因此馈线电阻RL1和RL2对测量结果没有影响，馈线电阻RL3和RL4对测量有影响，但是影响很小，由于电压测量回路的阻抗（MΩ级）远大于馈线电阻（Ω级），所以四线测量法测量小电阻的准确度很高，现有的四线测量法，通常采用两只探针完成测量，一测电阻、一根测电流，探针对电路板的测量面较大，且会产生测量中心位的偏离。
技术实现思路
针对现有技术之不足，本技术提供一种探针结构，其减小探针对电路板的测量面积，且减少测量中心位的偏离。其技术方案是这样的：一种探针结构，其包括探针体，其特征在于：所述探针体一端为锥形针尖状，所述探针体另一端设置有两根竖杆。其进一步特征在于：所述竖杆与所述探针体焊接连接；所述探针体与所述竖杆为金属材料；所述探针体的直径为0.6mm-1.3mm；所述竖杆直径为0.1mm-0.5mm；所述探针体的直径为0.8mm，所述竖杆直径为0.2mm。本技术采用上述方案，由于探针体一端为锥形针尖状，探针体另一端设置有两根竖杆，两根竖杆连接导线实现电阻测量，两根针集成一根针结构，在实现两根针测量的同时，减小探针对电路板的测量面积，且减少测量中心位的偏离。附图说明图1为四线测量法示意图；图2为本技术探针结构示意图；图3为本技术探针结构测量原理图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本技术做进一步说明。见图2，一种探针结构，其包括探针体1，探针体1一端为锥形针尖状3，探针体1另一端设置有两根竖杆2，竖杆2与探针体1焊接连接，探针体与竖杆1为金属材料，探针体的直径为0.6mm-1.3mm，竖杆直径为0.1mm-0.5mm；优选探针体的直径为0.8mm，所述竖杆直径为0.2mm，原来两根独立的探针测量变成了一根双针完成，减小对电路的接触面积的50%，使用一根探针头更精准地接触电路板测试点中心位，减小偏离，最大化保证电路板四线测试过程中的准确性可靠性，探针有原来的上下一样粗变为针头放大形，使针头抗压力增强，减少弯针耗损，耐用性更强，从而简化探针，减少损耗，提高使用率降低生产成本。实施例中，探针体的直径为0.8mm，所述竖杆直径为0.2mm，其检测性能最佳，适用范围最广。结合附图3来说明采用本技术的探针结构测试的工作原理：本产品使用在电路四线测试过程中，测试机4将电流输送给导线5→探针6→电路板测试点7→另一端电路板测试点8→探针9→导线10→测试机4，形成第一回路作为电流供给；测试机4连接导线11→探针9→电路板测试点8→另一端电路板测试点7→探针6→导线12→测试机4，形成第二回路作为高抗电阻。以上示意性地对本技术及其实施方式进行了描述，该描述没有限制性，附图中所示的也只是本技术的实施方式之一，实际的结构并不局限于此，只要本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针结构，其包括探针体，其特征在于：所述探针体一端为锥形针尖状，所述探针体另一端设置有两根竖杆，所述探针体与所述竖杆为金属材料且通过焊接连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种探针结构，其包括探针体，其特征在于：所述探针体一端为锥形针尖状，所述探针体另一端设置有两根竖杆，所述探针体与所述竖杆为金属材料且通过焊接连接。


2.根据权利要求1所述的一种探针结构，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨用金，
申请(专利权)人：无锡捷赛航电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32