【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路测试的芯片转换插座
本技术涉及电器设备
,具体为一种用于集成电路测试的芯片转换插座。
技术介绍
在微电子器件
,设计完成的各种电路通常都是按照预设的方案进行电子器件的面包板插接来验证。现有的芯片转化插座存在一个严重的问题就是在使用时插座的大小不能进行自由的组装,从而在对芯片进行测试时,必须使用的是特定的转换插座,从而使得插座的使用具有局限性。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于集成电路测试的芯片转换插座,以解决上述
技术介绍
中提出的芯片转化插座在使用时插座的大小不能进行自由的组装,从而在对芯片进行测试时,必须使用的是特定的转换插座,从而使得插座的使用具有局限性的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种用于集成电路测试的芯片转换插座,包括插座装置和压紧装置,所述插座装置包括两个插接板、两个连接板和插柱,两个所述插接板之间通过两个所述连接板熔接固定,所述插接板的底部插接两个所述插柱,所述插接板的右侧壁通过旋转轴安装有插销,所述插接板的左侧壁开有销孔,相邻的两个所 ...
【技术保护点】
1.一种用于集成电路测试的芯片转换插座,其特征在于:包括插座装置(100)和压紧装置(200),所述插座装置(100)包括两个插接板(110)、两个连接板(120)和插柱(130),两个所述插接板(110)之间通过两个所述连接板(120)熔接固定,所述插接板(110)的底部插接两个所述插柱(130),所述插接板(110)的右侧壁通过旋转轴(112)安装有插销(111),所述插接板(110)的左侧壁开有销孔(113),相邻的两个所述插座装置(100)之间通过所述插销(111)与所述销孔(113)连接,所述插接板(110)的顶部开有凹型槽(140)和定位孔(150),所述凹型槽 ...
【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试的芯片转换插座,其特征在于:包括插座装置(100)和压紧装置(200),所述插座装置(100)包括两个插接板(110)、两个连接板(120)和插柱(130),两个所述插接板(110)之间通过两个所述连接板(120)熔接固定,所述插接板(110)的底部插接两个所述插柱(130),所述插接板(110)的右侧壁通过旋转轴(112)安装有插销(111),所述插接板(110)的左侧壁开有销孔(113),相邻的两个所述插座装置(100)之间通过所述插销(111)与所述销孔(113)连接,所述插接板(110)的顶部开有凹型槽(140)和定位孔(150),所述凹型槽(140)的内腔底部镶嵌有金属片(141),所述金属片(141)与所述插柱(130)连通,所述定位孔(150)位于两个所述凹型槽(140)的中间位置,所述压紧装置(200)通过合页(2...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐杰,陈明生,高先昂,张惠峰,徐斌,毛金梅,葛家兴,
申请(专利权)人:安徽泰德电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:安徽;34
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