一种测试治具制造技术

一种测试治具，其包括：基座，所述基座上设有载板；所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽；所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面，所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内；探针组件，设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接；以及测试组件，与所述探针组件导电连通，并对所述待测板进行测试。

A test fixture

【技术实现步骤摘要】
一种测试治具
本技术涉及电子器件的检测
，具体涉及一种测试治具。
技术介绍
随着电子产业的飞速发展，电子产品在制造过程中均需要进行严格的测试，电子产品的测试通常是将电子产品连接至插接与测试主机的转接板测试卡，通过电子产品与测试机之间的通信实现测试。由于测试过程中转接板需要频繁连接待测板件，因此转接板的连接端的损耗较大，从而造成转接板的使用寿命较短，更换频率较高，从而带来了产能的下降。现有测试治具中转接板与待测板件连接的输入端通常为悬空设置于待测板件的安装槽开口处，使其与位于安装槽内的待测板件导电接通，因此当操作人员取放待测板件时，待测板件进入或者移出过程中易带动转接板产生上下方向的弯折，从而产生损耗，降低了其使用寿命。
技术实现思路
因此，本技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的测试治具中对转接板和待测板件的连接处缺乏使其处于同一平面内的有效支撑，易导致转接板的连接端损坏的缺陷，从而提供一种测试治具。为此，本技术的技术方案如下：一种测试治具，其包括：基座，所述基座上设有载板；所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽；所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面，所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内；探针组件，设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接；以及测试组件，与所述探针组件导电连通，并对所述待测板进行测试。进一步地，所述第一容纳槽上还设有压板，所述压板将所述转接板压置固定于所述第一容置槽中。进一步地，所述压板与所述载板活动连接。进一步地，所述压板通过螺栓固定于所述载板上。进一步地，所述压板的一端与所述载板枢接，另一端通过锁紧件与所述载板活动连接。进一步地，所述锁紧件包括设于所述压板和所述载板其中一个上的卡扣，以及设于另一个上的与所述卡扣配合的卡槽。进一步地，所述压板上与所述转接板接触的表面还设有防护层。进一步地，所述第一容置槽和/或所述第二容置槽内设有对其内的板件进行定位的定位销。进一步地，所述测试治具还包括下压组件，所述下压组件将所述待测板件压置于所述第二容置槽中，并使所述待测板件的测试端与所述转接板的输入端保持导通连接。进一步地，所述测试治具为ICT测试治具。本技术技术方案，具有如下优点：本技术提供的测试治具，包括：基座，基座上设有载板；载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽；第一容置槽和第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面，连通平面使转接板的输入端和待测板件的测试端处于同一平面内；探针组件，设于载板上并与转接板的输出端导通连接；以及测试组件，与探针组件导电连通，并对待测板进行测试。通过设置有分别容纳载板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽，并在容置槽之间设有使其连通的连通平面，使转接板的输入端和待测板件的测试端位于同一平面内，通过连通平面对待测板件和转接板的连接端部进行稳定的支撑，避免转接板的输入端悬空设置，因此可避免取放待测板件的过程中其测试端带动转接板的输入端来回弯折，由此减少了转动板的损耗，提高了其使用寿命，并提升了测试性能和效率；由于更换转接板的次数减少，由此也提高了产线的测试产能。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的测试治具的主视图；图2为图1中载板的结构示意图；图3为图1中下压板组的结构示意图。附图标记说明：1-基座；2-载板；3-探针组件；4-第一容置槽；5-第二容置槽；6-压板；7-天板；8-下压手柄；9-下压板组；91-上层压板；92-下层压板；93-导向杆；10-定位导向杆；11-固定螺栓；12-连通平面。具体实施方式下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。实施例1如图1所示，本技术记载了一种测试治具，具体指一种ICT测试治具，当然其也不限于ICT测试治具，也可为其他对电路板件进行导电接通的测试治具。其包括基座1、探针组件3和测试组件。其中基座1上设有载板2，载板2通过固定螺栓11固定于基座1上，载板2上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽4和第二容置槽5；转接板通过压板6固定于第一容置槽4内；探针组件3设于载板2上并与转接板的输出端导通连接；探针组件3中的测试针的一端始终与转接板上的输出端导电连通，测试针的另一端通过导线与测试组件导电连通，测试组件通过探针组件和转接板对待测板进行测试。如图2所示，其中第一容置槽4和第二容置槽5之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面12，连通平面12使转接板的输入端和待测板件的测试端处于同一平面内。通过上述设置避免转接板输入端悬空设置，由此避免待测板件取放的过程中对转接板的连接端产生的使其反复弯折的作用力，由此减少了测试的过程中取放待测板件时对转接板的输入端的磨损，提高了转接板的使用寿命；减少了转接板的更换频率，由此提高了测试的产能。其中为方便取放转接板和待测板件，可在第一容置槽4和第二容置槽5上分别设有与第一容置槽活第二容置槽连通的取放凹槽，便于操作人员的手指从取放凹槽放置或者取出转接板和待测板件。本实施例中的压板6对应设置于第一容纳槽4的上方，压板6用于将转接板压置固定于第一容置槽4中，其中压板6与载板2活动连接。本实施例中压板6为一长条形板件，其两端分别设置有螺孔，与之对应的载板2上相应的位置也分别设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试治具，其特征在于包括：/n基座，所述基座上设有载板；所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽；所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面，所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内；/n探针组件，设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接；/n以及测试组件，与所述探针组件导电连通，并对所述待测板进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于包括：
基座，所述基座上设有载板；所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽；所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面，所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内；
探针组件，设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接；
以及测试组件，与所述探针组件导电连通，并对所述待测板进行测试。


2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述第一容置槽上还设有压板，所述压板将所述转接板压置固定于所述第一容置槽中。


3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于：所述压板与所述载板活动连接。


4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于：所述压板通过螺栓固定于所述载板上。


5.根据权利要求3所述的测试治具...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭士军，高裕弟，孙剑，洪耀，韩中伟，
申请(专利权)人：枣庄维信诺电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37