本实用新型专利技术提供一种玻璃基板的测试治具，包括底座、驱动主板、限位边框、基架、导向机构、测试压板、导杆、测试线和测试探针；所述驱动主板设置于所述底座的内部；所述限位边框与所述基架设置于所述底座的上部；所述导向机构设置于所述基架；所述测试探针设置于所述测试压板；所述导杆与所述导向机构配合，所述导杆的下端连接所述测试压板，带着测试压板靠近或远离所述限位边框；所述测试探针经所述测试线与所述驱动主板连接。本实用新型专利技术的有益效果是：采用本测试治具直接对玻璃基板进行测试，及时发现不良品，避免进入后工序，减少物料的浪费。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及LED显示
，特别是一种玻璃基板的测试治具。
技术介绍
现有的薄膜液晶显示器，其薄膜晶体管，能够对各个像素进行独立控制，所以具有 亮度高、对比度高、层次感强、颜色鲜艳的优点，但，存在着耗电、成本高、良率低的缺点。 在生产厂，一般来料为大的玻璃基板，经过切割机切割出生产线使用尺寸规格的 小料玻璃基板。 玻璃基板，因为制程的原因，来料良率仅达92%，最好时可达97%，无法达到 100%。而且，大料的玻璃基板切割成小料的玻璃基板过程中，与玻璃表面有接触的工艺，会 产生玻璃肩、硬的毛刺、硬物颗粒，这些小的物质与玻璃基板的表面产生摩擦，造成玻璃基 板表面的划伤。如果不进行测试直接投入生产，待到后工序才发现此不良，易造成其它物料 的浪费。
技术实现思路
为了解决上述现有的技术问题，本技术提供一种玻璃基板的测试治具，直接 对玻璃基板进行测试，及时发现不良品，避免进入后工序，减少物料的浪费。 本技术解决上述现有的技术问题，提供一种玻璃基板的测试治具，包括底座、 驱动主板、限位边框、基架、导向机构、测试压板、导杆、测试线和测试探针；所述驱动主板设 置于所述底座的内部；所述限位边框与所述基架设置于所述底座的上部；所述导向机构设 置于所述基架；所述测试探针设置于所述测试压板；所述导杆与所述导向机构配合，所述 导杆的下端连接所述测试压板，带着测试压板靠近或远离所述限位边框；所述测试探针经 所述测试线与所述驱动主板连接。 本技术更进一步的改进如下所述。 包括手柄；所述手柄与所述导杆连接，经所述导杆使得测试压板靠近或远离所述 限位边框。 包括电源插孔；所述电源插孔设置于所述底座。 包括电源开关；所述电源开关设置于所述底座，并与所述驱动主板电性连接。 包括点触开关；所述点触开关设置于所述底座，并与所述驱动主板电性连接。 所述导杆为并列的三根；对应的所述导向机构的配合孔为三个。 相较于现有技术，本技术的有益效果是：采用本测试治具直接对玻璃基板进 行测试，及时发现不良品，避免进入后工序，减少物料的浪费。【附图说明】 图1为本技术玻璃基板的测试治具结构示意图。 【具体实施方式】 下面结合【附图说明】及【具体实施方式】对本技术进一步说明。 如图1所示，一种玻璃基板的测试治具，包括底座11、驱动主板（位于底座11的内 部，未图示出）、限位边框16、基架17、导向机构18、测试压板19、导杆21、测试线22和测试 探针23。驱动主板设置于底座11的内部；限位边框16与基架17设置于底座11的上部； 导向机构18设置于基架17 ;测试探针23设置于测试压板19 ;导杆21与导向机构18配合， 导杆21的下端连接测试压板19,带着测试压板19靠近或远离限位边框16 ;测试探针23经 测试线22与驱动主板连接。其工作原理是：移动导杆21，带着测试压板19远离限位边框 16,以将下偏光片、待测玻璃基板和上偏光片置于限位边框16内。再移动导杆21，带着测试 压板19靠近限位边框16,至测试探针23对接玻璃基板上的信号测试点，例如：R、G、B、VC0M 信号测试点。当电源接通时，进行画面的显示，从而判断该玻璃基板是否合格。 本技术测试治具还包括手柄20 ;手柄20与导杆21连接，经导杆21使得测试 压板19靠近或远离限位边框16,设置手柄20,方便人员操作移动导杆21。亦包括电源插 孔13 ;电源插孔13设置于底座11，方便外接电源。亦包括电源开关14 ;电源开关14设置 于底座11，并与驱动主板电性连接。亦包括点触开关15 ;点触开关15设置于底座11，并与 驱动主板电性连接，按下点触开关15进行画面的切换。 本技术，为了保证测试压板19的平稳，导杆21为并列的三根；对应的导向机 构18的配合孔为三个，当测试压板19靠近限位边框16,其平稳对接玻璃基板的多个信号测 试点。 本技术采用本测试治具直接对玻璃基板进行测试，及时发现不良品，避免进 入后工序，减少物料的浪费。 以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能 认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术 人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视 为属于本技术的保护范围。【主权项】1. 一种玻璃基板的测试治具，其特征在于： 包括底座、驱动主板、限位边框、基架、导向机构、测试压板、导杆、测试线和测试探针； 所述驱动主板设置于所述底座的内部；所述限位边框与所述基架设置于所述底座的上 部；所述导向机构设置于所述基架；所述测试探针设置于所述测试压板； 所述导杆与所述导向机构配合，所述导杆的下端连接所述测试压板，带着测试压板靠 近或远离所述限位边框； 所述测试探针经所述测试线与所述驱动主板连接。2. 根据权利要求1所述的玻璃基板的测试治具，其特征在于：包括手柄；所述手柄与所 述导杆连接，经所述导杆使得测试压板靠近或远离所述限位边框。3. 根据权利要求2所述的玻璃基板的测试治具，其特征在于：包括电源插孔；所述电源 插孔设置于所述底座。4. 根据权利要求3所述的玻璃基板的测试治具，其特征在于：包括电源开关；所述电源 开关设置于所述底座，并与所述驱动主板电性连接。5. 根据权利要求4所述的玻璃基板的测试治具，其特征在于：包括点触开关；所述点触 开关设置于所述底座，并与所述驱动主板电性连接。6. 根据权利要求1至5任意一项所述的玻璃基板的测试治具，其特征在于：所述导杆 为并列的三根；对应的所述导向机构的配合孔为三个。【专利摘要】本技术提供一种玻璃基板的测试治具，包括底座、驱动主板、限位边框、基架、导向机构、测试压板、导杆、测试线和测试探针；所述驱动主板设置于所述底座的内部；所述限位边框与所述基架设置于所述底座的上部；所述导向机构设置于所述基架；所述测试探针设置于所述测试压板；所述导杆与所述导向机构配合，所述导杆的下端连接所述测试压板，带着测试压板靠近或远离所述限位边框；所述测试探针经所述测试线与所述驱动主板连接。本技术的有益效果是：采用本测试治具直接对玻璃基板进行测试，及时发现不良品，避免进入后工序，减少物料的浪费。【IPC分类】G02F1/13, G09G3/00【公开号】CN204883107【申请号】CN201520651019【专利技术人】丁小刚 【申请人】深圳市中深光电有限公司【公开日】2015年12月16日【申请日】2015年8月26日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种玻璃基板的测试治具，其特征在于：包括底座、驱动主板、限位边框、基架、导向机构、测试压板、导杆、测试线和测试探针；所述驱动主板设置于所述底座的内部；所述限位边框与所述基架设置于所述底座的上部；所述导向机构设置于所述基架；所述测试探针设置于所述测试压板；所述导杆与所述导向机构配合，所述导杆的下端连接所述测试压板，带着测试压板靠近或远离所述限位边框；所述测试探针经所述测试线与所述驱动主板连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：丁小刚，
申请(专利权)人：深圳市中深光电有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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