集成电路测试机连接性检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种集成电路测试机连接性检测系统，包括接口电路，内部设置有多个连接测试机通道的测试电路，所述测试电路包括：保护电路，用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内；待测电路，用于接入连接性测试的标准二极管；开路比较电路，用于开路时的电压进行比较及信号灯显示；短路比较电路，用于短路时的电压比较及信号灯显示；导通比较电路，用于导通时的电压比较及信号灯显示，通过本发明专利技术可实现批量对集成电路的测试，测试更加灵活方便，可用于集成电路测试中。

The connectivity testing system of IC testing machine

【技术实现步骤摘要】
集成电路测试机连接性检测系统
本专利技术涉及一种集成电路，特别涉及一种集成电路测试机。
技术介绍
集成电路测试常用于芯片生产行业中，由于电信号连接通道涉及的硬件多，链路长，实际测试生产环节常发生在某节点连接性不佳的现象：轻微的不佳表现出整个通道的接触阻抗过高，会造成一定的测试误宰和良率损失;严重的不佳表现出整个通道发生开路，无法测得Pass结果；这对测试系统在产品的SETUP（架机）环节提出了很高的要求；只有良好稳定的SETUP品质，才能保证后续的生产顺利；现行业界的做法包括如下两步:1）使用原厂自带的Cal机板进行连结性确认，但Cal机板只能诊断Tester测试板卡层的问题，且耗时通常要30分钟以上，对于测试板卡到待测品这段中间连接电路无法检测；2）测试程式中增加DC/CR检测项目，但有时无法澄清是待测品本身异常，还是连接电路中的某段异常，量产程式中增加DC&CR项，也造成了测试时间的延长和成本的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种集成电路测试机连接性检测系统，使得集成电路测试更加灵活方便。本专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试机连接性检测系统，其特征在于，包括接口电路，内部设置有多个连接测试机通道的测试电路，所述测试电路包括：/n保护电路，用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内；/n待测电路，用于接入连接性测试的标准二极管；/n开路比较电路，用于开路时的电压进行比较及信号灯显示；/n短路比较电路，用于短路时的电压比较及信号灯显示；/n导通比较电路，用于导通时的电压比较及信号灯显示。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试机连接性检测系统，其特征在于，包括接口电路，内部设置有多个连接测试机通道的测试电路，所述测试电路包括：
保护电路，用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内；
待测电路，用于接入连接性测试的标准二极管；
开路比较电路，用于开路时的电压进行比较及信号灯显示；
短路比较电路，用于短路时的电压比较及信号灯显示；
导通比较电路，用于导通时的电压比较及信号灯显示。


2.根据权利要求1所述的集成电路测试机连接性检测系统统，其特征在于，所述开路比较电路、短路比较电路、导通比较电路选用四运算放大器LM324，其中比较放大器LM324-01用于开路比较电路，比较放大器LM324-02、比较放大器LM324-03用于导通比较电路，比较放大器LM324-04用于短路比较电路，四运算放大器LM324的正极接+5V电源，负极接地；
所述开路比较电路包括比较放大器LM324-01，所述比较放大器LM324-01的输入正极接待测电路，输入负极分三路，分别经电阻R1接地、接比较放大器LM324-02的输入正极、经第二电阻接+5V电源，所述比较放大器LM324-01的输出端接三极管Q1基极，三极管Q1的发射极经电阻R3、发光二极管LED1接+5V电源，三极管Q1的集电极接地；
所述导通比较电路包括比较放大器LM324-02、比较放大器LM324-03，所述比较放大器LM324-02的输入负极接待测电路，比较放大...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜伟伟，苏广峰，向俊武，周游，陈小跃，陈浩，
申请(专利权)人：安测半导体技术江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32