一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统技术方案

本申请提供了一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统，涉及芯片领域，方法包括：在芯片中设置至少2个PROM，向其中一个PROM中写入初始唯一ID，若初始唯一ID存在错误，则向其他PROM中的一个PROM中写入更新唯一ID，初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成；芯片出厂时，向剩余的PROM写入空白标识符；读取识别芯片的唯一ID时，读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID，提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号，对编号按先后顺序进行排序，根据编号对各唯一标识符进行排序，以最后一个唯一标识符作为芯片的唯一ID。解决了现有技术中芯片写入唯一ID的容错率低的技术问题。所有PROM均经过写入操作，内部数据不可再被篡改，保证了市场中该款芯片的唯一ID的唯一性。场中该款芯片的唯一ID的唯一性。场中该款芯片的唯一ID的唯一性。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统
[0001]在第1方面的一些实施方式中，PROM的数量为2个或3个。
[0002]在第1方面的一些实施方式中，读取识别芯片的唯一ID时，芯片的CPU先调取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID并将各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID临时保存至存储单元中，然后对存储单元中的初始唯一ID和更新唯一ID的编号进行排序，向与芯片连接的显示装置反馈最后一个编号，删除存储单元中临时保存的初始唯一ID和更新唯一ID。
[0003]在本申请的第2方面中，提供了一种芯片测试中写入唯一ID的系统，包括通过总线连接的：至少2个PROM，其中一个PROM用于写入初始唯一ID，其他PROM用于写入更新唯一ID；CPU和存储单元，存储单元中存储有计算机程序，计算机程序适于被CPU执行以实现如第1方面所述的芯片测试中写入唯一ID的方法，存储单元还用于临时保存初始唯一ID和更新唯一ID；读写接口，与外部读写装置连接，适于读取PROM中的数据或向PROM中写入数据。
[0004]在第2方面的一些实施方式中，还包括与总线连接的：EPROM，用于写入定位标识符。
[0005]在第2方面的一些实施方式中，PROM的数量为2个。
[0006]本申请具有如下有益效果：在向某个PROM中写入数据错误时，可以向其他PROM中写入新数据，例如初始唯一ID错误，则写入更新唯一ID，初始唯一ID和更新唯一ID由各自的编号区分，各编号能够按先后顺序进行排序，从而得到初始唯一ID和更新唯一ID的排序，将读取的初始唯一ID和所有更新唯一ID中的最后一个编号对应的唯一ID作为芯片的唯一ID，解决了现有技术中芯片写入唯一ID的容错率低的技术问题。空白标识符可以用原始数据进行覆盖，例如用高压写入信号为全部0的数据，芯片出厂后，所有PROM均经过写入操作，内部数据不可再被篡改，保证了市场中该款芯片的唯一ID的唯一性。


[0007]本申请涉及芯片
，尤其涉及一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统。

技术介绍

[0008]芯片是一种集成电路，或称微电路、微芯片、晶片，在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
[0009]为了便于外接设备识别安装有芯片的设备，通常在芯片中写入唯一标识（唯一ID），现有技术中的芯片中通常具有PROM（可编程只读存储器，既Programmable Red
‑
Only Memory），利用PROM的只允许写入一次数据的特性，防止对芯片的唯一ID进行篡改。
[0010]然而在数据写入是一旦发生错误就会导致整个芯片报废，写入唯一ID的容错率低。

技术实现思路

[0011]本申请提供一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统，用于解决现有技术中写入唯一ID的容错率低的技术问题。
[0012]在本申请的第1方面中，提供了一种芯片测试中写入唯一ID的方法，包括：在芯片中设置至少2个PROM，向其中一个PROM中写入初始唯一ID，若初始唯一ID存在错误，则向其他PROM中的一个PROM中写入更新唯一ID，初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成；芯片出厂时，向剩余的PROM写入空白标识符；读取识别芯片的唯一ID时，读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID，提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号，对编号按先后顺序进行排序，根据编号对各唯一标识符进行排序，以最后一个唯一标识符作为芯片的唯一ID。
[0013]在第1方面的一些实施方式中，所述编号为时序编号，时序编号具有唯一性。
[0014]在第1方面的一些实施方式中，将向PROM中写入唯一ID时的时间戳作为所述编号。
[0015]在第1方面的一些实施方式中，在芯片中设置一个EPROM，向EPROM中写入定位标识符，定位标识符与最后一个编号相同；读取芯片的唯一ID时，先读取EPROM中的定位标识符，然后读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID，以EPROM中的定位标识符为关键词在初始唯一ID和所有更新唯一ID中查找，若初始唯一ID中存在与定位标识符相同的初始唯一ID，则将初始唯一ID作为芯片的唯一ID，若更新唯一ID中存在与定位标识相同的更新唯一ID，则将更新唯一ID作为芯片的唯一ID。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本申请实施例中芯片测试中写入唯一ID的系统的结构示意图。
[0018]附图标记：100、PROM；200、EPROM；300、总线；400、CUP；500、读写接口；600、存储单元。
具体实施方式
[0019]下面结合附图和实施例对本申请的实施方式作进一步详细描述，本申请的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释，而非旨在限定本申请。
[0020]在现有技术中，EPROM是一种断电后仍能保留数据的计算机储存芯片——即非易失性的（非挥发性）。它是一组浮栅晶体管，被一个提供比电子电路中常用电压更高电压的电子器件分别编程。一旦编程完成后，EPROM只能用强紫外线照射来擦除。通过封装顶部能看见硅片的透明窗口，很容易识别EPROM，这个窗口同时用来进行紫外线擦除。可以将EPROM的玻璃窗对准阳光直射一段时间就可以擦除。PROM只允许写入一次，所以也被称为“一次”(One Time Progarmming ROM，OTP
‑
ROM)。PROM在出厂时，存储的内容全为1，用户可以根据需要将其中的某些单元写入数据0(部分的PROM在出厂时数据全为0，则用户可以将其中的部分单元写入1)，以实现对其“编程”的目的。PROM的典型产品是“双极性熔丝结构”，如果我们想改写某些单元，则可以给这些单元通以足够大的电流，并维持一定的时间，原先的熔丝
即可熔断，这样就达到了改写某些位的效果。现有技术中的芯片采用PROM写入唯一ID，在写入过程中存在错误率，当写入错误时，则需要将芯片作废处理，唯一ID的写入容错率低。
[0021]如图1所示，在本申请的实施例1中，提供了一种芯片测试中写入唯一ID的方法，包括：在芯片中设置至少2个PROM100，向其中一个PROM100中写入初始唯一ID，若初始唯一ID存在错误，则向其他PROM100中的一个PROM100中写入更新唯一ID，初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成；芯片出厂时，向剩余的PROM100写入空白标识符；读取识别芯片的唯一ID时，读取各PROM100中的初始唯一ID和更新唯一ID，提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号，对编号按先后顺序进行排序，根据编号对各唯一标识符进行排序，以最后一个唯一标本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试中写入唯一ID的方法，其特征在于，包括：在芯片中设置至少2个PROM，向其中一个PROM中写入初始唯一ID，若初始唯一ID存在错误，则向其他PROM中的一个PROM中写入更新唯一ID，初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成；芯片出厂时，向剩余的PROM写入空白标识符；读取识别芯片的唯一ID时，读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID，提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号，对编号按先后顺序进行排序，根据编号对各唯一标识符进行排序，以最后一个唯一标识符作为芯片的唯一ID。2.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法，其特征在于，所述编号为时序编号，时序编号具有唯一性。3.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法，其特征在于，将向PROM中写入唯一ID时的时间戳作为所述编号。4.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法，其特征在于，在芯片中设置一个EPROM，向EPROM中写入定位标识符，定位标识符与最后一个编号相同；读取芯片的唯一ID时，先读取EPROM中的定位标识符，然后读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID，以EPROM中的定位标识符为关键词在初始唯一ID和所有更新唯一ID中查找，若初始唯一ID中存在与定位标识符相同的初始唯一ID，则将初始唯一ID作为芯片的唯一ID，若更新唯一ID中存在与定位标识相同的更新唯一ID，则将更新唯一ID作为芯片的唯一ID。5.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法，其特征在于，向E...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏广峰，姜有伟，杨伟清，
申请(专利权)人：安测半导体技术江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：