【技术实现步骤摘要】
一种基于神经网络的晶圆测试检测方法
[0001]本申请涉及晶圆检测
,尤其涉及一种基于神经网络的晶圆测试检测方法。
技术介绍
[0002]芯片是各种技术的硬件基础,在芯片的制造过程中,每道工序流程对晶圆的处理都可能会产生一些缺陷,这些缺陷可能会造成芯片无法正常工作,如果依靠人工检测缺陷,效率低下。而随着芯片尺寸的不断减小,芯片制造工艺越来越复杂,晶圆缺陷的种类和数量也越来越多,所以需要在芯片制造过程中快速的检测晶圆缺陷,从而及时分析影响芯片良率的因素。
技术实现思路
[0003]本申请提供一种基于神经网络的晶圆测试检测方法,用于提高晶圆检测效率。
[0004]本申请提供了一种基于神经网络的晶圆测试检测方法,包括如下步骤:用扫描电镜对标准晶圆进行分层扫描,获得扫描标准图像a1、a2、
…
、a
n
并发送给计算机进行处理;用计算机对扫描标准图像进行组合化,使各扫描标准图像由左至右且由上至下依次并排布置,获得组合化标准图像a1、a2、
…
、a
jk
,其中jk=n;对组合化标准图像进行矩阵化,获得j行k列的矩阵化组合化标准图像a
11
、a
12
、
…
、a
jk
,其中jk=n;用扫描电镜对待测晶圆进行分层扫描,获得扫描待测图像b1、b2、
…
、b
n
并发送给计算机进行处理;用计算机对扫描待测图像进行组合化,使各扫描待测图像 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种基于神经网络的晶圆测试检测方法,其特征在于,包括如下步骤:用扫描电镜对标准晶圆进行分层扫描,获得扫描标准图像a1、a2、
…
、a
n
并发送给计算机进行处理;用计算机对扫描标准图像进行组合化,使各扫描标准图像由左至右且由上至下依次并排布置,获得组合化标准图像a1、a2、
…
、a
jk
,其中jk=n;对组合化标准图像进行矩阵化,获得j行k列的矩阵化组合化标准图像a
11
、a
12
、
…
、a
jk
,其中jk=n;用扫描电镜对待测晶圆进行分层扫描,获得扫描待测图像b1、b2、
…
、b
n
并发送给计算机进行处理;用计算机对扫描待测图像进行组合化,使各扫描待测图像由左至右且由上至下依次并排布置,获得组合化待测图像b1、b2、
…
、b
jk
,其中jk=n;对组合化待测图像进行矩阵化,获得j行k列的矩阵化组合化待测图像b
11
、b
12
、
…
、b
jk
,其中jk=n;用矩阵化组合化标准图像作为检测依据对矩阵化组合化待测图像进行检测,将矩阵化组合化待测图像与矩阵化组合化标准图像进行对比获得检测矩阵化组合化图像c
11
、c
12
、
…
、c
jk
,其中c
pq
包括a
pq
和b
pq
,1≤p≤j,1≤q≤k;对检测矩阵化组合化图像进行去矩阵化,使检测矩阵化组合化图像由左至右且由上至下依次并排布置,获得检测组合化图像c1、c2、
…
、c
jk
,其中c
i
包括a
i
和b
i
,1≤i≤jk;对检测组合化图像进行差异筛选,判断c
i
中的a
i
和b
i
是否存在差异,若存在差异则保留c
i
,否则删除c
i
,获得差异筛选组合化图像;对差异筛选组合化图像进行去组合化,使差异筛选组合化图像由上至下或由左至右并排布置,获得差异筛选图像;对差异筛选图像进行重组,使c
s
中的a
技术研发人员:苏广峰,杨伟清,
申请(专利权)人:安测半导体技术江苏有限公司,
类型:发明
国别省市:
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