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本申请提供了一种基于神经网络的晶圆测试检测方法，涉及晶圆检测领域，包括如下步骤：对标准晶圆进行分层扫描，获得扫描标准图像并发送给计算机进行处理，获矩阵化组合化标准图像；对待测晶圆进行分层扫描，获得扫描待测图像并处理获得矩阵化组合化待测图像；...
该专利属于安测半导体技术（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安测半导体技术（江苏）有限公司授权不得商用。

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