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本发明公开了一种集成电路测试机连接性检测系统，包括接口电路，内部设置有多个连接测试机通道的测试电路，所述测试电路包括：保护电路，用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内；待测电路，用于接入连接性测试的标准二极管；开路比较电路，用于开路时的...
该专利属于安测半导体技术(江苏)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安测半导体技术(江苏)有限公司授权不得商用。

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